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淼森波    芯片驗證測試 替代測試主要內(nèi)容  國產(chǎn)芯片替代測試  高速連接器 RJ45器件
高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標 高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標
更新時間:2026-01-06
芯片驗證測試 替代測試主要內(nèi)容 高速連接器 RJ45器件 國產(chǎn)芯片替代測試
芯片驗證測試 高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標 高速連接器 器件替代測試 替代測試主要內(nèi)容 替代測試主要指標
更新時間:2026-01-06
S參數(shù)測試意義 一致性測試   S參數(shù)測試 信號完整性測試 硬件測試
s參數(shù),即散射參數(shù)(scattering parameters),是用于描述電網(wǎng)(或電路)在電信號激勵下的行為的數(shù)學矩陣中的元素。在高頻(超過幾千兆赫茲)條件下,由于難以直接測量電壓和電流,s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同,主要在于s參數(shù)使用匹配負載來表征電網(wǎng),而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
更新時間:2026-01-06
S參數(shù)測試意義 示波器 一致性測試   S參數(shù)測試 信號完整性測試
s參數(shù),即散射參數(shù)(scattering parameters),是用于描述電網(wǎng)(或電路)在電信號激勵下的行為的數(shù)學矩陣中的元素。在高頻(超過幾千兆赫茲)條件下,由于難以直接測量電壓和電流,s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同,主要在于s參數(shù)使用匹配負載來表征電網(wǎng),而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
更新時間:2026-01-06
S參數(shù)測試意義  測試方案 一致性測試   S參數(shù)測試 信號完整性測試
s參數(shù),即散射參數(shù)(scattering parameters),是用于描述電網(wǎng)(或電路)在電信號激勵下的行為的數(shù)學矩陣中的元素。在高頻(超過幾千兆赫茲)條件下,由于難以直接測量電壓和電流,s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同,主要在于s參數(shù)使用匹配負載來表征電網(wǎng),而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
更新時間:2026-01-06
S參數(shù)測試意義  測試方案 一致性測試   S參數(shù)測試
s參數(shù),即散射參數(shù)(scattering parameters),是用于描述電網(wǎng)(或電路)在電信號激勵下的行為的數(shù)學矩陣中的元素。在高頻(超過幾千兆赫茲)條件下,由于難以直接測量電壓和電流,s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同,主要在于s參數(shù)使用匹配負載來表征電網(wǎng),而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
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S參數(shù)測試意義 S參數(shù)測試方案 一致性測試   S參數(shù)測試
s參數(shù),即散射參數(shù)(scattering parameters),是用于描述電網(wǎng)(或電路)在電信號激勵下的行為的數(shù)學矩陣中的元素。在高頻(超過幾千兆赫茲)條件下,由于難以直接測量電壓和電流,s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同,主要在于s參數(shù)使用匹配負載來表征電網(wǎng),而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
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S參數(shù)測試方法 淼森波 S參數(shù)測試方案 一致性測試   S參數(shù)測試
s參數(shù),即散射參數(shù)(scattering parameters),是用于描述電網(wǎng)(或電路)在電信號激勵下的行為的數(shù)學矩陣中的元素。在高頻(超過幾千兆赫茲)條件下,由于難以直接測量電壓和電流,s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同,主要在于s參數(shù)使用匹配負載來表征電網(wǎng),而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
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淼森波實驗室  S參數(shù)測試方法   S參數(shù)測試方案 一致性測試   S參數(shù)測試
s參數(shù),即散射參數(shù)(scattering parameters),是用于描述電網(wǎng)(或電路)在電信號激勵下的行為的數(shù)學矩陣中的元素。在高頻(超過幾千兆赫茲)條件下,由于難以直接測量電壓和電流,s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同,主要在于s參數(shù)使用匹配負載來表征電網(wǎng),而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
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淼森波實驗室  S參數(shù)測試方法   測試方案 一致性測試   S參數(shù)測試
s參數(shù),即散射參數(shù)(scattering parameters),是用于描述電網(wǎng)(或電路)在電信號激勵下的行為的數(shù)學矩陣中的元素。在高頻(超過幾千兆赫茲)條件下,由于難以直接測量電壓和電流,s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同,主要在于s參數(shù)使用匹配負載來表征電網(wǎng),而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
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淼森波實驗室  S參數(shù)測試方法   一致性測試   S參數(shù)測試
s參數(shù),即散射參數(shù)(scattering parameters),是用于描述電網(wǎng)(或電路)在電信號激勵下的行為的數(shù)學矩陣中的元素。在高頻(超過幾千兆赫茲)條件下,由于難以直接測量電壓和電流,s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同,主要在于s參數(shù)使用匹配負載來表征電網(wǎng),而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
更新時間:2026-01-06
淼森波實驗室   信號完整性測試   一致性測試   S參數(shù)測試
s參數(shù),即散射參數(shù)(scattering parameters),是用于描述電網(wǎng)(或電路)在電信號激勵下的行為的數(shù)學矩陣中的元素。在高頻(超過幾千兆赫茲)條件下,由于難以直接測量電壓和電流,s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同,主要在于s參數(shù)使用匹配負載來表征電網(wǎng),而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
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淼森波實驗室 一致性測試   S參數(shù)測試  信號完整性測試
s參數(shù),即散射參數(shù)(scattering parameters),是用于描述電網(wǎng)(或電路)在電信號激勵下的行為的數(shù)學矩陣中的元素。在高頻(超過幾千兆赫茲)條件下,由于難以直接測量電壓和電流,s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同,主要在于s參數(shù)使用匹配負載來表征電網(wǎng),而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
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淼森波實驗室    S參數(shù)測試  信號完整性測試 回損測試 插損測試
s參數(shù),即散射參數(shù)(scattering parameters),是用于描述電網(wǎng)(或電路)在電信號激勵下的行為的數(shù)學矩陣中的元素。在高頻(超過幾千兆赫茲)條件下,由于難以直接測量電壓和電流,s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同,主要在于s參數(shù)使用匹配負載來表征電網(wǎng),而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
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S參數(shù)測試 Misenbo  信號完整性測試 回損測試 插損測試
s參數(shù),即散射參數(shù)(scattering parameters),是用于描述電網(wǎng)(或電路)在電信號激勵下的行為的數(shù)學矩陣中的元素。在高頻(超過幾千兆赫茲)條件下,由于難以直接測量電壓和電流,s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同,主要在于s參數(shù)使用匹配負載來表征電網(wǎng),而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
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信號完整性測試 回損測試 插損測試 S參數(shù)測試 Misenbo
s參數(shù),即散射參數(shù)(scattering parameters),是用于描述電網(wǎng)(或電路)在電信號激勵下的行為的數(shù)學矩陣中的元素。在高頻(超過幾千兆赫茲)條件下,由于難以直接測量電壓和電流,s參數(shù)便用于描述電網(wǎng)端口之間功率波的輸入-輸出關(guān)系。它們與y參數(shù)、z參數(shù)和abcd參數(shù)等其他類型參數(shù)不同,主要在于s參數(shù)使用匹配負載來表征電網(wǎng),而其他參數(shù)則使用開路或短路終端。
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SI一致性測試  SI仿真 測試
信號完整性仿真 硬件測試的市場快訊,信號完整性測試和電源完整性測試,一致性測試服務,硬件測試培訓,主要內(nèi)容是電源上電時序、復位、時鐘、i2c、spi、flash、ddr、jtag接口、cpld接口測試、urat測試、網(wǎng)口測試、usb2.0/usb3.0測試、mipi測試、hdmi測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試等
更新時間:2026-01-06
SI仿真測試  SI 信號一致性測試 實驗室
信號完整性仿真 硬件測試的市場快訊,信號完整性測試和電源完整性測試,一致性測試服務,硬件測試培訓,主要內(nèi)容是電源上電時序、復位、時鐘、i2c、spi、flash、ddr、jtag接口、cpld接口測試、urat測試、網(wǎng)口測試、usb2.0/usb3.0測試、mipi測試、hdmi測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試等
更新時間:2026-01-06
SI 信號一致性測試 實驗室  SI仿真 測試
信號完整性仿真 硬件測試的市場快訊,信號完整性測試和電源完整性測試,一致性測試服務,硬件測試培訓,主要內(nèi)容是電源上電時序、復位、時鐘、i2c、spi、flash、ddr、jtag接口、cpld接口測試、urat測試、網(wǎng)口測試、usb2.0/usb3.0測試、mipi測試、hdmi測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試等
更新時間:2026-01-06
淼森波實驗室 SI一致性測試  SI仿真 測試
信號完整性仿真 硬件測試的市場快訊,信號完整性測試和電源完整性測試,一致性測試服務,硬件測試培訓,主要內(nèi)容是電源上電時序、復位、時鐘、i2c、spi、flash、ddr、jtag接口、cpld接口測試、urat測試、網(wǎng)口測試、usb2.0/usb3.0測試、mipi測試、hdmi測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試等
更新時間:2026-01-06
SI一致性測試 實驗室 完整性 SI仿真 測試
信號完整性仿真 硬件測試的市場快訊,信號完整性測試和電源完整性測試,一致性測試服務,硬件測試培訓,主要內(nèi)容是電源上電時序、復位、時鐘、i2c、spi、flash、ddr、jtag接口、cpld接口測試、urat測試、網(wǎng)口測試、usb2.0/usb3.0測試、mipi測試、hdmi測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試等
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淼森波硬件共享實驗室  SI一致性測試  SI仿真
信號完整性仿真 硬件測試的市場快訊,信號完整性測試和電源完整性測試,一致性測試服務,硬件測試培訓,主要內(nèi)容是電源上電時序、復位、時鐘、i2c、spi、flash、ddr、jtag接口、cpld接口測試、urat測試、網(wǎng)口測試、usb2.0/usb3.0測試、mipi測試、hdmi測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試等
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淼森波 SI一致性測試  SI仿真
信號完整性仿真 硬件測試的市場快訊,信號完整性測試和電源完整性測試,一致性測試服務,硬件測試培訓,主要內(nèi)容是電源上電時序、復位、時鐘、i2c、spi、flash、ddr、jtag接口、cpld接口測試、urat測試、網(wǎng)口測試、usb2.0/usb3.0測試、mipi測試、hdmi測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試等
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淼森波 SI一致性測試  完整性 SI仿真
信號完整性仿真 硬件測試的市場快訊,信號完整性測試和電源完整性測試,一致性測試服務,硬件測試培訓,主要內(nèi)容是電源上電時序、復位、時鐘、i2c、spi、flash、ddr、jtag接口、cpld接口測試、urat測試、網(wǎng)口測試、usb2.0/usb3.0測試、mipi測試、hdmi測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試等
更新時間:2026-01-06
淼森波 測試 SI一致性測試 完整性 SI仿真
信號完整性仿真 硬件測試的市場快訊,信號完整性測試和電源完整性測試,一致性測試服務,硬件測試培訓,主要內(nèi)容是電源上電時序、復位、時鐘、i2c、spi、flash、ddr、jtag接口、cpld接口測試、urat測試、網(wǎng)口測試、usb2.0/usb3.0測試、mipi測試、hdmi測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試等
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SI一致性測試 完整性 SI仿真 淼森波 測試
信號完整性仿真 硬件測試的市場快訊,信號完整性測試和電源完整性測試,一致性測試服務,硬件測試培訓,主要內(nèi)容是電源上電時序、復位、時鐘、i2c、spi、flash、ddr、jtag接口、cpld接口測試、urat測試、網(wǎng)口測試、usb2.0/usb3.0測試、mipi測試、hdmi測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試等
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SI一致性測試 完整性 SI仿真 測試
信號完整性仿真 硬件測試的市場快訊,信號完整性測試和電源完整性測試,一致性測試服務,硬件測試培訓,主要內(nèi)容是電源上電時序、復位、時鐘、i2c、spi、flash、ddr、jtag接口、cpld接口測試、urat測試、網(wǎng)口測試、usb2.0/usb3.0測試、mipi測試、hdmi測試、及板卡上其它芯片接口的信號測試等
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USB TYPEC 線S參數(shù)測試 回損測試 插損測試 信號完整性測試
usb type-c是一種通用串行總線(usb)的硬件接口形式,支持多種數(shù)據(jù)、電力和音視頻信號的傳輸。在進行usb type-c線纜的s參數(shù)測試時,主要包括插損測試、回損測試以及信號完整性測試。
更新時間:2026-01-06
USB TYPEC 線S參數(shù)測試 信號完整性測試  回損測試 插損測試
usb type-c是一種通用串行總線(usb)的硬件接口形式,支持多種數(shù)據(jù)、電力和音視頻信號的傳輸。在進行usb type-c線纜的s參數(shù)測試時,主要包括插損測試、回損測試以及信號完整性測試。
更新時間:2026-01-06
USB TYPEC 線S參數(shù)測試  回損測試 信號完整性測試  插損測試
usb type-c是一種通用串行總線(usb)的硬件接口形式,支持多種數(shù)據(jù)、電力和音視頻信號的傳輸。在進行usb type-c線纜的s參數(shù)測試時,主要包括插損測試、回損測試以及信號完整性測試。
更新時間:2026-01-06
USB TYPEC 線S參數(shù)測試 插損測試 信號完整性測試 回損測試
usb type-c是一種通用串行總線(usb)的硬件接口形式,支持多種數(shù)據(jù)、電力和音視頻信號的傳輸。在進行usb type-c線纜的s參數(shù)測試時,主要包括插損測試、回損測試以及信號完整性測試。
更新時間:2026-01-06
USB TYPEC 線S參數(shù)測試 信號完整性測試  插損測試 回損測試 Misenbo
usb type-c是一種通用串行總線(usb)的硬件接口形式,支持多種數(shù)據(jù)、電力和音視頻信號的傳輸。在進行usb type-c線纜的s參數(shù)測試時,主要包括插損測試、回損測試以及信號完整性測試。usb
更新時間:2026-01-06
USB TYPEC 線S參數(shù)測試 信號完整性測試  插損測試 回損測試
usb type-c是一種通用串行總線(usb)的硬件接口形式,支持多種數(shù)據(jù)、電力和音視頻信號的傳輸。在進行usb type-c線纜的s參數(shù)測試時,主要包括插損測試、回損測試以及信號完整性測試。
更新時間:2026-01-06
USB TYPEC 線S參數(shù)測試 插損測試 回損測試 信號完整性測試
usb type-c是一種通用串行總線(usb)的硬件接口形式,支持多種數(shù)據(jù)、電力和音視頻信號的傳輸。在進行usb type-c線纜的s參數(shù)測試時,主要包括插損測試、回損測試以及信號完整性測試。
更新時間:2026-01-06
USB TYPEC 線 插損測試 回損測試 S參數(shù)測試 Misenbo
usb type-c是一種通用串行總線(usb)的硬件接口形式,支持多種數(shù)據(jù)、電力和音視頻信號的傳輸。在進行usb type-c線纜的s參數(shù)測試時,主要包括插損測試、回損測試以及信號完整性測試。
更新時間:2026-01-06
USB TYPEC 線回損測試 S參數(shù)測試 插損測試 Misenbo
usb type-c是一種通用串行總線(usb)的硬件接口形式,支持多種數(shù)據(jù)、電力和音視頻信號的傳輸。在進行usb type-c線纜的s參數(shù)測試時,主要包括插損測試、回損測試以及信號完整性測試。
更新時間:2026-01-06
USB TYPEC 線S參數(shù)測試 回損測試 插損測試 Misenbo
usb type-c是一種通用串行總線(usb)的硬件接口形式,支持多種數(shù)據(jù)、電力和音視頻信號的傳輸。在進行usb type-c線纜的s參數(shù)測試時,主要包括插損測試、回損測試以及信號完整性測試。
更新時間:2026-01-06
USB TYPEC 線 回損測試 插損測試 S參數(shù)測試 Misenbo
usb type-c是一種通用串行總線(usb)的硬件接口形式,支持多種數(shù)據(jù)、電力和音視頻信號的傳輸。在進行usb type-c線纜的s參數(shù)測試時,主要包括插損測試、回損測試以及信號完整性測試。
更新時間:2026-01-06
USB TYPEC 線 回損測試 插損測試 S參數(shù)測試
usb type-c是一種通用串行總線(usb)的硬件接口形式,支持多種數(shù)據(jù)、電力和音視頻信號的傳輸。在進行usb type-c線纜的s參數(shù)測試時,主要包括插損測試、回損測試以及信號完整性測試。
更新時間:2026-01-06
USB TYPEC 線 插損測試 回損測試 S參數(shù)測試
usb type-c是一種通用串行總線(usb)的硬件接口形式,支持多種數(shù)據(jù)、電力和音視頻信號的傳輸。在進行usb type-c線纜的s參數(shù)測試時,主要包括插損測試、回損測試以及信號完整性測試。
更新時間:2026-01-06
USB TYPEC 線 插損測試 S參數(shù)測試 回損測試
usb type-c是一種通用串行總線(usb)的硬件接口形式,支持多種數(shù)據(jù)、電力和音視頻信號的傳輸。在進行usb type-c線纜的s參數(shù)測試時,主要包括插損測試、回損測試以及信號完整性測試。
更新時間:2026-01-06
USB TYPEC 線 回損測試 S參數(shù)測試 插損測試
usb type-c是一種通用串行總線(usb)的硬件接口形式,支持多種數(shù)據(jù)、電力和音視頻信號的傳輸。在進行usb type-c線纜的s參數(shù)測試時,主要包括插損測試、回損測試以及信號完整性測試。
更新時間:2026-01-06
USB TYPEC 線S參數(shù)測試 回損測試 插損測試
usb type-c是一種通用串行總線(usb)的硬件接口形式,支持多種數(shù)據(jù)、電力和音視頻信號的傳輸。在進行usb type-c線纜的s參數(shù)測試時,主要包括插損測試、回損測試以及信號完整性測試。
更新時間:2026-01-06
USB TYPEC 線S參數(shù)測試 插損測試 回損測試
usb type-c是一種通用串行總線(usb)的硬件接口形式,支持多種數(shù)據(jù)、電力和音視頻信號的傳輸。在進行usb type-c線纜的s參數(shù)測試時,主要包括插損測試、回損測試以及信號完整性測試。
更新時間:2026-01-06
USB TYPEC 線 信號完整性測試  S參數(shù)測試 插損測試 回損測試
usb type-c是一種通用串行總線(usb)的硬件接口形式,支持多種數(shù)據(jù)、電力和音視頻信號的傳輸。在進行usb type-c線纜的s參數(shù)測試時,主要包括插損測試、回損測試以及信號完整性測試。
更新時間:2026-01-06
USB TYPEC 線 信號完整性測試  插損測試 S參數(shù)測試 回損測試
usb type-c是一種通用串行總線(usb)的硬件接口形式,支持多種數(shù)據(jù)、電力和音視頻信號的傳輸。在進行usb type-c線纜的s參數(shù)測試時,主要包括插損測試、回損測試以及信號完整性測試。
更新時間:2026-01-06
USB TYPEC 線 回損測試 插損測試 信號完整性測試 S參數(shù)測試
usb type-c是一種通用串行總線(usb)的硬件接口形式,支持多種數(shù)據(jù)、電力和音視頻信號的傳輸。在進行usb type-c線纜的s參數(shù)測試時,主要包括插損測試、回損測試以及信號完整性測試。
更新時間:2026-01-06
USB 3.0_HDMI 1.4 眼圖量測技術(shù) HDMI物理層測試 HDMI完整性測試 HDMI眼圖測試 HDMI一致性
以太網(wǎng)一致性測試 以太網(wǎng)眼圖測試 以太網(wǎng)測試 以太網(wǎng)分析 以太網(wǎng)物理層測試 全方位解析usb 3.0測試方法 信號完整性測試 usb3.0物理層測試 usb3.0眼圖測試 usb3.0一致性測試 hdmi1.4/2.0信號完整性測試 hdmi一致性測試,眼圖測試,hdmi物理層測試,信號完整性測試si,電源完整性測試pi,以太網(wǎng)一致性測試、 usb2.0一致性測試、mipi一致性測試
更新時間:2026-01-06
DDR測試流程,以太網(wǎng)一致性測試,新聞頭條
目前主流的ddr2也有多種速度、多種容量和多種規(guī)格,從ddr-266的266mt/s、133mhz、2.5v電壓,已經(jīng)發(fā)展到了現(xiàn)在的ddr2-1066的1066mt/s、533mhz、1.8v電壓。另外,低能耗ddr(lp-ddr,用于便攜式計算機)和顯存gddr也是ddr的發(fā)展變化版本。
更新時間:2026-01-06
DDR專業(yè)測試,硬件測試服務,信號完整性分析,千兆以太網(wǎng)測試
目前主流的ddr2也有多種速度、多種容量和多種規(guī)格,從ddr-266的266mt/s、133mhz、2.5v電壓,已經(jīng)發(fā)展到了現(xiàn)在的ddr2-1066的1066mt/s、533mhz、1.8v電壓。另外,低能耗ddr(lp-ddr,用于便攜式計算機)和顯存gddr也是ddr的發(fā)展變化版本。
更新時間:2026-01-06

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