其他產(chǎn)品及廠家
ayi-usb2-at是阿儀網(wǎng)推出的高集成度自動(dòng)化測試平臺(tái)，專為usb2.0眼圖模板、抖動(dòng)及時(shí)序的驗(yàn)證而設(shè)計(jì)。系統(tǒng)采用模塊化硬件與智能軟件，一鍵執(zhí)行全項(xiàng)合規(guī)測試，自動(dòng)分離抖動(dòng)成分，測量時(shí)序參數(shù)，并生成符合usb-if格式的詳細(xì)診斷報(bào)告，極大提升認(rèn)證效率與問題定位精度。
更新時(shí)間:2026-01-09
uat-ec5000是業(yè)界針對usb3.0接收端受壓眼圖的智能校準(zhǔn)平臺(tái)，融合動(dòng)態(tài)基線補(bǔ)償、本底抖動(dòng)剝離、眼圖傾斜校正三大專利技術(shù)。系統(tǒng)通過ai驅(qū)動(dòng)的高精度信號(hào)重構(gòu)，在極端壓力下仍可保證眼高測量誤差<±1％，為汽車電子/工業(yè)級(jí)應(yīng)用提供可靠測試基準(zhǔn)。
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uat-8000是阿儀網(wǎng)推出的專業(yè)級(jí)usb3.0/3.1/3.2信號(hào)完整性測試平臺(tái)。系統(tǒng)集成了高性能示波器硬件與自動(dòng)化分析軟件，專為測量眼高、抖動(dòng)、時(shí)序等關(guān)鍵參數(shù)而優(yōu)化，提供從自動(dòng)化合規(guī)性測試到深度信號(hào)診斷的一站式解決方案，大幅提升研發(fā)驗(yàn)證與認(rèn)證測試效率。
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出租agilent usb3.0測試夾具u7242-26401
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mipi傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個(gè)聯(lián)盟，旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲(chǔ)接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化，減少兼容性問題并簡化設(shè)計(jì)。
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mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當(dāng)抖動(dòng)測量工具在條通道上只提供個(gè)眼圖。在通用測量中，這些工具只有6-8個(gè)測量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道，包括同時(shí)測量每條通道的眼圖。
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mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動(dòng)問題 重起問題
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硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動(dòng)問題
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mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng)
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mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)
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mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問題
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mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數(shù)據(jù)格式，加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時(shí)序：
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解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表，sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯(cuò)誤，可以檢查2-bit的錯(cuò)誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯(cuò)模式中支持。
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分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當(dāng)幀結(jié)束或者是個(gè)在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時(shí)，eof中斷就產(chǎn)生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯(cuò)的模式下使用，該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯(cuò)的時(shí)候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會(huì)產(chǎn)生
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解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個(gè)從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0，表示系統(tǒng)是小端，不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容，p0是個(gè)data,依次，p3是個(gè)data.
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mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設(shè)定為yuv模式，因此，csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù)，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。
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mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點(diǎn)多少，可以想象在相同的面積上，數(shù)量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質(zhì)量其實(shí)會(huì)變差，這個(gè)當(dāng)然可以理解，但是從大的方面來說，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會(huì)變好，這樣畫面就比像素低的更加的細(xì)膩，所以高像素的好處就在這里。
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mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。
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系統(tǒng)深度融合了多通道高精度同步測量、電源-信號(hào)頻譜智能關(guān)聯(lián)分析與pdn阻抗在環(huán)測試三大功能。它能同步捕獲phy芯片供電引腳上的真實(shí)噪聲與發(fā)送信號(hào)的眼圖/抖動(dòng)，并通過算法自動(dòng)關(guān)聯(lián)兩者的頻譜特征，一鍵生成因果分析報(bào)告。平臺(tái)還支持在不停機(jī)情況下評(píng)估去耦優(yōu)化效果，是快速因pdn問題導(dǎo)致的發(fā)送質(zhì)量差、鏈路降速等疑難雜癥的工具。
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希而科作為 frizlen 官方授權(quán)代理，直供德國原裝功率電阻器。frizlen 始于 1914 年，經(jīng)四代家族傳承，產(chǎn)品通過 iso 9001 與 iatf 16949 認(rèn)證，功率覆蓋 10w 至數(shù)百 kw，適配工業(yè)自動(dòng)化、新能源、軌道交通等多場景。依托希而科德國本土采購與拼單優(yōu)勢，提供 100％ 正品保障、穩(wěn)定貨期及全流程服務(wù)，涵蓋標(biāo)準(zhǔn)化產(chǎn)品與定制方案，助力設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)行。
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12.5mm試驗(yàn)探棒|ip20c試驗(yàn)探棒基本簡介：1、根據(jù)din40050等相應(yīng)條款制作而成。2、12.5mm試驗(yàn)探棒是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
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ipx56防噴水試驗(yàn)噴頭/ipx6強(qiáng)噴水試驗(yàn)裝置ipx5防噴水試驗(yàn)噴嘴一、 產(chǎn)品概述：防噴水試驗(yàn)裝置是依據(jù)gb4208的ipx5及ipx6、iec60529等標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)條款要求制作，用于對具有防噴水功能的器具或電器的防水性能進(jìn)行測試
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燈頭溫升試驗(yàn)鎳圈滿足gb/t24392-2009 和 iec60360：2002相關(guān)燈頭溫升測試標(biāo)準(zhǔn)要求制作而成。成分：ni純度99.6%以上的日本進(jìn)口純鎳；結(jié)構(gòu)和特性： 材料的晶粒應(yīng)精細(xì)且有規(guī)則結(jié)構(gòu)，晶粒度：zui小值為astm8(zui大不超過0.019
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深圳兒童試驗(yàn)彎指/19號(hào)試驗(yàn)探棒基本簡介：1、根據(jù)gb4706.1、iec61032-1997及 ul等相應(yīng)條款制作而成。2、19號(hào)兒童試驗(yàn)彎指（19號(hào)試驗(yàn)探棒）是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
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配電柜3c檢測用ip4x試具/ip40試驗(yàn)探針基本簡介： 1、根據(jù)gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及ul等相應(yīng)條款制作而成。2、d類試驗(yàn)探棒（d類試驗(yàn)針）是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
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ip10試驗(yàn)探棒/ip1x試驗(yàn)探球基本簡介：1、根據(jù)gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及ul等相應(yīng)條款制作而成。2、a類試驗(yàn)探棒（a類試驗(yàn)探球）是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
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彈簧沖擊器/ik碰撞能量試驗(yàn)裝置 基本簡介：1、根據(jù)iec60068-2-75、gb/t2423.55-2006、gb4706.1、gb8898和gb7000、 iec884及ul1244等相應(yīng)條款制作而成，主要用于檢驗(yàn)家用和類似電器產(chǎn)品的外殼、操作桿、手柄、旋鈕、指示燈等外殼承受機(jī)械沖擊的能。2、本沖擊器外殼采用鋁制作。
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插座保護(hù)門試驗(yàn)探針/1n試驗(yàn)探針基本簡介：1、根據(jù)gb2099.1-2008,gb8898-97及相關(guān) iec等相應(yīng)條款制作而成。2、試驗(yàn)探針是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
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標(biāo)試驗(yàn)指針銷gb4706.1試驗(yàn)指基本簡介：1、根據(jù)gb4706.1、gb2099.1及相關(guān) iec、 ul等相應(yīng)條款制作而成。2、標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)指針銷是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
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ul試驗(yàn)彎指ul鉸接試驗(yàn)指pa100a探棒基本簡介：1、根據(jù)ul1278、ul1026及ul507等相應(yīng)條款制作而成。2、ul試驗(yàn)彎指是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
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ipx34花灑式淋雨試驗(yàn)裝置ipx34手持式防淋水濺水試驗(yàn)裝置 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：符合 iec60529:2001《degrees of protection provided by enclosures(ip code)》、gb4208-2008《外殼防護(hù)等(ip 代碼)》14.2.3、14.2.4 條款與圖 5
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iec61032試驗(yàn)探棒gb4706.1全套試驗(yàn)指基本簡介：1、根據(jù)iec61032、gb4706.1、gb2099.1、 iec60695、ul等相應(yīng)條款制作而成。2、試驗(yàn)探棒是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
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bc302流動(dòng)測震儀;軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度是基于微處理器的手持式機(jī)器狀態(tài)檢測儀器，具有振動(dòng)測量和評(píng)價(jià)、軸承狀態(tài)檢測和評(píng)價(jià)功能。流動(dòng)測震儀振動(dòng)檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量，測量準(zhǔn)確測量速度≥1.5m/s,存 儲(chǔ)溫度-10℃~60℃, 用于振動(dòng)檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量，應(yīng)急救災(zāi)地完整配置.
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nfps-5000是阿儀網(wǎng)專為nand flash測試開發(fā)的精密測試平臺(tái)，集成四大測試模塊，提供從基礎(chǔ)測試到分析的全套解決方案。系統(tǒng)支持自動(dòng)化測試流程，大幅提升測試效率和準(zhǔn)確性。
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梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產(chǎn)品上留有碎渣） 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 儀器租賃
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emmc 上電時(shí)序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時(shí)，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導(dǎo)致貼片虛焊。
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emmc 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上，整個(gè)地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會(huì)引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時(shí)間:2026-01-09
emmc 控制信號(hào)測試 控制信號(hào)過沖測試 控制信號(hào)高低電平測試
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emmc 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試這是個(gè)典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結(jié)果大大改善。
更新時(shí)間:2026-01-09
emmc4 上電時(shí)序測試 電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導(dǎo)體通過個(gè)隔直電容連接被測的電源信號(hào)。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本，低衰減比，缺點(diǎn)是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時(shí)間:2026-01-09
相關(guān)產(chǎn)品：emmc5 , 上電時(shí)序測試 , 電源紋波測試 , 時(shí)鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
更新時(shí)間:2026-01-09
emmc4 , 復(fù)位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時(shí)鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時(shí)間:2026-01-09
emmc5 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時(shí)間:2026-01-09
emmc5 復(fù)位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實(shí)現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個(gè)階段idle state、ready state、identification state。
更新時(shí)間:2026-01-09
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常
更新時(shí)間:2026-01-09
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個(gè)設(shè)備，這兩個(gè)設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時(shí)間:2026-01-09
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處，但是pcie總線的各個(gè)層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報(bào)文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時(shí)間:2026-01-09
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時(shí)，pcie設(shè)備使用該信號(hào)向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時(shí)間:2026-01-09
最新產(chǎn)品
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- 上海祥樹供應(yīng)電磁式 32-07332B40備件 2026/1/9 23:25:46