其他產(chǎn)品及廠家
ptl溫升測(cè)試角，進(jìn)口測(cè)試角，ptl溫度測(cè)試角，p06系列測(cè)試角
更新時(shí)間:2026-01-06
出租agilent usb3.0測(cè)試夾具u7242-26401
更新時(shí)間:2026-01-06
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常
更新時(shí)間:2026-01-06
cie2.0 3.0 物理層致性測(cè)試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個(gè)設(shè)備，這兩個(gè)設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時(shí)間:2026-01-06
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處，但是pcie總線的各個(gè)層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報(bào)文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時(shí)間:2026-01-06
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測(cè)試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時(shí)，pcie設(shè)備使用該信號(hào)向處理器系統(tǒng)提交喚醒請(qǐng)求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時(shí)間:2026-01-06
pcie 初始化完成后會(huì)進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號(hào)質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時(shí)鐘問題
更新時(shí)間:2026-01-06
pcie2.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動(dòng)了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程，在天無時(shí)無刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當(dāng)然對(duì)業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。
更新時(shí)間:2026-01-06
pcie2.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試在個(gè)處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號(hào)線組成32對(duì)差分信號(hào)，其中16對(duì)petxx信號(hào)用于發(fā)送鏈路，另外16對(duì)perxx信號(hào)用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號(hào)。
更新時(shí)間:2026-01-06
pcie1.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試日益降低的信號(hào)幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號(hào)幅度越來越低，對(duì)整個(gè) 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對(duì)信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時(shí)間:2026-01-06
pcie1.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試ci總線定義了兩類配置請(qǐng)求，個(gè)是type00h配置請(qǐng)求，另個(gè)是type 01h配置請(qǐng)求。
更新時(shí)間:2026-01-06
pcie1.0x16 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r(shí)代，工程界已經(jīng)積累了很多實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗(yàn)分享中獲得很多有價(jià)值和 有助于自己設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，但是經(jīng)驗(yàn)并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設(shè)計(jì)需求。
更新時(shí)間:2026-01-06
pcie3.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試下面是個(gè) ddr3 設(shè)計(jì)的實(shí)際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí)，工程師會(huì)按照主芯片給的設(shè)計(jì)規(guī)范進(jìn)行設(shè)計(jì)。結(jié)合項(xiàng)目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號(hào)出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時(shí)間:2026-01-06
pcie3.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試deviceid和vendor id寄存器這兩個(gè)寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商，而device id代表這個(gè)廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時(shí)間:2026-01-06
pcie3.0x16 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試獲得的信號(hào)波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計(jì)改板后的測(cè)試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真，那么只能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)完成之后進(jìn)行測(cè)試才能發(fā)現(xiàn)問題，如果要改善， 只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會(huì)延遲產(chǎn)品上市時(shí)間并增加物料成本。
更新時(shí)間:2026-01-06
emmc 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試emmc 芯片下方在敷銅時(shí)，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導(dǎo)致貼片虛焊。
更新時(shí)間:2026-01-06
emmc 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試電源紋波測(cè)試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長(zhǎng)的鱷魚夾地線，而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上，整個(gè)地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會(huì)引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時(shí)間:2026-01-06
emmc 控制信號(hào)測(cè)試 控制信號(hào)過沖測(cè)試 控制信號(hào)高低電平測(cè)試
更新時(shí)間:2026-01-06
emmc 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試這是個(gè)典型的電源紋波測(cè)試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測(cè)試結(jié)果大大改善。
更新時(shí)間:2026-01-06
emmc4 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測(cè)電路地上，中心導(dǎo)體通過個(gè)隔直電容連接被測(cè)的電源信號(hào)。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本，低衰減比，缺點(diǎn)是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時(shí)間:2026-01-06
相關(guān)產(chǎn)品：emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
更新時(shí)間:2026-01-06
emmc4 , 復(fù)位測(cè)試 , clk測(cè)試 , dqs測(cè)試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時(shí)鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時(shí)間:2026-01-06
emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時(shí)間:2026-01-06
emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試mmc通過發(fā)cmd的方式來實(shí)現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個(gè)階段idle state、ready state、identification state。
更新時(shí)間:2026-01-06
emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc5 復(fù)位測(cè)試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會(huì)進(jìn)入該階段。
更新時(shí)間:2026-01-06
相關(guān)產(chǎn)品：電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 , emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試
更新時(shí)間:2026-01-06
相關(guān)產(chǎn)品：clk測(cè)試 , dqs測(cè)試 , emmc4 , 上電時(shí)序測(cè)試data strobe 時(shí)鐘信號(hào)由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號(hào)相同，用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號(hào)只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性，省去總線 tuning 過程。
更新時(shí)間:2026-01-06
相關(guān)產(chǎn)品：clk測(cè)試 , dqs測(cè)試 , emmc4 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試
更新時(shí)間:2026-01-06
電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試
更新時(shí)間:2026-01-06
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc5 上電時(shí)序測(cè)試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號(hào)保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí)，host 可以很方便檢測(cè)到該信號(hào)，并開始接收 response。
更新時(shí)間:2026-01-06
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc5 上電時(shí)序測(cè)試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號(hào)保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí)，host 可以很方便檢測(cè)到該信號(hào)，并開始接收 response。
更新時(shí)間:2026-01-06
clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc4 上電時(shí)序測(cè)試，眼圖測(cè)試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值，不包含 start bit。各個(gè) data line 上的 crc 為對(duì)應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值。
更新時(shí)間:2026-01-06
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試在 ddr 模式下，data line 在時(shí)鐘的上升沿和下降沿都會(huì)傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。
更新時(shí)間:2026-01-06
復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc4 上電時(shí)序測(cè)試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時(shí)，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測(cè)試過程（bus testing procedure），測(cè)試總線硬件上的連通性。
更新時(shí)間:2026-01-06
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產(chǎn)品上留有碎渣） 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 儀器租賃
更新時(shí)間:2026-01-06
nfps-5000是阿儀網(wǎng)專為nand flash測(cè)試開發(fā)的精密測(cè)試平臺(tái)，集成四大測(cè)試模塊，提供從基礎(chǔ)測(cè)試到分析的全套解決方案。系統(tǒng)支持自動(dòng)化測(cè)試流程，大幅提升測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。
更新時(shí)間:2026-01-06
用于檢測(cè)電力線路中絕緣子的污穢附著情況，可一次測(cè)量絕緣子鹽密度和灰密度，簡(jiǎn)化了絕緣子污穢檢測(cè)的流程，非常適合巡檢現(xiàn)場(chǎng)和實(shí)驗(yàn)室使用。電力線路中絕緣子的污穢程度主要通過鹽密度（esdd）和灰密度的（nsdd）來表征，同時(shí)具備測(cè)量鹽密度和灰密度的功能。內(nèi)置了常用溶液體積、絕緣子型號(hào)，方便用戶直接調(diào)用，絕緣子型號(hào)與表面積支持用戶自定義，增加數(shù)據(jù)保存功能，保存十萬組測(cè)試數(shù)據(jù)，本機(jī)查看數(shù)據(jù)，支持u盤導(dǎo)出數(shù)據(jù)，
更新時(shí)間:2026-01-06
sf6 綜合測(cè)試儀是集 sf6濕度、sf6純度、sf6 分解產(chǎn)物測(cè)試于一體，將原來要用三臺(tái)儀器才能實(shí)現(xiàn)的功能，集中在一臺(tái)儀器一次現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量，完成三項(xiàng)指標(biāo)檢測(cè)，節(jié)省了設(shè)備中的氣體，減少用戶的工作量.采用國(guó)外的傳感器；濕度采用純進(jìn)口高精度濕度傳感器、純度采用帶溫度補(bǔ)償?shù)臒釋?dǎo)傳感器，分解產(chǎn)物采用歐洲進(jìn)口的傳感器。彩色液晶顯示，實(shí)時(shí)顯示各種參數(shù)全程觸控，傻瓜式操作，海量信息存儲(chǔ)，內(nèi)置充電電池，交直流兩用。
更新時(shí)間:2026-01-06
精度高：采用精密高壓薄膜電容和精密高壓玻璃釉電阻，輸入阻抗高，降低了測(cè)試電流，功耗小，提高了儀器的測(cè)量精度和穩(wěn)定性。信號(hào)處理部分，采用高性能op進(jìn)行信號(hào)放大，運(yùn)用雙積分式 ad采樣技術(shù)，四位半液晶顯示，最高分辨率達(dá)到0.001kv，是高壓靜電電壓表的更新?lián)Q代產(chǎn)品。操作簡(jiǎn)單：采用撥碼開關(guān)切換高低壓、交直流，方便快捷。四位半液晶直接顯示測(cè)量結(jié)果，簡(jiǎn)單直觀。為現(xiàn)場(chǎng)的檢測(cè)工作帶來極大的便利。
更新時(shí)間:2026-01-06
我們不僅提供這款蘊(yùn)含核心自研技術(shù)的硬件，更提供其完整的s參數(shù)校準(zhǔn)文件，并使其與我們的自動(dòng)化測(cè)試軟件無縫對(duì)接。軟件可自動(dòng)加載校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，執(zhí)行“去嵌入”處理，呈現(xiàn)最真實(shí)的host發(fā)射機(jī)性能。本方案旨在為研發(fā)、認(rèn)證與生產(chǎn)環(huán)節(jié)建立一個(gè)從“信號(hào)接入”到“報(bào)告生成”都具備最高可信度與可重復(fù)性的“黃準(zhǔn)”測(cè)試流水線，是確保產(chǎn)品性能達(dá)標(biāo)、快速通過認(rèn)證的戰(zhàn)略性投資。
更新時(shí)間:2026-01-06
ayi-usb2-at是阿儀網(wǎng)推出的高集成度自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)，專為usb2.0眼圖模板、抖動(dòng)及時(shí)序的驗(yàn)證而設(shè)計(jì)。系統(tǒng)采用模塊化硬件與智能軟件，一鍵執(zhí)行全項(xiàng)合規(guī)測(cè)試，自動(dòng)分離抖動(dòng)成分，測(cè)量時(shí)序參數(shù)，并生成符合usb-if格式的詳細(xì)診斷報(bào)告，極大提升認(rèn)證效率與問題定位精度。
更新時(shí)間:2026-01-06
uat-ec5000是業(yè)界針對(duì)usb3.0接收端受壓眼圖的智能校準(zhǔn)平臺(tái)，融合動(dòng)態(tài)基線補(bǔ)償、本底抖動(dòng)剝離、眼圖傾斜校正三大專利技術(shù)。系統(tǒng)通過ai驅(qū)動(dòng)的高精度信號(hào)重構(gòu)，在極端壓力下仍可保證眼高測(cè)量誤差<±1％，為汽車電子/工業(yè)級(jí)應(yīng)用提供可靠測(cè)試基準(zhǔn)。
更新時(shí)間:2026-01-06
uat-8000是阿儀網(wǎng)推出的專業(yè)級(jí)usb3.0/3.1/3.2信號(hào)完整性測(cè)試平臺(tái)。系統(tǒng)集成了高性能示波器硬件與自動(dòng)化分析軟件，專為測(cè)量眼高、抖動(dòng)、時(shí)序等關(guān)鍵參數(shù)而優(yōu)化，提供從自動(dòng)化合規(guī)性測(cè)試到深度信號(hào)診斷的一站式解決方案，大幅提升研發(fā)驗(yàn)證與認(rèn)證測(cè)試效率。
更新時(shí)間:2026-01-06
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具，硬件測(cè)試，ddr測(cè)試，時(shí)序測(cè)試，紋波測(cè)試，抖動(dòng)測(cè)試
更新時(shí)間:2026-01-06
系統(tǒng)深度融合了多通道高精度同步測(cè)量、電源-信號(hào)頻譜智能關(guān)聯(lián)分析與pdn阻抗在環(huán)測(cè)試三大功能。它能同步捕獲phy芯片供電引腳上的真實(shí)噪聲與發(fā)送信號(hào)的眼圖/抖動(dòng)，并通過算法自動(dòng)關(guān)聯(lián)兩者的頻譜特征，一鍵生成因果分析報(bào)告。平臺(tái)還支持在不停機(jī)情況下評(píng)估去耦優(yōu)化效果，是快速因pdn問題導(dǎo)致的發(fā)送質(zhì)量差、鏈路降速等疑難雜癥的工具。
更新時(shí)間:2026-01-06
ats-msi 4000是阿儀網(wǎng)針對(duì)lpddr4及高速存儲(chǔ)器芯片推出的專業(yè)級(jí)信號(hào)完整性測(cè)試平臺(tái)。系統(tǒng)深度融合高精度眼圖分析、皮秒級(jí)時(shí)序測(cè)量與深度抖動(dòng)分解功能，提供從研發(fā)調(diào)試、預(yù)合規(guī)驗(yàn)證到失效分析的完整解決方案。其應(yīng)對(duì)低電壓、高速度的優(yōu)化設(shè)計(jì)，特別適合移動(dòng)設(shè)備、汽車電子等領(lǐng)域?qū)Υ鎯?chǔ)器接口的嚴(yán)苛驗(yàn)證需求。
更新時(shí)間:2026-01-06
lpdvt-4000是阿儀網(wǎng)專為lpddr4國(guó)產(chǎn)化替代設(shè)計(jì)的性能驗(yàn)證平臺(tái)，支持4266mbps高速測(cè)試，提供從基礎(chǔ)功能到可靠性的全流程驗(yàn)證方案，重點(diǎn)解決低電壓、高速度帶來的測(cè)試挑戰(zhàn)。
更新時(shí)間:2026-01-06
mipi傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個(gè)聯(lián)盟，旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲(chǔ)接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化，減少兼容性問題并簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2026-01-06
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試基于示波器的當(dāng)抖動(dòng)測(cè)量工具在條通道上只提供個(gè)眼圖。在通用測(cè)量中，這些工具只有6-8個(gè)測(cè)量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道，包括同時(shí)測(cè)量每條通道的眼圖。
更新時(shí)間:2026-01-06
最新產(chǎn)品
- 專業(yè)進(jìn)口渠道！希而科進(jìn)口Hoentzsch流量傳感器TA10 ... ZG1b 系列 2026/1/6 23:30:46
- 人芳香烴受體(AhR)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:56:11
- 人抗巨細(xì)胞病毒抗體IgM(anti-CMVIgM)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:55:44
- 人金葡菌腸毒素(SE)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:55:24
- 人1,3-βD葡葡糖苷酶(1,3-βD-Glu)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:54:42
- 人花生四烯酸5脂加氧酶(ALOX-5)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:54:31
- 人免疫核糖核酸(Irna)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:54:13
- 人超氧化物歧化酶(SOD)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:53:50
- 人磷酸葡萄糖變位酶(PGM)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:53:16
- 人肌球蛋白輕鏈(MLC)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:52:39
- 人心肌營(yíng)養(yǎng)素1(CT-1)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:52:29
- 人肽酰脯氨酰異構(gòu)酶(親環(huán)蛋白)樣1(PPIL1)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:52:08
- 人酸性磷酸酶(ACP)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:51:49
- 人顆粒酶A(Gzms-A)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:51:25
- 人T細(xì)胞特異性鳥苷三磷酸酶(Tgtp)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:50:43
- 人誘導(dǎo)型一氧化氮合成酶(iNOS)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:50:00
- 人尿激酶型纖溶酶原激活物(uPA)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:49:18
- 人多聚ADP核糖聚合酶(PARP)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:48:42
- 人靶向核糖核酸酶(TR)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:48:21
- 人26S蛋白酶體(26SPSM)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:47:51
- 人血管緊張素Ⅱ受體1(ANGⅡR-1)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:47:30
- 人類似RIKENcDNA2010109K09基因ELISAKIT2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:47:10
- 人胱天蛋白酶12(Casp-12)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:46:55
- 人肌球蛋白重鏈(MHC)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:46:39
- 人胃蛋白酶原C(PG-C)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:46:12
- 人葡萄糖氧化酶(GOD)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:45:48
- 人類似cDNA順序BC027382ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:45:33
- 人唾液酸(SA)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:44:51
- 人膠原酶II(CollagenaseII)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:44:35
- 人淋巴細(xì)胞抗原6復(fù)合物基因座A(Ly6a)ELISAKit2026科研試劑現(xiàn)貨 2026/1/6 20:44:14