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出租N2800A 16G 差分探頭 安捷倫Agilent N2800A  [租售]
出租n2800a 16g 差分探頭 安捷倫agilent n2800a
更新時間:2025-12-16
N2800A差分探頭 16G 差分探頭 安捷倫Agilent N2800A  [租售]
n2800a 16g 差分探頭 安捷倫agilent n2800a
更新時間:2025-12-16
N2832A 13G  差分探頭 安捷倫Agilent N2832A  差分探頭租賃  [租售]
n2832a 帶寬13 ghz (-3 db)tr = 33.4 ps (10-90%)n2832a 輸入范圍直流衰減比:10:1 或 5:1輸入電壓范圍:衰減比為 5:1 時,2.5 vpp 或 ± 1.25 v;衰減比為 10:1 時,5 vpp 或 ± 2.5 v輸入共模范圍:衰減比為 5:1 時,± 7 vdc(100
更新時間:2025-12-16
差分探頭N2832A 13G  安捷倫Agilent N2832A  差分探頭租賃  [租售]
n2832a 帶寬13 ghz (-3 db)tr = 33.4 ps (10-90%)n2832a 輸入范圍直流衰減比:10:1 或 5:1輸入電壓范圍:衰減比為 5:1 時,2.5 vpp 或 ± 1.25 v;衰減比為 10:1 時,5 vpp 或 ± 2.5 v輸入共模范圍:衰減比為 5:1 時,± 7 vdc(100
更新時間:2025-12-16
有源差分探頭出租  安捷倫Agilent N2832A  13G  差分探頭 [租售]
n2832a 帶寬13 ghz (-3 db)tr = 33.4 ps (10-90%)n2832a 輸入范圍直流衰減比:10:1 或 5:1輸入電壓范圍:衰減比為 5:1 時,2.5 vpp 或 ± 1.25 v;衰減比為 10:1 時,5 vpp 或 ± 2.5 v輸入共模范圍:衰減比為 5:1 時,± 7 vdc(100
更新時間:2025-12-16
1169A出租  安捷倫Agilent 1169A  12G  差分探頭 [租售]
主要特性與技術指標bandwidth:12 ghz specified 13 ghz typical range:dynamic range: 3.3 v peak-to-peak dc offset range: +/- 16v maximum voltage: +/- 30v input impedance:diffe
更新時間:2025-12-16
Agilent 1169A差分探頭  12G  差分探頭 [租售]
主要特性與技術指標bandwidth:12 ghz specified 13 ghz typical range:dynamic range: 3.3 v peak-to-peak dc offset range: +/- 16v maximum voltage: +/- 30v input impedance:diffe
更新時間:2025-12-16
1169A測試探頭  安捷倫Agilent 1169A  12G  差分探頭 [租售]
主要特性與技術指標bandwidth:12 ghz specified 13 ghz typical range:dynamic range: 3.3 v peak-to-peak dc offset range: +/- 16v maximum voltage: +/- 30v input impedance:diffe
更新時間:2025-12-16
示波器探頭  安捷倫Agilent 1169A  12G  差分探頭 [租售]
主要特性與技術指標bandwidth:12 ghz specified 13 ghz typical range:dynamic range: 3.3 v peak-to-peak dc offset range: +/- 16v maximum voltage: +/- 30v input impedance:diffe
更新時間:2025-12-16
16902B Agilent邏輯分析儀 儀器儀表租售 硬件測試服務
主要特性與技術指標靈活測量(配置)雙槽模塊化系統(tǒng) 主機/測量模塊兼容能力表支持定時/狀態(tài)分析儀和碼型發(fā)生器 測量模塊pci擴展槽:1個全尺寸擴展槽主機可單獨或聯(lián)網(wǎng)使用,進行復雜的多總線分析 e5861a多幀電纜用戶界面15英寸(38.1 cm)彩色觸摸屏,1024 x 768分辨率直觀的用戶界面和用戶熟悉的windows xp
更新時間:2025-12-16
邏輯分析儀16902B Agilent 儀器儀表租售 硬件測試服務
主要特性與技術指標靈活測量(配置)雙槽模塊化系統(tǒng) 主機/測量模塊兼容能力表支持定時/狀態(tài)分析儀和碼型發(fā)生器 測量模塊pci擴展槽:1個全尺寸擴展槽主機可單獨或聯(lián)網(wǎng)使用,進行復雜的多總線分析 e5861a多幀電纜用戶界面15英寸(38.1 cm)彩色觸摸屏,1024 x 768分辨率直觀的用戶界面和用戶熟悉的windows xp
更新時間:2025-12-16
安捷倫邏輯分析儀16902B Agilent 儀器儀表租售 硬件測試服務
主要特性與技術指標靈活測量(配置)雙槽模塊化系統(tǒng) 主機/測量模塊兼容能力表支持定時/狀態(tài)分析儀和碼型發(fā)生器 測量模塊pci擴展槽:1個全尺寸擴展槽主機可單獨或聯(lián)網(wǎng)使用,進行復雜的多總線分析 e5861a多幀電纜用戶界面15英寸(38.1 cm)彩色觸摸屏,1024 x 768分辨率直觀的用戶界面和用戶熟悉的windows xp
更新時間:2025-12-16
功率計N1911A 單通道功率計
主要特性與技術指標30 mhz視頻帶寬以100 msa/s的采樣率進行單次觸發(fā)實時捕獲關鍵測量參數(shù):―峰值、平均值、峰均比、上升時間、下降時間和脈沖寬度22種預定義制式:wimax、dme、hsdpa等。兼容 e932x 功率傳感器差分和比率數(shù)學函數(shù):(a-b、b-、a/b 和 b/a)
更新時間:2025-12-16
功率傳感器 功率計 原裝N1921A 寬帶功率傳感器 Agilent N1912A+N1921A 【租售】
功率傳感器 功率計 描述當與 n192xa 寬帶功率傳感器配合使用時,n1911/12a p 系列功率計可提供 50 mhz 至 40 ghz 的測量頻率范圍以及內部調零和校準功能。符合 lxi-c 類標準用于平均功率測量的平均觸發(fā)包括 usb、lan 和 gpib 標準的通用連通性高速互補累積分布函數(shù)(ccdf)統(tǒng)計分析兼容工業(yè)標準 8480 和 e 系列傳感器
更新時間:2025-12-16
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號質量一致性測試
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定,懷疑以下原因:- 高速串行信號質量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-12-16
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設備進入休眠狀態(tài),主電源已經(jīng)停止供電時,pcie設備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求,使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設備提供主電源vcc。
更新時間:2025-12-16
PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測試
pcie總線的層次組成結構與網(wǎng)絡中的層次結構有類似之處,但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結構中,數(shù)據(jù)報文先在設備的核心層(device core)中產(chǎn)生,然后再經(jīng)過該設備的事務層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer),終發(fā)送出去。
更新時間:2025-12-16
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同,pcie總線使用端到端的連接方式,在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備,這兩個設備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成,目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路,還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-12-16
PCIE2.0 3.0 驗證 調試和一致性測試解決方案
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常,memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2025-12-16
復位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試
復位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當 emmc device 處于 sdr 模式時,host 可以發(fā)送 cmd19 命令,觸發(fā)總線測試過程(bus testing procedure),測試總線硬件上的連通性。
更新時間:2025-12-16
數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下,data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù),其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) (byte 1,3,5...),下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)(byte 2,4,6 ...)。
更新時間:2025-12-16
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試,眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值,不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應 data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。
更新時間:2025-12-16
數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號保持高電平,當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時,host 可以很方便檢測到該信號,并開始接收 response。
更新時間:2025-12-16
控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試 EMMC 復位測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號保持高電平,當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時,host 可以很方便檢測到該信號,并開始接收 response。
更新時間:2025-12-16
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試
更新時間:2025-12-16
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試
相關產(chǎn)品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試 , 電源紋波測試
更新時間:2025-12-16
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試
相關產(chǎn)品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host,頻率與 clk 信號相同,用于 host 端進行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用,啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性,省去總線 tuning 過程。
更新時間:2025-12-16
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試
相關產(chǎn)品:電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時序測試
更新時間:2025-12-16
EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC5 復位測試
emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復位測試identification state,發(fā)送完 cid 后,emmc device就會進入該階段。
更新時間:2025-12-16
EMMC5 復位測試 CLK測試
emmc5 復位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
更新時間:2025-12-16
EMMC5 復位測試 CLK測試 DQS測試
emmc5 復位測試 clk測試 dqs測試包括card interface(cmd,data,clk)、memory core interface、總線接口控制(card interface controller)、電源控制、寄存器組。
更新時間:2025-12-16
EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試
emmc4 , 復位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內部集成了 flash controller,包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時間:2025-12-16
Emmc5 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
相關產(chǎn)品:emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試通俗的來說,emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標準接口封裝。
更新時間:2025-12-16
EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上,示波器設置為50歐姆輸入阻抗;電纜的另頭剝開,屏蔽層焊接在被測電路地上,中心導體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本,低衰減比,缺點是致性不好,隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時間:2025-12-16
EMMC 復位測試 CLK測試 DQS測試
emmc 復位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結果大大改善。
更新時間:2025-12-16
EMMC 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
emmc 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
更新時間:2025-12-16
EMMC 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
emmc 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關。先檢查了用戶探頭的連接方式,發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線,而且接地點夾在了單板的固定螺釘上,整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲,于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2025-12-16
EMMC 上電時序測試 電源紋波測試
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時,焊盤部分要增加敷銅禁布框,避免銅皮分布不均影響散熱,導致貼片虛焊。
更新時間:2025-12-16
MIPI眼圖 數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調試過程
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關的口進行接口匹配。
更新時間:2025-12-16
MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試 MIPI屏 初始化指令問題
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小,該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少,可以想象在相同的面積上,數(shù)量越多,感光元件肯定要越小,感光元件小,那么圖像的質量其實會變差,這個當然可以理解,但是從大的方面來說,只要鏡頭好,光源充足,那么效果也會變好,這樣畫面就比像素低的更加的細膩,所以高像素的好處就在這里。
更新時間:2025-12-16
MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660,輸出設定為yuv模式,因此,csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù),因此還需要通過軟件,將yuv的格式轉化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應的memory進行顯示輸出。
更新時間:2025-12-16
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調試過程 MIPI接口屏閃屏的測試
解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設置為0,表示系統(tǒng)是小端,不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內容,p0是個data,依次,p3是個data.
更新時間:2025-12-16
分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當幀結束或者是個在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時,eof中斷就產(chǎn)生了,eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用,該中斷當field 1 和field 2交錯的時候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會產(chǎn)生
更新時間:2025-12-16
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調試過程 MIPI接口屏閃屏的測試 分析與解決方法
解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表,sav和evav之間的保護數(shù)據(jù)是被編碼過的,使用這種方法,編碼器可以糾正1-bit錯誤,可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中,僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2025-12-16
MIPI攝像頭 MIPI眼圖測試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面,再回顧下數(shù)據(jù)格式,加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式:escape mode, high-speed (burst) mode and control mode,下面是從停止狀態(tài)進入相應模式需要的時序:
更新時間:2025-12-16
MIPI調試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅動 硬件工程師調試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題
mipi調試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動 硬件工程師調試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2025-12-16
MIPI調試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅動 硬件工程師調試MIPI屏經(jīng)驗
mipi調試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動 硬件工程師調試mipi屏經(jīng)驗
更新時間:2025-12-16
MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅動
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅動
更新時間:2025-12-16
硬件工程師調試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅動問題
硬件工程師調試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅動問題
更新時間:2025-12-16
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 MIPI傳輸過程中的信號質量問題 MIPI驅動問題 重起問題
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質量問題 mipi驅動問題 重起問題
更新時間:2025-12-16

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熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計(PH計) 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標準物質 生物試劑