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EMMC 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試

emmc 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結(jié)果大大改善。

更新時間:2025-12-16

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EMMC 控制信號測試控制信號過沖測試控制信號高低電平測試

emmc 控制信號測試控制信號過沖測試控制信號高低電平測試

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emmc 時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點夾在了單板的固定螺釘上，整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。

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EMMC 上電時序測試電源紋波測試

emmc 上電時序測試電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導(dǎo)致貼片虛焊。

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MIPI眼圖數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程

mipi眼圖數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測試與分析解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進行接口匹配。

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MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試 MIPI屏初始化指令問題

mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少，可以想象在相同的面積上，數(shù)量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質(zhì)量其實會變差，這個當然可以理解，但是從大的方面來說，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會變好，這樣畫面就比像素低的更加的細膩，所以高像素的好處就在這里。

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MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析解決MIPI屏黑屏問題

mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設(shè)定為yuv模式，因此，csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù)，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應(yīng)的memory進行顯示輸出。

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解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試

解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0，表示系統(tǒng)是小端，不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容，p0是個data,依次，p3是個data.

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分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試

分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當幀結(jié)束或者是個在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時，eof中斷就產(chǎn)生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用，該中斷當field 1 和field 2交錯的時候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會產(chǎn)生

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解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試分析與解決方法

解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表，sav和evav之間的保護數(shù)據(jù)是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯誤，可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯模式中支持。

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MIPI攝像頭 MIPI眼圖測試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決

mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數(shù)據(jù)格式，加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止狀態(tài)進入相應(yīng)模式需要的時序：

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MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題

mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題

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MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗

mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗

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MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動

mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動

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硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動問題

硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動問題

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MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試 MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 MIPI驅(qū)動問題重起問題

mipi接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動問題重起問題

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MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試

mipi接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試基于示波器的當抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中，這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道，包括同時測量每條通道的眼圖。

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MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題

mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個聯(lián)盟，旨在把手機內(nèi)部的接口如存儲接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標準化，減少兼容性問題并簡化設(shè)計。

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插上PCI-Express板子系統(tǒng)起不來故障問題分析

插上pci-express板子系統(tǒng)起不來故障問題分析 pcie wikipci express port bus driver support for linuxpcie driver development for exynos socdm81xx_am38xx_pci_express_e

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PCI-Express 顯卡信號質(zhì)量測試信號完整性測試

pci-express 顯卡信號質(zhì)量測試信號完整性測試。pci-express(peripheral component interconnect express)是種高速串行計算機擴展總線標準，它原來的名稱為“3gio”，是由英特爾在2001年提出的，旨在替代舊的pci，pci-x和agp總線標準。

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Pcie3.0x16 眼圖測試物理層一致性測試

pcie3.0x16 眼圖測試物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計改板后的測試結(jié)果與仿真致。如果不進行仿真，那么只能在產(chǎn)品設(shè)計完成之后進行測試才能發(fā)現(xiàn)問題，如果要改善，只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。

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Pcie3.0x8 眼圖測試物理層一致性測試

pcie3.0x8 眼圖測試物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商，而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。

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Pcie3.0x4 眼圖測試物理層一致性測試

pcie3.0x4 眼圖測試物理層致性測試下面是個 ddr3 設(shè)計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進行設(shè)計時，工程師會按照主芯片給的設(shè)計規(guī)范進行設(shè)計。結(jié)合項目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結(jié)構(gòu)， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。

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Pcie1.0x16 眼圖測試物理層一致性測試

pcie1.0x16 眼圖測試物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當?shù)臅r代，工程界已經(jīng)積累了很多實踐經(jīng)驗，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗分享中獲得很多有價值和有助于自己設(shè)計的經(jīng)驗，但是經(jīng)驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設(shè)計需求。

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Pcie1.0x8 眼圖測試物理層一致性測試

pcie1.0x8 眼圖測試物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。

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Pcie1.0x4 眼圖測試物理層一致性測試

pcie1.0x4 眼圖測試物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.

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pcie2.0x8 眼圖測試物理層一致性測試

pcie2.0x8 眼圖測試物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。

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pcie2.0x4 眼圖測試物理層一致性測試

pcie2.0x4 眼圖測試物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。

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E4419B功率計Misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 HP E4419B功率計儀器資訊

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 hp e4419b功率計儀器資訊

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Agilent N1911A功率計儀器資訊 Misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 agilent n1911a功率計儀器資訊

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N1912AAgilent安捷倫功率計N1912A 雙通道功率計硬件測試開放實驗室租賃銷售

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 agilent n1912a功率計儀器資訊

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Giga-tronics 8541C功率計儀器資訊 Misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 giga-tronics 8541c功率計儀器資訊

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功率計8652AMisenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 Giga-tronics 8652A功率計儀器資訊

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ATM-24000風速測試儀Misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 Degree control s/ATM-24000風速測試儀

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 degree control s/atm-24000風速測試儀

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chroma安規(guī)測試儀19032Misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 chroma Model:19032安規(guī)測試儀

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 chroma model:19032安規(guī)測試儀

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ESD測試儀Nemtest dito靜電放電模擬器，硬件測試，開放實驗室，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器儀器資訊

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7405ETS-LINDGREN近場探頭，硬件測試，開放實驗室，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭儀器資訊

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USB2.0出租Tektronix USB2.0測試夾具

出租tektronix usb2.0測試夾具

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U7242-26401出租Agilent安捷倫USB3.0測試夾具，硬件測試，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

出租agilent usb3.0測試夾具u7242-26401

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泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具

泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具，硬件測試，ddr測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

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Agilent Keysight 85033E校準件 E5071B網(wǎng)絡(luò)分析儀校準件

agilent keysight 85033e校準件 e5071b網(wǎng)絡(luò)分析儀校準件

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BC302流動測震儀

bc302流動測震儀;軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度是基于微處理器的手持式機器狀態(tài)檢測儀器，具有振動測量和評價、軸承狀態(tài)檢測和評價功能。流動測震儀振動檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量，測量準確測量速度≥1.5m/s,存儲溫度-10℃~60℃, 用于振動檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量，應(yīng)急救災(zāi)地完整配置.

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該公司產(chǎn)品分類：寶應(yīng)振動儀器廠

LPDDR4替代驗證系統(tǒng) LPDVT-4000

lpdvt-4000是阿儀網(wǎng)專為lpddr4國產(chǎn)化替代設(shè)計的性能驗證平臺，支持4266mbps高速測試，提供從基礎(chǔ)功能到可靠性的全流程驗證方案，重點解決低電壓、高速度帶來的測試挑戰(zhàn)。

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Nand Flash 眼圖測試，時序測試，抖動測試幅度測試操作細節(jié)

nfps-5000是阿儀網(wǎng)專為nand flash測試開發(fā)的精密測試平臺，集成四大測試模塊，提供從基礎(chǔ)測試到分析的全套解決方案。系統(tǒng)支持自動化測試流程，大幅提升測試效率和準確性。

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USB3.0 測試儀器選型、眼高測試儀器、時序測試設(shè)備、5Gbps 高速接口儀器、示波器選型、USB-IF 認證儀器配置

uat-8000是阿儀網(wǎng)推出的專業(yè)級usb3.0/3.1/3.2信號完整性測試平臺。系統(tǒng)集成了高性能示波器硬件與自動化分析軟件，專為測量眼高、抖動、時序等關(guān)鍵參數(shù)而優(yōu)化，提供從自動化合規(guī)性測試到深度信號診斷的一站式解決方案，大幅提升研發(fā)驗證與認證測試效率。

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USB3.0 接收端、受壓眼圖校準、眼高恢復(fù)、CTLE 均衡器校準、損耗模擬、順企網(wǎng)校準方案、USB-IF 受壓測試

uat-ec5000是業(yè)界針對usb3.0接收端受壓眼圖的智能校準平臺，融合動態(tài)基線補償、本底抖動剝離、眼圖傾斜校正三大專利技術(shù)。系統(tǒng)通過ai驅(qū)動的高精度信號重構(gòu)，在極端壓力下仍可保證眼高測量誤差<±1％，為汽車電子/工業(yè)級應(yīng)用提供可靠測試基準。

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USB2.0 眼圖測試模板、抖動校準、時序校準、USB2.0 信號完整性、眼圖模板合規(guī)性、高速接口抖動時序優(yōu)化

ayi-usb2-at是阿儀網(wǎng)推出的高集成度自動化測試平臺，專為usb2.0眼圖模板、抖動及時序的驗證而設(shè)計。系統(tǒng)采用模塊化硬件與智能軟件，一鍵執(zhí)行全項合規(guī)測試，自動分離抖動成分，測量時序參數(shù)，并生成符合usb-if格式的詳細診斷報告，極大提升認證效率與問題定位精度。

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LPDDR5 存儲器芯片測試，LPDDR5 眼圖測試，LPDDR5 時序抖動測試，JEDEC JESD209-5 合規(guī)測試，高速存儲器信號完整性測試

ats-msi 4000是阿儀網(wǎng)針對lpddr4及高速存儲器芯片推出的專業(yè)級信號完整性測試平臺。系統(tǒng)深度融合高精度眼圖分析、皮秒級時序測量與深度抖動分解功能，提供從研發(fā)調(diào)試、預(yù)合規(guī)驗證到失效分析的完整解決方案。其應(yīng)對低電壓、高速度的優(yōu)化設(shè)計，特別適合移動設(shè)備、汽車電子等領(lǐng)域?qū)Υ鎯ζ鹘涌诘膰揽硫炞C需求。

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安捷倫程控電源設(shè)置電流電壓的方法 DC電源直流電源租賃儀器儀表租賃硬件測試服務(wù)

儀器儀表租售服務(wù)主要儀器：示波器、信號發(fā)生器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、功率計、dc程控電源、esd測試儀、風速測試儀、安規(guī)測試儀、負載測試儀、近場測試儀、溫度測試儀等等。硬件測試服務(wù)① si信號完整性測試② pi電源完整性測試③ 接口一致性測試，主要有以太網(wǎng)、usb2.0、usb3.0、mipi、hdmi、sata、displ

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Agilent 6692A DC電源安捷倫程控電源怎么調(diào)節(jié)電壓大小程控電源租賃儀器儀表租賃硬件測試服務(wù)

儀器儀表租售服務(wù)主要儀器：示波器、信號發(fā)生器、邏輯分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、功率計、dc程控電源、esd測試儀、風速測試儀、安規(guī)測試儀、負載測試儀、近場測試儀、溫度測試儀等等。硬件測試服務(wù)① si信號完整性測試② pi電源完整性測試③ 接口一致性測試，主要有以太網(wǎng)、usb2.0、usb3.0、mipi、hdmi、sata、displ

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