納米壓（劃）痕儀產(chǎn)品及廠家

納米壓痕
imicro納米壓痕儀可輕松測量硬涂層，薄膜和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米測試等多種納米機(jī)械測試。 可互換的驅(qū)動(dòng)器能夠提供大動(dòng)態(tài)范圍的力荷載和位移，使研究人員能夠?qū)浘酆衔锏接操|(zhì)金屬和陶瓷等材料做出精確及可重復(fù)的測試。模塊化選項(xiàng)適用于各種應(yīng)用：材料性質(zhì)分布、特定頻率測試、刮擦和磨損測試以及高溫測試。
更新時(shí)間:2025-09-29
納米壓痕
nanoindenter g200x納米力學(xué)測試平臺(tái)，簡單易用，能夠快速準(zhǔn)確的提供各種定量的力學(xué)測試結(jié)果。g200x系統(tǒng)能夠輕松表征廣泛的材料力學(xué)性能，從硬質(zhì)涂層到超軟聚合物樣品，并針對(duì)不同應(yīng)用提供綜合全面的納米力學(xué)測試升選件和解決方案。
更新時(shí)間:2025-09-29
納米壓痕
inano®納米壓痕儀可輕松測量薄膜、涂層和少量材料。 該儀器準(zhǔn)確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米測試等多種納米機(jī)械測試。 該儀器的力荷載和位移測量動(dòng)態(tài)范圍很大，因而可以實(shí)現(xiàn)從軟聚合物到金屬材料的精確和可重復(fù)測試。 模塊化選項(xiàng)適用于各種應(yīng)用：材料性質(zhì)分布、特定頻率測試、刮擦和磨損以及高溫測試。
更新時(shí)間:2025-09-29
納米壓痕
nanoflip納米壓痕儀可在真空和常壓條件下對(duì)硬度、模量、屈服強(qiáng)度、剛度和其他納米力學(xué)測試進(jìn)行高精確度的測量。在掃描電子顯微鏡（sem）和聚焦離子束（fib）系統(tǒng)中，nanoflip在測試（例如柱壓縮）方面表現(xiàn)優(yōu)異，可以將sem圖像與機(jī)械測試數(shù)據(jù)同步。nanoflip測量迅速，這對(duì)于惰性環(huán)境（例如手套箱）中測試異質(zhì)材料很關(guān)鍵。系統(tǒng)所配置的可選套件，例如inforce50電磁驅(qū)動(dòng)器，可以提供定量結(jié)
更新時(shí)間:2025-09-29
納米壓痕
insem®ht（高溫）通過在真空環(huán)境中分別獨(dú)立加熱壓頭和樣品以測量高溫下的硬度、模量和剛度。 insem ht與掃描電子顯微鏡（sem）和聚焦離子束（fib）工作室，或獨(dú)立的真空工作室兼容。 配有的inview軟件可幫助高研究人員開發(fā)新的實(shí)驗(yàn)？
更新時(shí)間:2025-09-29
納米壓痕儀
nano indenter® g200系統(tǒng)為各種材料的表征和開發(fā)過程中進(jìn)行納米測量而設(shè)計(jì)。 該系統(tǒng)是一個(gè)完全可升，可擴(kuò)展且經(jīng)過生產(chǎn)驗(yàn)證的平臺(tái)，全自動(dòng)硬度測量可應(yīng)用于質(zhì)量控制和實(shí)驗(yàn)室環(huán)境。
更新時(shí)間:2025-09-29
探針式輪廓儀
tencor p-17支持從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測量，適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2d和3d測量，其掃描可達(dá)200mm而無需圖像拼接。
更新時(shí)間:2025-09-29

最新產(chǎn)品
熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)（PH計(jì)） 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑