測(cè)厚儀產(chǎn)品及廠家

能源電池鍍鎳厚度測(cè)試儀
能源電池鍍鎳厚度測(cè)試儀設(shè)計(jì)亮點(diǎn)上照式設(shè)計(jì),可適應(yīng)更多異型微小樣品的測(cè)試。全新的光路,*短的光程,相較傳統(tǒng)光路,信號(hào)采集效率提升2倍以上。
更新時(shí)間:2026-01-08
鍍金鍍錫檢測(cè)儀
鍍金鍍錫檢測(cè)儀上照式設(shè)計(jì),可適應(yīng)更多異型微小樣品的測(cè)試。全新的光路,*短的光程,相較傳統(tǒng)光路,信號(hào)采集效率提升2倍以上??勺兘垢呔珨z像頭,搭配距離補(bǔ)正系統(tǒng),不僅可適應(yīng)微小產(chǎn)品,同時(shí)也兼顧了臺(tái)階,深槽,沉孔樣品的測(cè)試需求。
更新時(shí)間:2026-01-08
XRF鍍層測(cè)試儀
xrf鍍層測(cè)試儀滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度
更新時(shí)間:2026-01-08
高精度國(guó)產(chǎn)膜厚儀 測(cè)試快,精度高,操作簡(jiǎn)單,電鍍測(cè)厚好幫手
國(guó)產(chǎn)膜厚儀每次開(kāi)機(jī)后,儀器都必須先預(yù)熱30分鐘,然后進(jìn)行初始化,方可進(jìn)行正常的檢測(cè)工作。測(cè)量不同類(lèi)型的樣品時(shí),需從程序欄中選擇其對(duì)應(yīng)的選項(xiàng),才能保證的測(cè)量效果。為使儀器能長(zhǎng)期保持工作正常,需定期對(duì)儀器的各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試,并進(jìn)行調(diào)整。
更新時(shí)間:2026-01-08
天瑞儀器Pcb板鍍金厚度檢測(cè)儀 線路板電鍍測(cè)厚儀
pcb板鍍金厚度檢測(cè)儀開(kāi)放式樣品腔。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。高低壓電源。x光管。高度傳感器
更新時(shí)間:2026-01-08
X射線膜厚儀
thick 8000x射線膜厚儀智能型自動(dòng)鍍層測(cè)厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn),門(mén)針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的款新型高端儀器,精密的三維移動(dòng)平臺(tái)、先進(jìn)的圖像識(shí)別,及大面積高分辨率的探測(cè)器,能夠完美的測(cè)出汽車(chē)涂層。
更新時(shí)間:2026-01-08
X射線無(wú)損光譜測(cè)厚儀
x射線無(wú)損光譜測(cè)厚儀thick800athick800a硬件技術(shù)● x射線下照式,激光對(duì)焦可調(diào)樣品倉(cāng),對(duì)于大件樣品、異形不平整樣品,無(wú)需拆分打磨,可直接測(cè)試● 模塊化準(zhǔn)直器,根據(jù)分析元素,配備不同材質(zhì)準(zhǔn)直器,從而降低準(zhǔn)直器對(duì)分析元素的影響,提高元素分辨率● *小光斑0.2mm,可針對(duì)各種樣品中的小測(cè)試點(diǎn)定位,避免材質(zhì)干擾,測(cè)量結(jié)果更準(zhǔn)確
更新時(shí)間:2026-01-08
鍍層X(jué)射線測(cè)厚儀
鍍層x射線測(cè)厚儀可視化操作大樣品腔 415(w)×374(d)×218(h)mm500萬(wàn)高清usb3.0變焦工業(yè)攝像頭任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
更新時(shí)間:2026-01-08
XRF高精度鍍層測(cè)量?jī)x
xrf高精度鍍層測(cè)量?jī)x,要從品質(zhì),價(jià)格,售后等總體來(lái)判斷,天瑞儀器是一家x光鍍層測(cè)厚儀生產(chǎn)廠家,分析儀器上市企業(yè),生產(chǎn)的thick800ax光鍍層測(cè)厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn),門(mén)研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款厚度測(cè)量?jī)x器,可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測(cè)試,由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn),以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的電鍍層測(cè)厚儀器,配上門(mén)為其開(kāi)發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手,得到客戶的廣泛認(rèn)知。
更新時(shí)間:2026-01-08
鋁鍍銅鍍鎳鍍錫測(cè)厚儀
鋁鍍銅鍍鎳鍍錫測(cè)厚儀針對(duì)不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測(cè)試點(diǎn)分析;軟件可分析5層25種元素鍍層;通過(guò)軟件操作樣品移動(dòng)平臺(tái),實(shí)現(xiàn)不同測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試需求;配置高分辨率si-pin半導(dǎo)體探測(cè)器,實(shí)現(xiàn)對(duì)多鍍層樣品的分析;內(nèi)置高清晰攝像頭,方便用戶觀測(cè)樣品狀態(tài);
更新時(shí)間:2026-01-08
鍍金測(cè)厚儀
thick800a鍍金測(cè)厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn),研發(fā)生產(chǎn)的用于鍍層行業(yè)的一款無(wú)損測(cè)試儀器,可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測(cè)試,由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn),以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器,配上為其開(kāi)發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中應(yīng)用廣泛。
更新時(shí)間:2026-01-08
鍍金鍍鎳膜厚儀
鍍金鍍鎳膜厚儀能量線性好能量分辨率高,分辨率在160±5ev時(shí)間響應(yīng)快,時(shí)間分辨好窗口材料薄靈敏區(qū)厚度可調(diào)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,體積小,重量輕對(duì)磁場(chǎng)不靈敏 鍍鎳膜厚儀參數(shù)規(guī)格
更新時(shí)間:2026-01-08
國(guó)產(chǎn)膜厚測(cè)試儀原廠
國(guó)產(chǎn)膜厚測(cè)試儀全新的光路系統(tǒng),大大減少了光斑的擴(kuò)散,實(shí)現(xiàn)了對(duì)*小產(chǎn)品的測(cè)試。搭配高分辨率可變焦攝像頭,配合**距離補(bǔ)正算法,實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品(如凹凸面,拱形,螺紋,曲面等)的異型測(cè)試面的測(cè)試。
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鋅鎳合金鍍層X(jué)射線無(wú)損測(cè)厚儀
鋅鎳合金鍍層x射線無(wú)損測(cè)厚儀edx 600 plus是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn),門(mén)研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行檢測(cè)。
更新時(shí)間:2026-01-08
鍍銀厚度測(cè)量?jī)x
鍍銀厚度測(cè)量?jī)x注意事項(xiàng)開(kāi)啟儀器電源開(kāi)關(guān)時(shí),動(dòng)作要慢、不可用力過(guò)猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí),要注意樣品的潔凈,不可使塵粒掉入其中,否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口,造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞;同時(shí),還要注意輕拿輕放(使用鑷子等器具取放樣品),以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。
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PCB鍍層厚度測(cè)試儀
pcb鍍層厚度測(cè)試儀采用進(jìn)口高分辨率的fast sdd探測(cè)器,高達(dá)140ev分辨率,能精準(zhǔn)地解析每個(gè)元素的特征信號(hào),針對(duì)復(fù)雜底材以及多層復(fù)雜鍍層,優(yōu)勢(shì)巨大。
更新時(shí)間:2026-01-08
國(guó)產(chǎn)X射線測(cè)厚儀
國(guó)產(chǎn)x射線測(cè)厚儀設(shè)計(jì)亮點(diǎn)全新的下照式設(shè)計(jì),一鍵式的按鈕,讓您的鼠標(biāo)鍵盤(pán)不再成為必須,大減少您擺放樣品的時(shí)間。全新的光路系統(tǒng),大大減少了光斑的擴(kuò)散,實(shí)現(xiàn)了對(duì)更小產(chǎn)品的測(cè)試。
更新時(shí)間:2026-01-08
鐵鍍銅鍍鎳鍍錫測(cè)厚儀
鐵鍍銅鍍鎳鍍錫測(cè)厚儀滿足不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求移動(dòng)平臺(tái)可測(cè)試點(diǎn)采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
更新時(shí)間:2026-01-08
鍍銅測(cè)厚儀
鍍銅測(cè)厚儀滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求電鍍膜厚光譜儀高移動(dòng)平臺(tái)可測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位小于0.005mm采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度
更新時(shí)間:2026-01-08
飾鍍層測(cè)厚儀
飾鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品介紹edx 600 plus鋅鎳層光譜測(cè)厚儀是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn),門(mén)研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行**檢測(cè)??蓮V泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空**、磁性材料、汽車(chē)行業(yè)、通訊行業(yè)等域。
更新時(shí)間:2026-01-08
鐵鍍鋅鎳合金測(cè)厚儀
鐵鍍鋅鎳合金測(cè)厚儀edx 600 plus是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn),門(mén)研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行檢測(cè)??蓮V泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車(chē)行業(yè)、通訊行業(yè)等域。
更新時(shí)間:2026-01-08
鍍金鍍銀鍍銅鍍鎳厚度測(cè)試儀
鍍金鍍銀鍍銅鍍鎳厚度測(cè)試儀全新的光路系統(tǒng),大大減少了光斑的擴(kuò)散,實(shí)現(xiàn)了對(duì)更小產(chǎn)品的測(cè)試。搭配高分辨率可變焦攝像頭,配合高性能距離補(bǔ)正算法,實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品(如凹凸面,拱形,螺紋,曲面等)的異型測(cè)試面的測(cè)試。
更新時(shí)間:2026-01-08
突破傳統(tǒng),XRF測(cè)厚儀帶你體驗(yàn)全新測(cè)量方式
全新的下照式設(shè)計(jì),一鍵式的按鈕,讓您的鼠標(biāo)鍵盤(pán)不再成為必須,大減少您擺放樣品的時(shí)間。全新的光路系統(tǒng),大大減少了光斑的擴(kuò)散,實(shí)現(xiàn)了對(duì)更小產(chǎn)品的測(cè)試。xrf測(cè)厚儀搭配高分辨率可變焦攝像頭,配合高性能距離補(bǔ)正算法,實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品(如凹凸面,拱形,螺紋,曲面等)的異型測(cè)試面的測(cè)試。
更新時(shí)間:2026-01-08
廣東化學(xué)鎳測(cè)厚儀
每次開(kāi)機(jī)后,儀器都必須先預(yù)熱30分鐘,然后進(jìn)行初始化,方可進(jìn)行正常的檢測(cè)工作。測(cè)量不同類(lèi)型的樣品時(shí),需從程序欄中選擇其對(duì)應(yīng)的選項(xiàng),才能保證的測(cè)量效果。為使儀器能長(zhǎng)期保持工作正常,需定期對(duì)儀器的各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試,并進(jìn)行調(diào)整。
更新時(shí)間:2026-01-08
自動(dòng)化鍍層厚度測(cè)試儀
自動(dòng)化鍍層厚度測(cè)試儀廣泛應(yīng)用于電子連接器企業(yè)、鋁合金鍍鋅、鍍鎳、鍍錫等企業(yè)、電鍍及電鍍加工企業(yè)、五金工具企業(yè)、印刷線路板企業(yè)、電子和半導(dǎo)體企業(yè),江蘇天瑞儀器股份有限公司,分析儀器上市企業(yè),完善的質(zhì)量體系和售后服務(wù)團(tuán)隊(duì),保證了用戶的使用和后期維護(hù)。
更新時(shí)間:2026-01-08
天瑞x-ray膜厚儀
天瑞x-ray膜厚儀軟件界面人性化的軟件界面,讓操作變得更加便捷。曲線的中文備注,讓您的操作更易上手。儀器硬件功能的實(shí)時(shí)監(jiān)控,讓您的使用更加放心。
更新時(shí)間:2026-01-08
鍍金厚度檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)儀
鍍金厚度檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)儀是門(mén)針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的款新型高端儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè)。
更新時(shí)間:2026-01-08
XRF鍍層膜厚測(cè)試儀
xrf鍍層膜厚測(cè)試儀測(cè)量線路板工業(yè)中 au/ni/cu/pcb 或 sn/cu/pcb中的鍍層電子行業(yè)中接插件和觸點(diǎn)上的鍍層裝飾性鍍層cr/ni/cu/abs電鍍鍍層,如大規(guī)模生產(chǎn)零件(螺栓和螺母)上的防腐蝕保護(hù)層zn/fe
更新時(shí)間:2026-01-08
熒光測(cè)厚儀 x-ray
在熒光測(cè)厚儀 x-ray的工作原理中,使用了x射線的特性。x射線是一種高能電磁波,它可以穿透物體,同時(shí)被物體內(nèi)的不同材質(zhì)吸收不同程度。熒光測(cè)厚儀 x-ray利用這一原理,通過(guò)測(cè)量x射線的透射和吸收情況,來(lái)推導(dǎo)出物體的厚度。在測(cè)量過(guò)程中,熒光測(cè)厚儀 x-ray結(jié)合了先進(jìn)的圖像采集和處理技術(shù)。
更新時(shí)間:2026-01-08
線路板厚度分析儀
線路板厚度分析儀是門(mén)針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的款新型高端儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè)。
更新時(shí)間:2026-01-08
天瑞儀器線路板鍍層測(cè)厚儀
天瑞儀器的線路板鍍層測(cè)厚儀擁有友好的軟件界面,操作變得更加簡(jiǎn)便和高效。請(qǐng)用中文對(duì)曲線進(jìn)行說(shuō)明,以使您的操作更加明了易懂。實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)設(shè)備的硬件性能,使您的使用更加放心。
更新時(shí)間:2026-01-08
金層x射線鍍層測(cè)厚儀
金層x射線鍍層測(cè)厚儀:thick800a測(cè)定步驟:步:新建snpb-cu鍍層厚度標(biāo)準(zhǔn)曲線第二步:確定測(cè)試時(shí)間:40s第三步:測(cè)試其重復(fù)性得出相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差
更新時(shí)間:2026-01-08
x射線金屬鍍層測(cè)厚儀
thick800ax射線金屬鍍層測(cè)厚儀是天瑞公司基于多年經(jīng)驗(yàn)研發(fā)的一款專(zhuān)用于鍍層行業(yè)的儀器。該儀器具備全自動(dòng)的軟件操作功能,能夠?qū)崿F(xiàn)多點(diǎn)測(cè)試,且測(cè)試點(diǎn)及移動(dòng)平臺(tái)均由軟件進(jìn)行控制。它是一款功能強(qiáng)大的設(shè)備,配合專(zhuān)門(mén)為其開(kāi)發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中大顯身手。
更新時(shí)間:2026-01-08
鍍銅鎳金厚度檢測(cè)儀
鍍銅鎳金厚度檢測(cè)儀搭配高分辨率可變焦攝像頭,配合**距離補(bǔ)正算法,實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品(如凹凸面,拱形,螺紋,曲面等)的異型測(cè)試面的**測(cè)試。硬件配置鍍銅鎳金檢測(cè)儀采用高分辨率的sdd探測(cè)器,分辨率高達(dá)140ev進(jìn)口的大功率高壓,讓ag,sn等鍍層的測(cè)量能*加穩(wěn)定。
更新時(shí)間:2026-01-08
X射線瑩光鍍層測(cè)厚儀
x射線瑩光鍍層測(cè)厚儀考慮各種各樣不一樣薄厚試品及其不規(guī)律表層試品的檢測(cè)要求高精密移動(dòng)應(yīng)用平臺(tái)可精確精準(zhǔn)定位測(cè)試用例,反復(fù)精度等低于0005毫米精準(zhǔn)定位激光器明確精準(zhǔn)定位光點(diǎn),保證測(cè)試用例與光點(diǎn)兩端對(duì)齊
更新時(shí)間:2026-01-08
鍍鋅量測(cè)厚儀
鍍銀厚度無(wú)損測(cè)試儀注意事項(xiàng)開(kāi)啟儀器電源開(kāi)關(guān)時(shí),動(dòng)作要慢、不可用力過(guò)猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí),要注意樣品的潔凈,不可使塵粒掉入其中,否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口,造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞;同時(shí),還要注意輕拿輕放(使用鑷子等器具取放樣品),以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。樣品蓋需要經(jīng)常用酒精棉球清潔。
更新時(shí)間:2026-01-08
X熒光測(cè)厚儀器
edx 2000ax熒光測(cè)厚儀器是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光膜厚測(cè)量技術(shù),門(mén)研發(fā)的一款上照式膜厚測(cè)試儀。相比于傳統(tǒng)的鍍層測(cè)厚設(shè)備,不僅在常規(guī)的傳統(tǒng)電鍍上表現(xiàn)*加優(yōu)異,*能很好地滿足半導(dǎo)體、芯片及pcb等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測(cè)試需求。
更新時(shí)間:2026-01-08
天瑞鍍層測(cè)厚儀-鍍層分析好幫手
天瑞鍍層測(cè)厚儀-鍍層分析好幫手開(kāi)放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和x光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時(shí)間:2026-01-08
天瑞原廠X-ray鍍層測(cè)厚儀THICK800A
天瑞原廠x-ray鍍層測(cè)厚儀thick800a移動(dòng)采樣平臺(tái),探測(cè)器和x射線管上下移動(dòng),實(shí)現(xiàn)3d移動(dòng)。該產(chǎn)品具有國(guó)際技術(shù)水平,x射線熒光光譜儀系列產(chǎn)品被公認(rèn)為國(guó)家重點(diǎn)新產(chǎn)品和江蘇省高新技術(shù)產(chǎn)品。厚800a是天瑞工廠的x射線涂層厚度計(jì),為客戶提供了更先進(jìn)的產(chǎn)品和更滿意的服務(wù),也為電子、電子、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、采礦、塑料、石油、化工、醫(yī)藥等行業(yè)提供了更完整的解決方案。
更新時(shí)間:2026-01-08
鍍金層膜厚XRF測(cè)厚儀 大功率提高測(cè)試效率 天瑞儀器
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè).鍍金層膜厚xrf測(cè)厚儀型號(hào):thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾(u)。同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以?xún)?nèi)(每種材料有所不同)
更新時(shí)間:2026-01-08
鍍金層厚度檢測(cè)機(jī)器上市公司
鍍金層厚度檢測(cè)機(jī)器上市公司是門(mén)針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的款新型高端儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè)。
更新時(shí)間:2026-01-08
PCB鎳厚測(cè)試儀
pcb鎳厚測(cè)試儀開(kāi)放式樣品腔。精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和x光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時(shí)間:2026-01-08
鍍銀銀層厚度測(cè)試儀
鍍銀銀層厚度測(cè)試儀注意事項(xiàng)開(kāi)啟儀器電源開(kāi)關(guān)時(shí),動(dòng)作要慢、不可用力過(guò)猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí),要注意樣品的潔凈,不可使塵粒掉入其中,否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口,造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞;同時(shí),還要注意輕拿輕放(使用鑷子等器具取放樣品),以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。
更新時(shí)間:2026-01-08
深圳金屬鍍層測(cè)厚儀 X光檢測(cè)鍍層測(cè)量?jī)x 檢測(cè)鍍錫鍍金鍍鎳厚度
光譜鍍金厚度分析儀是由江蘇天瑞儀器股份有限公司研發(fā)并生產(chǎn)xrf鍍層測(cè)厚儀。鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置是被測(cè)點(diǎn)高分辨率探頭
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銅鍍銀測(cè)厚儀器
銅鍍銀測(cè)厚儀器下照式設(shè)計(jì),一鍵式的按鈕,***減少擺放樣品時(shí)間。 ***的光路系統(tǒng),大大減少了光斑的擴(kuò)散,實(shí)現(xiàn)了對(duì)更小產(chǎn)品的測(cè)試。 搭配高分辨率可變焦攝像頭,配合***距離補(bǔ)正算法,實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品(如凹凸面,拱形,螺紋,曲面等)的異型測(cè)試面的***測(cè)試。
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線路板鍍金層測(cè)厚儀
線路板鍍金層測(cè)厚儀采用高分辨率的sdd探測(cè)器,分辨率高達(dá)140ev進(jìn)口的大功率高壓,讓ag,sn等鍍層的測(cè)量能更加穩(wěn)定。配備微聚焦的x光管,猶如給發(fā)動(dòng)機(jī)增加了渦輪增壓,讓數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性更上層樓。多種準(zhǔn)直器可搭配選擇:0.1*0.2mm;φ0.15mm;φ0.2mm;φ0.3mm。貼心打造出適合您的那一款。
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電鍍行業(yè)檢測(cè)儀器
電鍍行業(yè)檢測(cè)儀器edx 600 plus是天瑞儀器股份有限公司集多年x熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn),門(mén)研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行檢測(cè)。可廣泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車(chē)行業(yè)、通訊行業(yè)等域。
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飾金屬表面厚度測(cè)試儀
飾金屬表面厚度測(cè)試儀元素分析范圍從硫(s)到鈾(u)中間的任意金屬鍍層 可同時(shí)分析多達(dá)五層鍍層薄可測(cè)試0.005μm分析含量一般為2ppm到99.9% 鍍層厚度一般在50μm以?xún)?nèi)(每種材料有所不同)任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
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X光譜鍍層膜厚儀
性能特點(diǎn)x光譜鍍層膜厚儀滿足不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求移動(dòng)平臺(tái)可測(cè)試點(diǎn)采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
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鍍銀層厚度分析儀
鍍銀層厚度分析儀全新的光路系統(tǒng),大大減少了光斑的擴(kuò)散,實(shí)現(xiàn)了對(duì)較小產(chǎn)品的測(cè)試。搭配高分辨率可變焦攝像頭,配合高性能距離補(bǔ)正算法,實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品(如凹凸面,拱形,螺紋,曲面等)的異型測(cè)試面的測(cè)試。
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