原子力顯微鏡（AFM）產(chǎn)品及廠家

百及納米ParcanNano原子力顯微鏡（快捷型）
百及納米parcannano 高速原子力顯微鏡afm（快捷型），是公司開發(fā)的一款顛覆性的新型afm系統(tǒng)。它使用主動式智能針尖，集傳感器、驅(qū)動器和可功能化的針尖于一身，實現(xiàn)自激發(fā)和自傳感，無需復(fù)雜的激光校準(zhǔn)，是取代現(xiàn)有afm激光傳感的巨大改進。該系統(tǒng)可在大氣、液態(tài)及真空環(huán)境下實現(xiàn)對微納米結(jié)構(gòu)的高速、高效表征，成像精度達到0.2納米的限精度。
更新時間:2025-08-19
日本RIBM 超高速視頻級原子力顯微鏡
日本ribm hs-afm超高速視頻級原子力顯微鏡，突破了 “掃描成像速慢”的限制，掃描速度最高可達 20 frame/s，并且有 4 種掃描臺可供選擇。樣品無需特殊固定染色，不影響生物分子的活性，尤其適用于生物大分子互作動態(tài)觀測。液體環(huán)境下直接檢測，超快速動態(tài)成像，分辨率為納米水平。
更新時間:2025-08-19
納米紅外光譜成像顯微鏡
nanoir，納米紅外光譜成像顯微鏡，是基于原子力顯微鏡（afm）的紅外光譜儀器，能獲得10納米級別分辨率的紅外光譜，并能提供超高空間分辨率的紅外光譜采集和化學(xué)成分成像。
更新時間:2025-08-19
多功能原子力顯微鏡
afm+，多功能原子力顯微鏡，提供所有常規(guī)成像模式，可擴展多種性能分析。
更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
上海到錫林浩特物流有限公司
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更新時間:2025-08-19
上海到銀川搬家有限公司歡迎您？
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
布魯克Bruker（原veeco）生物AFm—Resolve
布魯克公司的bioscope resolve™生物原子力顯微鏡與倒置光學(xué)顯微鏡聯(lián)用，實現(xiàn)了高分辨的原子力顯微鏡成像和完整的細胞力學(xué)性質(zhì)測量。
更新時間:2025-08-15
布魯克Bruker（原veeco）大樣品臺高性價比AFM—-Edge
dimension® edge™ 原子力顯微鏡采用新技術(shù)， 其儀器性能、測試功能和操作性在同類產(chǎn)品中處于高水平。基于頂?shù)膁imension icon®平臺, dimension edge系統(tǒng)的整體設(shè)計使其 具有低漂移、低噪音的特點.
更新時間:2025-08-15
布魯克Bruker（原veeco）最高端AFm—Fastscan
dimension fastscantm原子力顯微鏡（atomic force microscope，afm），在不損失dimension  icon 超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術(shù)創(chuàng)新，從根本上解決了afm成像速度慢的難題，大大縮短了各技術(shù)水平的afm用戶獲得數(shù)據(jù)的時間。
更新時間:2025-08-15
布魯克Bruker（原veeco）性能AFm—Icon
dimension icon是dimension系列產(chǎn)品中的新款設(shè)備,它基于上應(yīng)用廣泛的afm平臺，集合了數(shù)十年的技術(shù)創(chuàng)新、行業(yè)內(nèi)先的應(yīng)用定制及客戶反饋等于一身。這個系統(tǒng)經(jīng)過從上到下的設(shè)計，在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表現(xiàn)。
更新時間:2025-08-15
布魯克Bruker（原veeco）高分辨率SPM-MultiMode8
multimode8-高分辨率spm，納米材料、高分子材料得力的科研助手1. 上高的分辨率2. 出眾的掃描能力3. 優(yōu)異的可操作性4. 非凡的靈活性與功能性5. 無限的應(yīng)用擴展性
更新時間:2025-08-15
輕敲模式常用探針TESPA-V2
一包10根高質(zhì)量硅蝕刻探針，用于tappingmode™和其他非接觸模式。bruker afm probes推出了其流行的tesp / tespa afm探針的改進版本。 布魯克的新系列tesp高品質(zhì)優(yōu)質(zhì)蝕刻硅探針為tappingmode™和空氣中的非接觸模式設(shè)定了行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
更新時間:2025-08-15
布魯克Bruker原子力顯微鏡探針AFM探針輕敲模式OLTESPA-R3
更易定位，更適合如按樣品。此型號為布魯克貼標(biāo)產(chǎn)品，同型號奧林巴斯omcl-ac240ts-r3 探針。懸臂共振頻率：70(50~90) khz（空氣中），彈性系數(shù)：2 n/m。針尖曲率半徑：7nm（典型值）al涂層。
更新時間:2025-08-15
透明晶圓缺陷掃描Lumina AT1
lumina at1可以在4分鐘內(nèi)完成150毫米晶圓的掃描，對于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內(nèi)含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半導(dǎo)體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨特的優(yōu)勢。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
更新時間:2025-08-15
透明晶圓缺陷掃描Lumina AT2
lumina at2可以在3分鐘內(nèi)完成300毫米晶圓的掃描，對于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內(nèi)含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半導(dǎo)體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨特的優(yōu)勢。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
更新時間:2025-08-15
透明晶圓缺陷掃描Lumina AT2-EFEM
lumina at2-efem可以在2分鐘內(nèi)完成300毫米晶圓的掃描，對于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內(nèi)含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半導(dǎo)體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨特的優(yōu)勢。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
更新時間:2025-08-15
Film sense薄膜厚度橢偏儀
film sense 多波長橢偏儀通過簡單的 1 測量，可以以高的精度和精度測定大多數(shù)透明薄膜的薄膜厚度和折射率并對許多樣品進行光學(xué)常數(shù) n&k 等薄膜性質(zhì)的測量。多波長橢偏儀提供了強大的薄膜測量功能售價只是單一波長橢偏儀和光譜橢偏儀的中等水平。film sense 偏儀非常適合在研究實驗室教室，現(xiàn)場處理室，工業(yè)質(zhì)量控制等等。
更新時間:2025-08-15
KLA探針式表面輪廓儀
kla是全球半導(dǎo)體在線檢測設(shè)備市場大的供應(yīng)商，在半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲、mems、 太陽能、光電子以及其他域中有著高的市占率。alpha-step" 探針式輪廓儀支持合階高度和粗度的2d及3d(d-600)輪廓掃描，以及翹曲度和應(yīng)力的2d測量。創(chuàng)新的光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。
更新時間:2025-08-15
KLA探針式表面輪廓儀P-7
kla是全球半導(dǎo)體在線檢測設(shè)備市場的供應(yīng)商，在半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲、mems、太陽能、光電子以及其他域中有著高的市占率。p-7是kla公司的第八代探針式臺階儀系統(tǒng)，歷經(jīng)技術(shù)積累和不斷迭代更新，集合眾多技術(shù)優(yōu)勢。p-7建立在市場先的p-17臺式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。它保持了p-17技術(shù)的卓越測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了高的性價比。p-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進
更新時間:2025-08-15
F50薄膜厚度均勻性測量儀
依靠f50先進的光譜測量系統(tǒng)，可以很簡單快速地獲得大直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ坐標(biāo)移動平臺，可以非常快速的定位所需測試的點并測試厚度，測試非？焖，大約每能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。f50系統(tǒng)配置高精度使用壽命長的移動平臺，確保能夠做成千上萬次測量。
更新時間:2025-08-15
Filmetrics F20 薄膜厚度測量儀
不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，f20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過usb連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)內(nèi)得到測量結(jié)果。基于某模塊化設(shè)計的特點，f20適用于各種應(yīng)用。
更新時間:2025-08-15
Zygo ZeGage ProHR桌面式光學(xué)輪廓測量儀
zygo zegage pro光學(xué)輪廓儀是用于3d形貌定量測試，和精密機械表面粗糙度檢測的理想非接觸式檢測工具。它工業(yè)化的設(shè)計提供快速，精確的測量方案，并且外形緊湊、性價比高，能夠放在生產(chǎn)車間工作，而不需要振動隔離和特殊的隔離裝置。同時交互式的控制軟件mx 提供了簡單而精細的圖形圖像來幫助你的加工處理。
更新時間:2025-08-15
Zygo NewView 9000 3D 光學(xué)輪廓儀
zygo newview 9000 3d 光學(xué)輪廓儀提供了強大的非接觸式光學(xué)表面分析的多功能性。它可以容易和快速地測量各種表面類型，包括光滑、粗糙、平坦、傾斜和階梯式的表面。所有的測量都是無損、快速、無需樣品制備的。系統(tǒng)的核心是 zygo 相干掃描干涉技術(shù)(csi)，提供了所有放大倍數(shù)下亞納米的精度，并且能夠快速測試各種樣品表面。
更新時間:2025-08-15
Dimension系列大樣品臺原子力顯微鏡
bruker dimension® icon™ 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米域的研究者帶來了全新的afm應(yīng)用體驗，其測試功能強大，操作簡便易行。仍然以上應(yīng)用廣泛的af
更新時間:2025-08-15
verifire激光干涉儀
zygo致力于保護您在verifire干涉儀的長壽命期間的投資。 在全球安裝了數(shù)千套系統(tǒng)，沒有其他計量公司接近zygo的產(chǎn)品質(zhì)量和客戶滿意度記錄。質(zhì)量多功能性和生產(chǎn)力大化您的投資zygo公司：光學(xué)計量的導(dǎo)者•我們保證verifire系統(tǒng)和組件作為完整解決方案的一部分，符合我們的iso 9001注冊設(shè)施
更新時間:2025-08-15
高性價比-多功能掃描探針顯微鏡（SPM）-原子力顯微鏡（AFM）
掃描探針顯微鏡(spm)平臺是為了在納米尺度研究樣品的表面性質(zhì)而設(shè)計的。它能夠讓我們在幾微米到幾個埃的尺寸下肉眼觀察并定量測量樣品的力學(xué)性質(zhì)（硬度，彈性，粘度），電學(xué)性質(zhì)（導(dǎo)電性，電容性，表面電荷分布）以及磁的性質(zhì)。solver 平臺擁有超過40 種測量方法，并且實現(xiàn)在大氣，氣氛控制以及液體環(huán)境下進行工作。
更新時間:2025-08-15
多功能掃描探針顯微鏡（SPM）-原子力顯微鏡（AFM）平臺
ntegra平臺是一個革命性的技術(shù)概念，在擁有所有spm技術(shù)：原子力/磁力/靜電力/表面電勢/導(dǎo)電原子/掃描電容/壓電力/納米刻蝕等功能的同時，還能配備近場光學(xué)顯微鏡/共聚焦拉曼/外加磁場/超聲原子力/納米壓痕等功能！。prima則是這個平臺中的基礎(chǔ)spm，可以在此基礎(chǔ)上根據(jù)科 研需求提供多達40 中spm 功能，其中的每種功能都有一套在其專業(yè)領(lǐng)域有著杰出表現(xiàn)的獨特配置。可選擇配備獨一無二的雙掃描結(jié)構(gòu)可以將掃描范圍擴展最大到200x200um。
更新時間:2025-08-15
掃描探針顯微鏡（SPM）-原子力顯微鏡（AFM）-近場光學(xué)顯微鏡（SNOM）--共聚焦拉曼光譜（Confocal Raman）聯(lián)用系統(tǒng)
ntegra spectra - afm / confocal raman & fluorescence / snom / ters 它將原子力顯微鏡、掃描近場光學(xué)顯微鏡，激光共聚焦顯微鏡、熒光光譜和拉曼光譜等各種分析手段完美地結(jié)合到一起。借助于針尖增強拉曼散射效應(yīng)（ters），其拉曼散射光譜和圖像測量的分辨率達到了50
更新時間:2025-08-15
NT-MDT Solver Next 原子力顯微鏡
在過去，你必須花費相當(dāng)長的一段時間并且具備相當(dāng)豐富的經(jīng)驗才能通過操作一臺掃描探針顯微鏡獲得好的實驗結(jié)果。 然而當(dāng)你選擇了solver next™之后，那些繁瑣的培訓(xùn)幾乎是不需要的。對，你沒有看錯！它是一臺任何人都能操作的spm!
更新時間:2025-08-15
nGauge 便攜式原子力顯微鏡
gauge原子力顯微鏡作為世界上第一臺單芯片（single-chip）afm，是加拿大滑鐵盧大學(xué)(darpa聯(lián)合項目)近十年的研發(fā)成果。single-chip技術(shù)通過cmosmems工藝將afm的所有組件（精細xyz運動和納米級感測）集成到單個1mm x 1 mm的芯片
更新時間:2025-08-15
NX10 高精度原子力顯微鏡
park nx10 為您帶來納米分辨率的數(shù)據(jù)，值得您信賴、使用和擁有。 在 smartscan auto 有的智能模式下，系統(tǒng)自動執(zhí)行所有必要的成像操作，同時智能選擇好的圖像質(zhì)量和掃描速度。這是通過park的技術(shù)才得以實現(xiàn)的。它不僅可以為您節(jié)省時間和金錢，還可以給您帶來優(yōu)質(zhì)的研究結(jié)果。
更新時間:2025-08-15
SPM-9700HT型原子力顯微鏡
spm-9700ht型原子力顯微鏡在基本觀察功能的基礎(chǔ)上融入了更強的測量功能，具備了卓越的信號處理能力，加上最先進的vbdf功能，數(shù)字處理能力比同類產(chǎn)品提高40%，可得到更高分辨率、更高質(zhì)量的觀察圖像。
更新時間:2025-08-15
納米檢測顯微鏡 LEXT OLS4500
納米檢測顯微鏡 lext ols4500大大縮短了獲取影像時間的同時保護了探針，并且不用擔(dān)心觀測目標(biāo)的丟失。另外，這種一體的革新設(shè)計可以實現(xiàn)對同一對象的多手段原位觀測，從而提高了對觀測結(jié)果分析解釋的準(zhǔn)確性和可信度！
更新時間:2025-08-15
SPM-8100FM型高分辨原子力顯微鏡
spm-8100fm型高分辨原子力顯微鏡極大提高了信號的靈敏度，是第一款可以在大氣環(huán)境下獲得與真空環(huán)境中同樣超高分辨率表面觀察圖像的產(chǎn)品，無論樣品種類（薄膜、晶體、半導(dǎo)體、有機材料），還是不同環(huán)境（大氣環(huán)境及溶液環(huán)境）。
更新時間:2025-08-15
全新發(fā)布的 afm-in-phenom xl 結(jié)合了掃描電子顯微鏡 (sem) 和原子力顯微鏡 (afm) 的優(yōu)勢，實現(xiàn)了在同一系統(tǒng)中對樣品進行多模態(tài)（sem 及 afm 形貌、元素、機械、電學(xué)、磁學(xué)）關(guān)聯(lián)分析。
更新時間:2025-08-13
AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)（通用版）
sem 與 afm 是亞納米樣品分析中應(yīng)用廣泛且互補的兩大技術(shù)。將 afm 集成至 sem 中可融合兩者的優(yōu)勢，實現(xiàn)超高效工作流程，完成傳統(tǒng) afm 和 sem 難以或無法實現(xiàn)的限性能和復(fù)雜樣品分析。
更新時間:2025-08-13
散射式近場光學(xué)顯微鏡
s-snom技術(shù)使用金屬鍍層的原子力（afm）探針針尖代替?zhèn)鹘y(tǒng)光纖探針來增強樣品的納米尺度區(qū)域的散射，散射信號可以在遠場被檢測到。而這些散射信號攜帶了樣品在金屬探針針尖下納米區(qū)域的復(fù)雜光學(xué)性質(zhì)。具體而言，這些散射光的信息包括光的振幅和相位，通過適當(dāng)?shù)哪Ｐ停@些測量可以估算出針尖下樣品納米尺度區(qū)域材料的光學(xué)常數(shù)（n，k）。在某些情況下，光學(xué)相位與波長還提供了個與同種材料常規(guī)吸收光譜近似的光譜信息
更新時間:2025-08-13
多功能原子力顯微鏡
工作模式：接觸模式、非接觸模式、敲擊模式標(biāo)準(zhǔn)模塊：相位、橫向力（摩擦）、力曲線、力調(diào)制、靜電力和磁力模塊選配模塊：導(dǎo)電力模式，表面電勢模塊
更新時間:2025-08-13
原子力顯微鏡
bruker原子力顯微鏡-dimension icon
更新時間:2025-08-13

最新產(chǎn)品

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機 酸度計（PH計） 離心機 高速離心機 冷凍離心機 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑