光學(xué)測(cè)量?jī)x產(chǎn)品及廠家

日本 柯尼卡美能達(dá)|CS-200 色彩亮度計(jì)
該系統(tǒng)是集成成像亮度計(jì)、暗箱、高精度運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)、系統(tǒng)檢測(cè)軟件、工控機(jī)為一體的自動(dòng)化檢測(cè)系統(tǒng),主要應(yīng)用于車載logo燈、發(fā)光字符的自動(dòng)化配光測(cè)試、缺陷檢測(cè)。
更新時(shí)間:2026-01-08
平鋪式OLED老化壽命自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)
該系統(tǒng)是集成亮度計(jì)、暗箱、高精度運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)、系統(tǒng)檢測(cè)軟件、多通道電源、ccd自動(dòng)對(duì)位、工控機(jī)為一體的自動(dòng)化檢測(cè)系統(tǒng),主要應(yīng)用于oled加速老化壽命測(cè)試。
更新時(shí)間:2026-01-08
zolix|車載HUD自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)
該系統(tǒng)是集成ar鏡頭、暗箱、高精度運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)、系統(tǒng)檢測(cè)軟件、投影機(jī)、工控機(jī)為一體的自動(dòng)化檢測(cè)系統(tǒng)該系統(tǒng),主要應(yīng)用于車載hud的質(zhì)檢和研發(fā)。
更新時(shí)間:2026-01-08
車載照明檢測(cè):氛圍燈模組多通道檢測(cè)校準(zhǔn)系統(tǒng)
氛圍燈模組多通道檢測(cè)校準(zhǔn)系統(tǒng)是集成積分球、暗箱、光纖光譜儀、系統(tǒng)檢測(cè)軟件、高精度運(yùn)動(dòng)模組、工控機(jī)為一體的自動(dòng)化檢測(cè)系統(tǒng),主要應(yīng)用于實(shí)驗(yàn)室或產(chǎn)線pcba模組拼板的校準(zhǔn)。
更新時(shí)間:2026-01-08
照明檢測(cè):氛圍燈模組光色檢測(cè)及校準(zhǔn)系統(tǒng)
該系統(tǒng)是集成積分球、暗箱、光纖光譜儀、系統(tǒng)檢測(cè)軟件、電腦為一體的自動(dòng)化檢測(cè)系統(tǒng),主要應(yīng)用于實(shí)驗(yàn)室、產(chǎn)線pcba模組光色參數(shù)的測(cè)量與校準(zhǔn)。
更新時(shí)間:2026-01-08
zolix|氛圍燈總成自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)
氛圍燈總成自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)集成暗室,成像亮度計(jì)、高精度模組、工控機(jī)、運(yùn)動(dòng)控制軟件為一體自動(dòng)化測(cè)量系統(tǒng),應(yīng)用于車載氛圍燈總成的配光分布,缺陷檢測(cè)。
更新時(shí)間:2026-01-08
zolix|汽車玻璃透反射測(cè)量系統(tǒng)
該系統(tǒng)是集成光譜儀、反射光源、透射光源、ccd、高精度模組、運(yùn)動(dòng)控制軟件為一體的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),應(yīng)用于車載玻璃的反射率,透過率測(cè)試及獲取相應(yīng)狀態(tài)下的色坐標(biāo)。
更新時(shí)間:2026-01-08
zolix汽車迎賓燈自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)
汽車迎賓燈自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)是集成成像亮度計(jì)、暗箱、高精度運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)、系統(tǒng)檢測(cè)軟件、工控機(jī)為一體的自動(dòng)化檢測(cè)系統(tǒng),主要應(yīng)用于車載迎賓燈總成的自動(dòng)化配光和缺陷檢測(cè)。
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光源近場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)
光源近場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)主要功能該設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)光源的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試,另外通過可選附件,可以拓展測(cè)試光源的近場(chǎng),多光譜raydata,bsdf等測(cè)試,實(shí)現(xiàn)一站式完全光源的全數(shù)據(jù)表征;
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Opsira醫(yī)用照明測(cè)試系統(tǒng)
更新時(shí)間:2026-01-08
BGA244雙組分氣體分析儀
更新時(shí)間:2026-01-08
InGaAs短波制冷紅外相機(jī)
psel公司使用的ingaas陣列短波紅外相機(jī),具有極低低暗電流和低缺陷像素?cái)?shù)。得益于高效的冷卻和穩(wěn)定的偏置基線,psel的短波紅外ingaas相機(jī)可以在swir光譜中進(jìn)行精確的計(jì)量測(cè)量。camera link和千兆以太網(wǎng)視覺兼容的界面接口使相機(jī)集成到客戶現(xiàn)有系統(tǒng)變得很容易。
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手持式光譜照度計(jì)Stellar-RAD
手持式光譜照度計(jì)stellar-rad的設(shè)計(jì)堅(jiān)固耐用,可以在測(cè)試進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)快速簡(jiǎn)便測(cè)量。與其他手持設(shè)備相比,stellar-rad特有的小于1nm的研究級(jí)光學(xué)器件光譜分辨率,使其成為市面上可靠的用于測(cè)試、現(xiàn)場(chǎng)演示、安裝、研發(fā)和質(zhì)量控制方面的設(shè)備。此外,其模塊化的設(shè)計(jì)可以使其與stellarnet的積分球及附件一起使用,可用于測(cè)量光源的總光通量等參數(shù)。
更新時(shí)間:2026-01-08
StellarNet太陽(yáng)光譜輻射測(cè)量系統(tǒng)
stellarnet太陽(yáng)光譜輻射測(cè)量系統(tǒng)具備對(duì)太陽(yáng)光譜300-1100nm波長(zhǎng)范圍的的特性測(cè)量(200-1700nm可選)。系統(tǒng)的核心部分是stellarnet的black-comet紫外增強(qiáng)凹面光柵光譜儀。solarrad采用usb提供即插即用連接,并配有光纖、余弦接收器和nist可溯源絕對(duì)輻照度校準(zhǔn),光譜分辨率優(yōu)于1.5nm。
更新時(shí)間:2026-01-08
手持式頻閃儀LabFlicker
手持式頻閃儀labflicker 可以作為一個(gè)獨(dú)立的設(shè)備使用,但與任何viso 產(chǎn)品一起使用時(shí),它的功能會(huì)更加強(qiáng)大,因?yàn)樗械墓舛葦?shù)據(jù)都可以無(wú)縫地導(dǎo)出到一個(gè)完整的報(bào)告中。這消除了將多個(gè)系統(tǒng)組合在一起以創(chuàng)建報(bào)告的復(fù)雜麻煩。
更新時(shí)間:2026-01-08
顯示模組壽命測(cè)試系統(tǒng)OLED
顯示模組壽命測(cè)試系統(tǒng)oled通過把亮度計(jì)搭載再由x、y、z 三個(gè)自動(dòng)運(yùn)動(dòng)直線模組構(gòu)成的運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上,實(shí)現(xiàn)在行程范圍內(nèi)任意點(diǎn)運(yùn)動(dòng)。在臺(tái)面上依次放置由信號(hào)發(fā)生器(pg)點(diǎn)亮的模組,通過亮度計(jì)依次采集亮度變化, 從而得到lifetime 數(shù)據(jù)。平鋪式模組壽命可搭載亮度計(jì)直接量測(cè)發(fā)光膜組的真實(shí)數(shù)值,在研發(fā)和過程數(shù)據(jù)評(píng)判工作中,可起到重要作用
更新時(shí)間:2026-01-08
臺(tái)灣UPRtek手持式植物照明光譜檢測(cè)儀PG200N
臺(tái)灣uprtek手持式植物照明光譜檢測(cè)儀pg200n優(yōu)先掌握植物生長(zhǎng)脈絡(luò)就能提前實(shí)現(xiàn)全天候高效生長(zhǎng)契機(jī)。新一代pg200n突破傳統(tǒng)光量子計(jì)聚焦于光源分析,以使用者體驗(yàn)為出發(fā)點(diǎn)擴(kuò)充軟硬體功能。
更新時(shí)間:2026-01-08
YY 9706.241-2020診斷用照明燈輻擊照度測(cè)試解決方案
無(wú)影燈光色測(cè)試儀是依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)yy 9706.241-2020醫(yī)用電氣設(shè)備 第2-41部分: 手術(shù)無(wú)影燈和診斷用照明燈的基本安全和基本性能用要求研發(fā)設(shè)計(jì)的。
更新時(shí)間:2026-01-08
紫外差分煙氣分析儀
gr-3028型紫外煙氣綜合分析儀(以下簡(jiǎn)稱分析儀)以紫外差分吸收光譜技術(shù)為核心的新型產(chǎn)品,主要用于排氣管道中有害氣體成分的測(cè)量,廣泛應(yīng)用于環(huán)境監(jiān)測(cè)以及熱工參數(shù)測(cè)量等部門。該分析儀性能指標(biāo)均符合國(guó)家環(huán)保局頒布的煙氣測(cè)試儀的有關(guān)規(guī)定。采用紫外差分吸收光譜技術(shù)和化學(xué)計(jì)量學(xué)算法測(cè)量so2/no/no2/o2/co/co2等氣體的濃度,不受煙氣中水蒸氣影響,具有較高
更新時(shí)間:2026-01-08
不分光紅外CO分析儀
不分光紅外co分析儀是我公司針對(duì)公共場(chǎng)所、工作場(chǎng)所的空氣中的有毒有害物質(zhì)進(jìn)行檢查的高精度儀器,儀器采用不分光紅外分析法/非分散紅外法(ndir)測(cè)量空氣中的壹氧化碳、二氧化碳濃等的濃度,具有測(cè)量精度高,使用壽命長(zhǎng),交叉干擾小等優(yōu)點(diǎn),是環(huán)境監(jiān)測(cè)域,職業(yè)衛(wèi)生監(jiān)測(cè)域的必備儀器
更新時(shí)間:2026-01-08
FPD-IG-25光學(xué)檢測(cè)器
fpd-ig-25 是一種快速光學(xué)檢測(cè)器,用于可視化和測(cè)量 900 nm 至 1700 nm 光譜范圍內(nèi)的激光束的時(shí)間特性。它有一個(gè) ingaas pin 光電二管,旨在將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào),然后使用示波器或頻譜分析儀等第三方測(cè)量?jī)x器進(jìn)行測(cè)量。fpd-ig-25 的上升時(shí)間為 25 皮。其反向偏置電壓由內(nèi)部電池提供。
更新時(shí)間:2026-01-08
半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái)
半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái)kup007,emp100c,emp100b,emp50s
更新時(shí)間:2026-01-08
德國(guó)Mecwins 掃描式激光分析儀
德國(guó)mecwins 掃描式激光分析儀scala,它是用激光入射掃描樣品表面,收集反射信號(hào)得到樣品表面的三維形貌和特征。
更新時(shí)間:2026-01-08
美國(guó)NANOVEA三維表面形貌儀
美國(guó)nanovea三維表面形貌儀hs1000型,是一款高速的三維形貌儀,最高掃描速度可達(dá)1m/s,采用國(guó)際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù),可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)試,具有測(cè)量精度高,速度快,重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn),該儀器可用于測(cè)量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場(chǎng)使用。
更新時(shí)間:2026-01-08
德國(guó)YXLON 高分辨率X射線檢測(cè)設(shè)備
德國(guó) yxlon 高分辨率x射線檢測(cè)設(shè)備 y.cougar smt 平板探測(cè)器(標(biāo)配) y.cheetah 高速平板探測(cè)器(標(biāo)配)
更新時(shí)間:2026-01-08
美國(guó)Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)
美國(guó)royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動(dòng)芯片分選系統(tǒng)
更新時(shí)間:2026-01-08
美國(guó)Royec半自動(dòng)型芯片拾取系統(tǒng)
美國(guó)royec半自動(dòng)型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面,側(cè)面檢測(cè),可選配芯片轉(zhuǎn)向功能.
更新時(shí)間:2026-01-08
美國(guó)RTI自動(dòng)特性圖示儀
美國(guó)rti自動(dòng)特性圖示儀 mt century curve tracer,是一個(gè)性價(jià)比較高的曲線追蹤設(shè)備。最多到96個(gè)channel,提供4種型號(hào)可供客戶選擇,mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性,功率和軟件。像其他rti機(jī)型一樣,mt century系統(tǒng)的設(shè)計(jì)有與950系列的測(cè)試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時(shí)間:2026-01-08
德國(guó)Klocke Nanotech  3D納米級(jí)三維測(cè)量?jī)x
德國(guó)klocke nanotech納米級(jí)三維測(cè)量?jī)x3d nanofinger,是一種實(shí)用的納米精度坐標(biāo)和形貌綜合測(cè)量設(shè)備。由臺(tái)架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測(cè)量樣品外形尺寸,表面輪廓、粗糙度等,并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合,進(jìn)行在線檢測(cè)、質(zhì)量控制等。
更新時(shí)間:2026-01-08
日本A&D粒子計(jì)數(shù)器(粒度計(jì))
日本a&d粒子計(jì)數(shù)器(粒度計(jì))sv-1a,是使用點(diǎn)監(jiān)測(cè)的低成本替代設(shè)備,計(jì)數(shù)值高達(dá)2,000,000個(gè)粒子/ft.
更新時(shí)間:2026-01-08
美國(guó)Filmetrics 薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)
美國(guó)filmetrics 薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)f20,f30,f40,f50,f60,f3-xxt 系列,臺(tái)式薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)
更新時(shí)間:2026-01-08
美國(guó) SONIX 超聲波掃描顯微鏡
美國(guó) sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動(dòng)超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求,更復(fù)雜元器件設(shè)計(jì)的新一代設(shè)備。echo pro™全自動(dòng)超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動(dòng)判別缺陷,高產(chǎn)量,無(wú)需人員重復(fù)設(shè)置.
更新時(shí)間:2026-01-08
德國(guó)Bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀
德國(guó)bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀ftir -利用紅外線光譜經(jīng)傅利葉轉(zhuǎn)換進(jìn)而分析雜質(zhì)濃度的光譜分析儀器。
更新時(shí)間:2026-01-08
德國(guó)Bruker FT-NIR光譜儀
德國(guó)bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經(jīng)在包括制藥,食品,農(nóng)業(yè)和化學(xué)行業(yè)在內(nèi)的所有行業(yè)的質(zhì)量控制應(yīng)用中得到了很好的應(yīng)用。它為耗時(shí)的濕法化學(xué)方法和色譜技術(shù)提供了一種實(shí)用的替代方法。ft-nir無(wú)破壞性,不需要樣品制備或危險(xiǎn)化學(xué)品,使其定量和定性分析快速可靠。
更新時(shí)間:2026-01-08
德Bruker光學(xué)輪廓儀
德bruker光學(xué)輪廓儀contorugt-表面量測(cè)系統(tǒng)-供生產(chǎn)qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學(xué)輪廓儀
更新時(shí)間:2026-01-08
德國(guó)Sentech 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀
sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀是一種新型的光學(xué)診斷工具,是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長(zhǎng)速率,厚度,折射率),在短時(shí)間內(nèi)開發(fā)新工藝、實(shí)時(shí)研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀的主要應(yīng)用。
更新時(shí)間:2026-01-08
美國(guó)OGP光學(xué)式坐標(biāo)測(cè)量?jī)x
美國(guó)ogp光學(xué)式坐標(biāo)測(cè)量?jī)x zip 250 ,5:1 accucentric 電動(dòng)變焦透鏡,在每次放大變倍時(shí)自動(dòng)校準(zhǔn),可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
更新時(shí)間:2026-01-08
接觸角測(cè)定儀
jy—pha接觸角測(cè)定儀,用于液體對(duì)固體的浸潤(rùn)性,通過測(cè)量液體對(duì)固體的接觸角、計(jì)算、測(cè)定液體對(duì)固體的附著力,張力及固體表面能等指標(biāo)。
更新時(shí)間:2026-01-08
接觸角測(cè)量?jī)x
100標(biāo)準(zhǔn)型接觸角測(cè)量?jī)x,采用高性能日本原裝進(jìn)口工業(yè)機(jī)芯,工業(yè)級(jí)連續(xù)變倍顯微鏡,確保圖像的真實(shí)性,獲取最佳的成像效果。
更新時(shí)間:2026-01-08
美Associated 耐壓測(cè)試儀​
美associated 耐壓測(cè)試儀​hypotmax 7710 ,是一款12 kvdc hipot測(cè)試儀,用于為電纜、電線、線束和電氣元件測(cè)試提供高直流輸出電壓。該產(chǎn)品非常易于使用,并為安全有效的測(cè)試提供了各種特性。它有專利smartgfi®操作,它還包括電荷lo®和斜坡嗨®系統(tǒng)。最后,該系統(tǒng)具有遠(yuǎn)程安全聯(lián)鎖和數(shù)控電弧檢測(cè)系統(tǒng)。
更新時(shí)間:2026-01-08
美Montana超精細(xì)多功能無(wú)液氦低溫光學(xué)恒溫器
montana 新型超精細(xì)多功能無(wú)液氦低溫光學(xué)恒溫器完全擺脫了液氦。完全閉循環(huán)的制冷系統(tǒng)只需要極少量的氦氣即可讓系統(tǒng)達(dá)到極限低溫。系統(tǒng)具有超快降溫、超低震動(dòng)和超高的溫度穩(wěn)定性。全自動(dòng)化的控制軟件,簡(jiǎn)化了用戶的操作流程。
更新時(shí)間:2026-01-08
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41b,可檢測(cè)光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.1um 的顆粒。
更新時(shí)間:2026-01-08
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f,寬廣的測(cè)試范圍,可測(cè)試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2026-01-08
美AZ太陽(yáng)能吸收率發(fā)射率測(cè)量?jī)x
美az 總輻射度/太陽(yáng)能吸收率(tesa)便攜式反射計(jì) tesa 2000,根據(jù)astm e408測(cè)定熱發(fā)射率和空氣質(zhì)量為零時(shí)的太陽(yáng)吸收率(空間應(yīng)用)。它緊湊,輕巧,堅(jiān)固耐用,符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì),便于在野外或?qū)嶒?yàn)室中使用。
更新時(shí)間:2026-01-08
日本RION氣體粒子計(jì)數(shù)器
日本rion氣體粒子計(jì)數(shù)器:kl-28b/28bf( 光散射法),粒徑范圍(2個(gè)通道):≥0.2μm, ≥0.5μm, 大粒子數(shù)濃度:1 200 顆/l (誤差值低于5%)
更新時(shí)間:2026-01-08
日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀:ks-16/16f ( 光散射法), 大粒子數(shù)濃度:1 200 顆/l (誤差值低于5%), 粒徑范圍(5個(gè)通道):≥0.1μm, ≥0.15μm , ≥0.2μm , ≥0.3μm, ≥0.5μm
更新時(shí)間:2026-01-08
日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀:ks-17b ( 光散射法),純水用,大粒子數(shù)濃度:100 000 顆/ml (誤差值低于5%),粒徑范圍(2個(gè)通道):≥0.05μm, ≥0.1μm (4通道需工廠定制)
更新時(shí)間:2026-01-08
日本理音RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本理音rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f,寬廣的測(cè)試范圍,可測(cè)試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2026-01-08
日本RION粒子計(jì)數(shù)器
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-24 ( 光散射法),液體粒子計(jì)數(shù)器,可檢測(cè)從純水到氫氟酸各種各樣的液體??蓽y(cè) 0.1um 空氣顆粒度儀kc-24
更新時(shí)間:2026-01-08
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41a ( 光阻用),可檢測(cè)光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.15um 的顆粒。粒徑范圍(4個(gè)通道,出廠默認(rèn)):≥0.15μm, ≥0.2μm , ≥0.3μm , ≥0.5μm
更新時(shí)間:2026-01-08

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