光學(xué)測(cè)量?jī)x產(chǎn)品及廠家

德Bruker光學(xué)輪廓儀
德bruker光學(xué)輪廓儀contorugt-表面量測(cè)系統(tǒng)-供生產(chǎn)qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學(xué)輪廓儀
更新時(shí)間:2026-01-06
德國(guó)Sentech 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀
sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀是一種新型的光學(xué)診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長(zhǎng)速率，厚度，折射率)，在短時(shí)間內(nèi)開發(fā)新工藝、實(shí)時(shí)研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀的主要應(yīng)用。
更新時(shí)間:2026-01-06
美國(guó)OGP光學(xué)式坐標(biāo)測(cè)量?jī)x
美國(guó)ogp光學(xué)式坐標(biāo)測(cè)量?jī)x zip 250 ，5:1 accucentric 電動(dòng)變焦透鏡，在每次放大變倍時(shí)自動(dòng)校準(zhǔn)，可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
更新時(shí)間:2026-01-06
接觸角測(cè)定儀
jy—pha接觸角測(cè)定儀，用于液體對(duì)固體的浸潤(rùn)性，通過測(cè)量液體對(duì)固體的接觸角、計(jì)算、測(cè)定液體對(duì)固體的附著力，張力及固體表面能等指標(biāo)。
更新時(shí)間:2026-01-06
接觸角測(cè)量?jī)x
100標(biāo)準(zhǔn)型接觸角測(cè)量?jī)x，采用高性能日本原裝進(jìn)口工業(yè)機(jī)芯，工業(yè)級(jí)連續(xù)變倍顯微鏡，確保圖像的真實(shí)性，獲取最佳的成像效果。
更新時(shí)間:2026-01-06
美Associated 耐壓測(cè)試儀​
美associated 耐壓測(cè)試儀​hypotmax 7710 ，是一款12 kvdc hipot測(cè)試儀，用于為電纜、電線、線束和電氣元件測(cè)試提供高直流輸出電壓。該產(chǎn)品非常易于使用，并為安全有效的測(cè)試提供了各種特性。它有專利smartgfi®操作,它還包括電荷lo®和斜坡嗨®系統(tǒng)。最后，該系統(tǒng)具有遠(yuǎn)程安全聯(lián)鎖和數(shù)控電弧檢測(cè)系統(tǒng)。
更新時(shí)間:2026-01-06
美Montana超精細(xì)多功能無液氦低溫光學(xué)恒溫器
montana 新型超精細(xì)多功能無液氦低溫光學(xué)恒溫器完全擺脫了液氦。完全閉循環(huán)的制冷系統(tǒng)只需要極少量的氦氣即可讓系統(tǒng)達(dá)到極限低溫。系統(tǒng)具有超快降溫、超低震動(dòng)和超高的溫度穩(wěn)定性。全自動(dòng)化的控制軟件，簡(jiǎn)化了用戶的操作流程。
更新時(shí)間:2026-01-06
德國(guó)Attocube磁共振顯微鏡/低溫強(qiáng)磁場(chǎng)磁共振顯微鏡
德國(guó)attocube磁共振顯微鏡/低溫強(qiáng)磁場(chǎng)磁共振顯微鏡attocsfm,完美集成了由完全無磁性材料制備的高數(shù)值孔徑（na）共聚焦顯微鏡與原子力顯微鏡來滿足odmr實(shí)驗(yàn)的需求。
更新時(shí)間:2026-01-06
美國(guó)sinton少子壽命測(cè)試儀
sinton少子壽命測(cè)試儀wct-120，suns-voc，硅片少子壽命測(cè)試系統(tǒng)，采用了獨(dú)特的測(cè)量和分析技術(shù)，包括準(zhǔn)穩(wěn)定態(tài)光電導(dǎo)(qsspc)測(cè)量方法?？伸`敏地反映單、多晶硅片的重金屬污染及陷阱效應(yīng),表面復(fù)合效應(yīng)等缺陷情況。
更新時(shí)間:2026-01-06
布魯克Bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 contour x, 滿足微納米表面測(cè)量需要
更新時(shí)間:2026-01-06
布魯克Bruker 三維光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker contourx-200 三維光學(xué)輪廓儀，靈活的臺(tái)式表面形貌測(cè)量設(shè)備
更新時(shí)間:2026-01-06
布魯克臺(tái)階儀-探針式表面輪廓儀
布魯克 dektakxt 臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）設(shè)計(jì)創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性高達(dá) 5å。第十代 dektakxt臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測(cè)量，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)域。
更新時(shí)間:2026-01-06
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-18f ( 光散射法）液體光學(xué)顆粒度儀 ks-18f寬廣的測(cè)試范圍，可測(cè)試 0.05~0.2um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。 可偵測(cè)到小粒徑 0.05um 的粒子
更新時(shí)間:2026-01-06
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42a&42af ( 光散射法）,可測(cè)試 0.1~0.5um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2026-01-06
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42b/42bf ( 光散射法）,寬廣的測(cè)試范圍，可測(cè)試 0.2~2.0um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2026-01-06
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42c ( 光散射法）,寬廣的測(cè)試范圍，可測(cè)試 0.5~20um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2026-01-06
日本理音RION粒子計(jì)數(shù)器
日本理音 rion 粒子計(jì)數(shù)器 ks-20f，檢測(cè)粒徑為0.02μm的顆粒，從0.02μm到0.08μm可達(dá)7個(gè)通道
更新時(shí)間:2026-01-06
日本理音RION粒子計(jì)數(shù)器
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-01e ( 光散射法）,液體粒子計(jì)數(shù)器，測(cè)試粒徑（5個(gè)通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時(shí)間:2026-01-06
日本理音RION粒子計(jì)數(shù)器
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-03b ( 光散射法）,測(cè)試粒徑（5個(gè)通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時(shí)間:2026-01-06
德國(guó)NETZSCH差示掃描量熱儀
差示掃描量熱儀dsc 300 ，是全面、可靠的dsc儀器系列，表征材料熱性能游刃有余。
更新時(shí)間:2026-01-06
德國(guó)NETZSCH 閃射法導(dǎo)熱儀
lfa 467 hyperflash 閃射法導(dǎo)熱儀，自由選擇測(cè)試氣氛，優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)置與閃射光源，16位自動(dòng)進(jìn)樣器，高的測(cè)量效率，寬廣的溫度范圍，靈活配備冷卻系統(tǒng)，設(shè)計(jì)獨(dú)特，性能優(yōu)異，配備氙燈光源的，高溫測(cè)試系統(tǒng)，寬廣的溫度范圍，真空密閉爐體，確保氣氛純凈，防止氧化，內(nèi)置微型管式爐，更高的測(cè)量效率，高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導(dǎo)熱材料的解決方案
更新時(shí)間:2026-01-06
OAI UV METER
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
更新時(shí)間:2026-01-06
日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測(cè)角儀，用于氮化鎵（gan)質(zhì)量管理，可對(duì)應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時(shí)間:2026-01-06
日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測(cè)角儀，用于氮化鎵（gan)質(zhì)量管理，可對(duì)應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時(shí)間:2026-01-06
德國(guó)ThetaMetrisis FR-Mini 膜厚測(cè)量?jī)x
fr-mini 是一款緊湊型裝置，專為大學(xué)教育和研究實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)，用于快速、準(zhǔn)確和無損地表征各種不同的涂層。使用 fr-mini，用戶還可以在較寬的光譜范圍內(nèi)輕松進(jìn)行反射率和/或透射率測(cè)量。
更新時(shí)間:2026-01-06
德國(guó)ThetaMetrisis FR-Pro 膜厚測(cè)量?jī)x
fr-pro 膜厚測(cè)量?jī)x 用于表征1nm-3mm厚度范圍內(nèi)的 涂層的模塊化和可擴(kuò)展平臺(tái)。
更新時(shí)間:2026-01-06
德國(guó)TheMetrisis FR-Scanner自動(dòng)化超高速薄膜厚度測(cè)繪
fr-scanner 是一款緊湊的臺(tái)式測(cè)量工具，全自動(dòng)測(cè)繪涂層的厚度，基底適用于晶圓，掩膜版及其它材料。fr-scanner 可以快速和準(zhǔn)確地測(cè)量薄膜特性，比如厚度，折射系數(shù)，均勻性，色度等，真空吸盤可應(yīng)用于任何直徑或其它形狀的樣品。
更新時(shí)間:2026-01-06
中空玻璃空氣層厚度測(cè)量?jī)x
ns500中空玻璃空氣層厚度測(cè)量?jī)x測(cè)試原理是利用光學(xué)反射原理，可在玻璃的單側(cè)表面測(cè)量玻璃厚度，尤其適用于通用測(cè)量工具如刻度尺或卡尺等不能或不易操作的測(cè)量場(chǎng)合，如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃（中空玻璃）窗厚度的測(cè)量。對(duì)于空氣夾層玻璃的測(cè)量，還可以同時(shí)獲得兩層玻璃及中間空氣層的厚度。
更新時(shí)間:2026-01-06
汽車太陽膜透光率測(cè)試儀高精度防爆膜測(cè)試儀建筑膜檢測(cè)儀器
ns101汽車太陽膜透光率測(cè)試儀高精度防爆膜測(cè)試儀建筑膜檢測(cè)儀器的測(cè)試原理是采用紫外光源,可見光源和紅外光源照射被測(cè)透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。大多數(shù)的太陽膜,可見光標(biāo)注透過率指標(biāo),紅外線和紫外線標(biāo)注阻隔率指標(biāo),阻隔率=100%-透過率。ns101直接測(cè)量和顯示紫外線的阻隔率,紅外線的阻隔率和可見光透過率,
更新時(shí)間:2026-01-06
汽車前檔貼膜透光率測(cè)試儀
ns530a汽車前檔貼膜透光率測(cè)試儀具有三個(gè)獨(dú)立測(cè)試單元分別為紫外，紅外，和可見光，顯示值為紅外透過率值，紫外透過率值和可見光透過率值。
更新時(shí)間:2026-01-06
卡式便攜式透光率儀
ns13a卡式便攜式透光率儀，透光率測(cè)試儀，透光率檢測(cè)儀，透光率計(jì)，透過率測(cè)試儀，玻璃透光率儀，鏡片透光率測(cè)試儀，眼鏡片透光率儀，透明材料透光率儀，涂料透光率儀，太陽鏡片透光率測(cè)試儀
更新時(shí)間:2026-01-06
臺(tái)式光學(xué)透過率測(cè)試儀
ns550h臺(tái)式光學(xué)透過率測(cè)試儀測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2026-01-06
便攜式透光率儀
ns15a透光率儀是一款寬譜線可見光(380nm～760nm)測(cè)量?jī)x，測(cè)試原理是采用三路完全相同的可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三路光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2026-01-06
汽車前擋玻璃透光率儀
ns530a汽車前擋玻璃透光率儀具有的三個(gè)獨(dú)立測(cè)試單元分別為紫外，紅外，和可見光，顯示值為紅外透過率值，紫外透過率值和可見光透過率值。
更新時(shí)間:2026-01-06
太陽膜透過率測(cè)試儀
ns11太陽膜透過率測(cè)試儀的測(cè)試原理是采用紫外光源，可見光源和紅外光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2026-01-06
IR油墨透光率儀
ns550ir油墨透光率儀的測(cè)試原理是采用紅外850nm光源，紅外940nm光源和可見550nm光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2026-01-06
光學(xué)透過率測(cè)量?jī)x
ns13a光學(xué)透過率測(cè)量?jī)x的測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2026-01-06
防爆膜測(cè)試儀
ns10a防爆膜測(cè)試儀的測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2026-01-06
高精度透過率測(cè)試儀
ns12高精度透過率測(cè)試儀的測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2026-01-06
臺(tái)式透光率儀
ns550a臺(tái)式透光率儀 測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2026-01-06
中空玻璃測(cè)厚儀
ns500中空玻璃測(cè)厚儀專用于測(cè)量單層玻璃，夾層玻璃（中空玻璃）和柱型玻璃管等的厚度。尤其適用于普通刻度尺或卡尺不能或不易操作的測(cè)量場(chǎng)合，如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃窗厚度的測(cè)量。對(duì)于中空玻璃厚度的測(cè)量，同時(shí)測(cè)得各層玻璃及中間空氣層的厚度。
更新時(shí)間:2026-01-06
多波段透過率測(cè)試儀
ns365多波段透過率測(cè)試儀的測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示
更新時(shí)間:2026-01-06
眼鏡鏡片光學(xué)透過率儀
ns550a眼鏡鏡片光學(xué)透過率儀的測(cè)試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測(cè)透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時(shí)間:2026-01-06
徠卡3D Disto全自動(dòng)三維建筑測(cè)量?jī)x
徠卡3d disto全自動(dòng)三維建筑測(cè)量?jī)x 突出優(yōu)點(diǎn):自動(dòng)整平，輕松設(shè)站±3°范圍內(nèi)自動(dòng)快速整平手簿控制，實(shí)時(shí)成圖所有操作通過手簿控制，機(jī)載程序豐富強(qiáng)大，且測(cè)量的同時(shí)手簿上會(huì)生成平面圖和立體圖遙控操作，省時(shí)省力無線連接讓你擺脫儀器有線的束縛，rm100紅外遙控器讓你雙手在投影過程中擁有更多自由大屏顯示，圖像測(cè)量大尺寸
更新時(shí)間:2026-01-06
自動(dòng)在線光學(xué)檢測(cè)儀 單軌在線AOI SMT焊接爐后檢測(cè)設(shè)備JTA-JUTI-X
aoi可以置于生產(chǎn)線上的多個(gè)位置，但有三個(gè)位子是主要的：1、錫膏印刷之后。將aoi的檢測(cè)放在錫膏印刷機(jī)之后，這是個(gè)典型的放置位置，因?yàn)楹芏嗳毕菔怯捎阱a膏印刷的不良所造成的，如錫膏量不足可能會(huì)導(dǎo)致元件丟失或開路的原因。2、回流焊，將檢測(cè)設(shè)備放置于貼片后
更新時(shí)間:2026-01-06
一鍵閃測(cè)儀iVS系列國(guó)產(chǎn)閃測(cè)儀閃測(cè)儀
一鍵閃測(cè)儀ivs系列國(guó)產(chǎn)閃測(cè)儀閃測(cè)儀廣泛應(yīng)用于機(jī)械、電子、模具、注塑、五金、橡膠、低壓電器、磁性材料、精密沖壓、接插件、連接器、端子、手機(jī)、家電、印刷電路板、醫(yī)療器械、鐘表、刀具等。
更新時(shí)間:2026-01-06
GJX-2光干涉瓦斯測(cè)定器校正儀
gjx-2光干涉瓦斯檢定器校正儀是采用壓力連通器原理研制的。主要用于校驗(yàn)光干涉式瓦斯測(cè)定器的精度及氣密性
更新時(shí)間:2026-01-06
精準(zhǔn)測(cè)量的理想之選 —— 標(biāo)準(zhǔn)型全自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x
標(biāo)準(zhǔn)型全自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x是一種用于精密測(cè)量的光學(xué)儀器，它融合了光學(xué)成像、機(jī)械運(yùn)動(dòng)控制、圖像處理以及計(jì)算機(jī)軟件等多種技術(shù)，在工業(yè)制造、電子、汽車、模具等眾多領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用
更新時(shí)間:2026-01-06
伺服控制自動(dòng)萬濠rational影像儀VMS-3020H新聞報(bào)導(dǎo)
伺服控制自動(dòng)萬濠rational影像儀vms-3020h新聞報(bào)導(dǎo)伺服控制自動(dòng)萬濠rational影像儀vms-3020h新聞報(bào)導(dǎo)伺服控制自動(dòng)萬濠rational影像儀vms-3020h新聞報(bào)導(dǎo)
更新時(shí)間:2026-01-06
三豐二手投影儀pj-a3010f-200
三豐二手投影儀pj-a3010f-200，量程200*100mm八成新帶有數(shù)據(jù)處理器data200
更新時(shí)間:2026-01-06

最新產(chǎn)品

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)（PH計(jì)） 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑