其他產(chǎn)品及廠家

EMMC5 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試
emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試mmc通過(guò)發(fā)cmd的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問(wèn)。device identification mode包括3個(gè)階段idle state、ready state、identification state。
更新時(shí)間:2025-07-07
EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC5 復(fù)位測(cè)試
emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc5 復(fù)位測(cè)試identification state,發(fā)送完 cid 后,emmc device就會(huì)進(jìn)入該階段。
更新時(shí)間:2025-07-07
電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 Emmc5 上電時(shí)序測(cè)試
相關(guān)產(chǎn)品:電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 , emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試
更新時(shí)間:2025-07-07
CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試
相關(guān)產(chǎn)品:clk測(cè)試 , dqs測(cè)試 , emmc4 , 上電時(shí)序測(cè)試data strobe 時(shí)鐘信號(hào)由 emmc 發(fā)送給 host,頻率與 clk 信號(hào)相同,用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號(hào)只能在 hs400 模式下配置啟用,啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性,省去總線 tuning 過(guò)程。
更新時(shí)間:2025-07-07
CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試
相關(guān)產(chǎn)品:clk測(cè)試 , dqs測(cè)試 , emmc4 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試
更新時(shí)間:2025-07-07
電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試
更新時(shí)間:2025-07-07
控制信號(hào)測(cè)試 控制信號(hào)過(guò)沖測(cè)試 控制信號(hào)高低電平測(cè)試 EMMC 復(fù)位測(cè)試
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc5 上電時(shí)序測(cè)試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒(méi)有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號(hào)保持高電平,當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí),host 可以很方便檢測(cè)到該信號(hào),并開(kāi)始接收 response。
更新時(shí)間:2025-07-07
ETS-LINDGREN近場(chǎng)探頭,硬件測(cè)試,開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室,DDR測(cè)試,時(shí)序測(cè)試,紋波測(cè)試,抖動(dòng)測(cè)試
misenbo 硬件開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 ets-lindgren 7405近場(chǎng)探頭 儀器資訊
更新時(shí)間:2025-07-07
Nemtest dito靜電放電模擬器,硬件測(cè)試,開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室,DDR測(cè)試,時(shí)序測(cè)試,紋波測(cè)試,抖動(dòng)測(cè)試
misenbo 硬件開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時(shí)間:2025-07-07
PCIE2.0 3.0 驗(yàn)證 調(diào)試和一致性測(cè)試解決方案
遇到的問(wèn)題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫(xiě)正常,memory mapping空間讀寫(xiě)異常
更新時(shí)間:2025-07-07
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測(cè)試
cie2.0 3.0 物理層致性測(cè)試pcie總線與pci總線不同,pcie總線使用端到端的連接方式,在條pcie鏈路的兩端只能各連接個(gè)設(shè)備,這兩個(gè)設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成,目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路,還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時(shí)間:2025-07-07
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 Emmc5 上電時(shí)序測(cè)試
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc5 上電時(shí)序測(cè)試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒(méi)有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號(hào)保持高電平,當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí),host 可以很方便檢測(cè)到該信號(hào),并開(kāi)始接收 response。
更新時(shí)間:2025-07-07
clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc4 上電時(shí)序測(cè)試,眼圖測(cè)試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值,不包含 start bit。各個(gè) data line 上的 crc 為對(duì)應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值。
更新時(shí)間:2025-07-07
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試在 ddr 模式下,data line 在時(shí)鐘的上升沿和下降沿都會(huì)傳輸數(shù)據(jù),其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) (byte 1,3,5...),下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)(byte 2,4,6 ...)。
更新時(shí)間:2025-07-07
復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試
復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc4 上電時(shí)序測(cè)試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時(shí),host 可以發(fā)送 cmd19 命令,觸發(fā)總線測(cè)試過(guò)程(bus testing procedure),測(cè)試總線硬件上的連通性。
更新時(shí)間:2025-07-07
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試基于示波器的當(dāng)抖動(dòng)測(cè)量工具在條通道上只提供個(gè)眼圖。在通用測(cè)量中,這些工具只有6-8個(gè)測(cè)量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道,包括同時(shí)測(cè)量每條通道的眼圖。
更新時(shí)間:2025-07-07
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試 MIPI傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題 MIPI驅(qū)動(dòng)問(wèn)題 重起問(wèn)題
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試 mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題 mipi驅(qū)動(dòng)問(wèn)題 重起問(wèn)題
更新時(shí)間:2025-07-07
硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問(wèn)題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動(dòng)問(wèn)題
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題 mipi接口的dsi的驅(qū)動(dòng)問(wèn)題
更新時(shí)間:2025-07-07
MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng)
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng)
更新時(shí)間:2025-07-07
MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn)
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)
更新時(shí)間:2025-07-07
MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開(kāi)發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問(wèn)題
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題
更新時(shí)間:2025-07-07
MIPI攝像頭 MIPI眼圖測(cè)試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
mipi攝像頭 mipi眼圖測(cè)試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面,再回顧下數(shù)據(jù)格式,加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式:escape mode, high-speed (burst) mode and control mode,下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時(shí)序:
更新時(shí)間:2025-07-07
解決MIPI屏黑屏問(wèn)題 MIPI調(diào)試過(guò)程 MIPI接口屏閃屏的測(cè)試 分析與解決方法
解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表,sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過(guò)的,使用這種方法,編碼器可以糾正1-bit錯(cuò)誤,可以檢查2-bit的錯(cuò)誤。該特征只是在csi的ccir編碼中,僅僅是奇偶交錯(cuò)模式中支持。
更新時(shí)間:2025-07-07
分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測(cè)試
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試當(dāng)幀結(jié)束或者是個(gè)在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時(shí),eof中斷就產(chǎn)生了,eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯(cuò)的模式下使用,該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯(cuò)的時(shí)候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會(huì)產(chǎn)生
更新時(shí)間:2025-07-07
解決MIPI屏黑屏問(wèn)題 MIPI調(diào)試過(guò)程 MIPI接口屏閃屏的測(cè)試
解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試bayer數(shù)據(jù)是個(gè)從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過(guò)軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0,表示系統(tǒng)是小端,不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容,p0是個(gè)data,依次,p3是個(gè)data.
更新時(shí)間:2025-07-07
MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測(cè)試與分析 解決MIPI屏黑屏問(wèn)題
mipi clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問(wèn)題mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660,輸出設(shè)定為yuv模式,因此,csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù),因此還需要通過(guò)軟件,將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對(duì)應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。
更新時(shí)間:2025-07-07
MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測(cè)試 MIPI屏 初始化指令問(wèn)題
mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試 mipi屏 初始化指令問(wèn)題像素可以放映到你的抓圖上面的大小,該像素就是說(shuō)明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點(diǎn)多少,可以想象在相同的面積上,數(shù)量越多,感光元件肯定要越小,感光元件小,那么圖像的質(zhì)量其實(shí)會(huì)變差,這個(gè)當(dāng)然可以理解,但是從大的方面來(lái)說(shuō),只要鏡頭好,光源充足,那么效果也會(huì)變好,這樣畫(huà)面就比像素低的更加的細(xì)膩,所以高像素的好處就在這里。
更新時(shí)間:2025-07-07
MIPI眼圖 數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測(cè)試與分析 解決MIPI屏黑屏問(wèn)題 MIPI調(diào)試過(guò)程
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。
更新時(shí)間:2025-07-07
供應(yīng)常州中策失真度測(cè)量?jī)xZC4116
具有全自動(dòng)失真度測(cè)量功能,信號(hào)頻率自動(dòng)測(cè)量,顯示, 內(nèi)部自動(dòng)校準(zhǔn),自動(dòng)跟蹤濾波。 可測(cè)量的小失真度達(dá)0.005%。 具有自動(dòng)測(cè)量信/雜比(sinad)和信/噪比(s/n)的功能。 具有測(cè)量平衡信號(hào)或不平衡信號(hào)的功能。 設(shè)有示波器輸出監(jiān)視插孔,方便使用者觀察被測(cè)信號(hào)的波形。 可選rs-232接口
更新時(shí)間:2025-07-07
供應(yīng)常州中策電感測(cè)試儀ZC2776D
性能提升的中檔電感測(cè)量?jī)x 簡(jiǎn)便操作與強(qiáng)大功能的合理結(jié)合 讀數(shù)穩(wěn)定性好 高達(dá)16次/的測(cè)量速度 鍵盤(pán)鎖定功能 30ω、100ω兩種輸出阻抗 提供rs-232c接口 分選及handler接口可選樣
更新時(shí)間:2025-07-07
供應(yīng)常州中策電容測(cè)量?jī)xZC2617D
性能提升的中檔電容測(cè)量?jī)x 良好的測(cè)試穩(wěn)定性 抗沖擊能力強(qiáng) 合理的功能配置 固定的輸出阻抗,特別適合陶瓷電容器的測(cè)量 鍵盤(pán)鎖定功能 30ω、100ω兩種輸出阻抗 rs232、handler接口
更新時(shí)間:2025-07-07
供應(yīng)常州中策LCR數(shù)字電橋ZC2817D
簡(jiǎn)便操作與強(qiáng)大功能的合理結(jié)合 采用smt表面貼裝工藝提升了儀器的可靠性 大型用白色背光lcd顯示屏 100hz~100khz,8個(gè)典型測(cè)試頻率 0.1v、0.3v、1.0v三個(gè)典型測(cè)試電平 30ω/100ω兩種可選源阻抗,便于兼容不同lcr表的測(cè)試一致性 配置rs232接口和handler接口
更新時(shí)間:2025-07-07
供應(yīng)常州揚(yáng)子寬頻LCR數(shù)字電橋YD2817D-1
yd2817d-1全新模具,外觀更美觀可選擇六個(gè)典型頻率,高100khz三檔測(cè)試電平,主副參數(shù)顯示操作簡(jiǎn)便,性能可靠四檔分選plc標(biāo)配
更新時(shí)間:2025-07-07
供應(yīng)常州揚(yáng)子電容測(cè)試儀YD2616D
yd2616dlcd液晶顯示主副參數(shù)四個(gè)典型測(cè)試頻點(diǎn)三檔電平選擇30ω 100ω兩種輸入阻抗五檔分選讀數(shù)穩(wěn)定性好,性能穩(wěn)定
更新時(shí)間:2025-07-07
供應(yīng)常州揚(yáng)子電感測(cè)試儀YD2776A
yd2776a240×128大屏lcd顯示全中文操作界面,簡(jiǎn)單易懂30hz~200khz共39個(gè)測(cè)試頻點(diǎn)30ω/100ω可選信號(hào)源輸入阻抗12檔分選計(jì)數(shù),訊響條件選擇直讀、檔號(hào)、鍵盤(pán)鎖定功能plc\rs232接口選擇
更新時(shí)間:2025-07-07
供應(yīng)美瑞克RK9960程控安規(guī)綜合測(cè)試儀
產(chǎn)品介紹本系列程控耐壓測(cè)試儀均采用高速mcu和大規(guī)模數(shù)字電路設(shè)計(jì)的高性能的安規(guī)測(cè)試儀,其輸出電壓的大小 、輸出電壓的上升 、下降、輸出電壓的頻率完全由mcu控 制,能實(shí)時(shí)顯示擊穿電流值和電壓值,并具有軟體校準(zhǔn)功能,配備plc接口、rs232c、rs485、usb device、usb host接口、可方便與計(jì)算機(jī)或plc組成綜合測(cè)試系統(tǒng)。
更新時(shí)間:2025-07-07
供應(yīng)美瑞克RK9830N三相智能電量測(cè)量?jī)x
rk9830n智能電量測(cè)量?jī)x(數(shù)字功率計(jì)),可以同時(shí)測(cè)量單、三相用電設(shè)備的電壓、電流、功率、功率因數(shù)、頻率、電能等參數(shù),測(cè)量?jī)?nèi)容豐富,具有量程范圍寬,預(yù)置報(bào)警、鎖存和通訊等功能。
更新時(shí)間:2025-07-07
供應(yīng)美瑞克RK-8多路溫度巡檢儀
rk-8多路溫度巡檢儀是一種適用于多點(diǎn)溫度同時(shí)實(shí)時(shí)監(jiān)控跟蹤的儀表,配備軟件可將整個(gè)溫升變化過(guò)程全部以曲線方式記錄下來(lái),便于保存分析,交流。具備測(cè)量方便、精度高、熱電偶測(cè)試點(diǎn)可重復(fù)利用的優(yōu)點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-07-07
供應(yīng)美瑞克RK2830LCR數(shù)字電橋
rk2830是全新一代通用高性能lcr表。外形美觀,操作簡(jiǎn)便。該產(chǎn)品采用32位arm處理器,測(cè)試快速穩(wěn)定,同時(shí)配有100hz-10khz和50mv-2.0v信號(hào)電平,可滿足元件與材料的所有測(cè)量要求,為產(chǎn)線質(zhì)量保證、進(jìn)貨檢驗(yàn)及實(shí)驗(yàn)室的高精度測(cè)量提供了保障。應(yīng)用域本儀器可廣泛應(yīng)用于工廠,院校,研究所,計(jì)量質(zhì)檢部門(mén)等對(duì)各類(lèi)元器件的參數(shù)進(jìn)行較為精確的測(cè)量。
更新時(shí)間:2025-07-07
耳酷靈聽(tīng)力篩查儀
力篩查是通過(guò)耳聲發(fā)射、自動(dòng)聽(tīng)性腦干反應(yīng)和聲阻抗等電生理學(xué)檢測(cè),在受試者自然睡眠或安靜的狀態(tài)下進(jìn)行的客觀、快速和無(wú)創(chuàng)的檢查。 這個(gè)聞名于兩步篩查(oae/abr)的新版本聽(tīng)力篩查儀,具有快速、準(zhǔn)確、直觀的特點(diǎn)。作為世界上值得信賴(lài)的聽(tīng)篩產(chǎn)品之一,耳酷靈®為我們贏得了至高的聲譽(yù)。 顯著提高工作效率
更新時(shí)間:2025-07-07
MIPI傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題
mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題mipi是2003年由arm,nokia,st,it等公司成立的個(gè)聯(lián)盟,旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲(chǔ)接口,顯示接口,射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化,減少兼容性問(wèn)題并簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2025-07-07
過(guò)濾器完整性測(cè)試儀
過(guò)濾器完整性測(cè)試儀提供多種測(cè)試環(huán)境與測(cè)試方式,可以對(duì)親水性膜、疏水性膜、對(duì)稱(chēng)性膜,非對(duì)稱(chēng)性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過(guò)濾器的氣密性、完整性進(jìn)行測(cè)試,同時(shí)系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能,并且可以按照要求提供上位機(jī)軟件。
更新時(shí)間:2025-07-04
自動(dòng)過(guò)濾器完整性測(cè)試儀
自動(dòng)過(guò)濾器完整性測(cè)試儀提供多種測(cè)試環(huán)境與測(cè)試方式,可以對(duì)親水性膜、疏水性膜、對(duì)稱(chēng)性膜,非對(duì)稱(chēng)性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過(guò)濾器的氣密性、完整性進(jìn)行測(cè)試,同時(shí)系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能,并且可以按照要求提供上位機(jī)軟件。
更新時(shí)間:2025-07-04
全自動(dòng)過(guò)濾器完整性測(cè)試儀
全自動(dòng)過(guò)濾器完整性測(cè)試儀提供多種測(cè)試環(huán)境與測(cè)試方式,可以對(duì)親水性膜、疏水性膜、對(duì)稱(chēng)性膜,非對(duì)稱(chēng)性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過(guò)濾器的氣密性、完整性進(jìn)行測(cè)試,同時(shí)系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能,并且可以按照要求提供上位機(jī)軟件。
更新時(shí)間:2025-07-04
便攜式過(guò)濾器完整性測(cè)試儀
便攜式過(guò)濾器完整性測(cè)試儀提供多種測(cè)試環(huán)境與測(cè)試方式,可以對(duì)親水性膜、疏水性膜、對(duì)稱(chēng)性膜,非對(duì)稱(chēng)性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過(guò)濾器的氣密性、完整性進(jìn)行測(cè)試,同時(shí)系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能,并且可以按照要求提供上位機(jī)軟件。
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濾芯完整性測(cè)試儀
濾芯完整性測(cè)試儀提供多種測(cè)試環(huán)境與測(cè)試方式,可以對(duì)親水性膜、疏水性膜、對(duì)稱(chēng)性膜,非對(duì)稱(chēng)性膜等多種微孔濾膜、濾芯以及過(guò)濾器的氣密性、完整性進(jìn)行測(cè)試,同時(shí)系統(tǒng)具備歷史數(shù)據(jù)記錄和打印的功能,并且可以按照要求提供上位機(jī)軟件。
更新時(shí)間:2025-07-04
視覺(jué)位移在橋梁中的運(yùn)用
視覺(jué)位移在橋梁中的運(yùn)用:梁體位移監(jiān)測(cè)、索塔位移監(jiān)測(cè)、伸縮縫位移監(jiān)測(cè)
更新時(shí)間:2025-07-04
評(píng)估植物成長(zhǎng)和蟲(chóng)害情況無(wú)人機(jī)
無(wú)人機(jī)的應(yīng)用范圍廣,如:林業(yè)、農(nóng)業(yè)、石油&天然氣、偵查、工業(yè)等.....深圳市鵬錦科技有限公司代理法delair-tech無(wú)人機(jī)聯(lián)系電話:18476656316 曾小姐
更新時(shí)間:2025-07-04
天寶RTK GPS R5
trimble r5 gps 接收機(jī)  l 經(jīng)過(guò)實(shí)踐考驗(yàn)的trimble gnss技術(shù)自動(dòng)、安全文件上傳  l 用于存儲(chǔ)大量數(shù)據(jù)的外置內(nèi)存選件  l 佳支持trimble gnss基礎(chǔ)設(shè)施解決方案  l 堅(jiān)固耐用、輕巧、效
更新時(shí)間:2025-07-04
測(cè)畝儀PJK-X 大量現(xiàn)貨優(yōu)惠出售
集成了解精度的gps定位系統(tǒng)、精確的面積計(jì)算方法和智能化的掌上電腦系統(tǒng),能實(shí)現(xiàn)不規(guī)則面積的實(shí)時(shí)測(cè)試、動(dòng)態(tài)圖形顯示和數(shù)據(jù)智能化處理和儲(chǔ)存。聯(lián)系電話:18476656316 曾小姐 0755-83268332 曾小姐qq 2850187701
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