其他產(chǎn)品及廠家

PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測試
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處,但是pcie總線的各個(gè)層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中,數(shù)據(jù)報(bào)文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生,然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer),終發(fā)送出去。
更新時(shí)間:2026-01-09
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài),主電源已經(jīng)停止供電時(shí),pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求,使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時(shí)間:2026-01-09
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號質(zhì)量一致性測試
pcie 初始化完成后會進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定,懷疑以下原因:- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時(shí)鐘問題
更新時(shí)間:2026-01-09
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉,它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程,在天無時(shí)無刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來,集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平,更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能,當(dāng)然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。
更新時(shí)間:2026-01-09
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個(gè)處理器系統(tǒng)中,般提供×16的pcie插槽,并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號,其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路,另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時(shí)間:2026-01-09
Pcie1.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn),也即隨著信號幅度越來越低,對整個(gè) 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制,比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù),由于采用 4 電平調(diào)制,其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時(shí)間:2026-01-09
Pcie1.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求,個(gè)是type00h配置請求,另個(gè)是type 01h配置請求。
更新時(shí)間:2026-01-09
Pcie1.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r(shí)代,工程界已經(jīng)積累了很多實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車,每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗(yàn)分享中獲得很多有價(jià)值和 有助于自己設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn),但是經(jīng)驗(yàn)并不是金科玉律,也不是都適合工程師特殊的設(shè)計(jì)需求。
更新時(shí)間:2026-01-09
Pcie3.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個(gè) ddr3 設(shè)計(jì)的實(shí)際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí),工程師會按照主芯片給的設(shè)計(jì)規(guī)范進(jìn)行設(shè)計(jì)。結(jié)合項(xiàng)目工程的需要,其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu), ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中,發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時(shí)間:2026-01-09
Pcie3.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個(gè)寄存器的值由pcisig分配,只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商,而device id代表這個(gè)廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7,其vendor id為0x10ee,而device id為0x7028。
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Pcie3.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計(jì)改板后的測試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真,那么只能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)完成之后進(jìn)行測試才能發(fā)現(xiàn)問題,如果要改善, 只能再改板調(diào)整,還可能出現(xiàn)改板很多次的情況,這樣就會延遲產(chǎn)品上市時(shí)間并增加物料成本。
更新時(shí)間:2026-01-09
EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC5 復(fù)位測試
emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復(fù)位測試identification state,發(fā)送完 cid 后,emmc device就會進(jìn)入該階段。
更新時(shí)間:2026-01-09
電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時(shí)序測試
相關(guān)產(chǎn)品:電源紋波測試 , 時(shí)鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時(shí)序測試
更新時(shí)間:2026-01-09
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時(shí)序測試
相關(guān)產(chǎn)品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時(shí)序測試data strobe 時(shí)鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host,頻率與 clk 信號相同,用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用,啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性,省去總線 tuning 過程。
更新時(shí)間:2026-01-09
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時(shí)序測試 電源紋波測試
相關(guān)產(chǎn)品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時(shí)序測試 , 電源紋波測試
更新時(shí)間:2026-01-09
電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試
更新時(shí)間:2026-01-09
控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試 EMMC 復(fù)位測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時(shí)序測試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號保持高電平,當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí),host 可以很方便檢測到該信號,并開始接收 response。
更新時(shí)間:2026-01-09
數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時(shí)序測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時(shí)序測試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號保持高電平,當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí),host 可以很方便檢測到該信號,并開始接收 response。
更新時(shí)間:2026-01-09
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時(shí)序測試,眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值,不包含 start bit。各個(gè) data line 上的 crc 為對應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值。
更新時(shí)間:2026-01-09
數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下,data line 在時(shí)鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù),其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) (byte 1,3,5...),下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)(byte 2,4,6 ...)。
更新時(shí)間:2026-01-09
復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時(shí)序測試
復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時(shí)序測試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時(shí),host 可以發(fā)送 cmd19 命令,觸發(fā)總線測試過程(bus testing procedure),測試總線硬件上的連通性。
更新時(shí)間:2026-01-09
服務(wù)器、PCIe5.0 CEM、U.2 SSD、轉(zhuǎn)接卡設(shè)計(jì)、信號質(zhì)量優(yōu)化、眼圖裕度、PCI-SIG規(guī)范
阿儀網(wǎng) pcie 5.0 轉(zhuǎn)接卡信號質(zhì)量綜合測試系統(tǒng)? 是一款面向高速接口卡設(shè)計(jì)與驗(yàn)證的專用平臺。該系統(tǒng)深度整合了高精度矢量網(wǎng)絡(luò)分析(vna)、多通道高速示波器及自動化眼圖掃描與分析軟件,提供從通道s參數(shù)建模到壓力眼圖測試的全套解決方案。它能夠評估轉(zhuǎn)接卡在32 gt/s速率下的插入損耗、回波損耗、阻抗連續(xù)性及眼圖裕量,幫助工程師快速定位設(shè)計(jì)缺陷,量化優(yōu)化效果,是確保轉(zhuǎn)接卡設(shè)計(jì)一次成功的關(guān)鍵工具
更新時(shí)間:2026-01-09
ETS-LINDGREN近場探頭,硬件測試,開放實(shí)驗(yàn)室,DDR測試,時(shí)序測試,紋波測試,抖動測試
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時(shí)間:2026-01-09
Nemtest dito靜電放電模擬器,硬件測試,開放實(shí)驗(yàn)室,DDR測試,時(shí)序測試,紋波測試,抖動測試
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時(shí)間:2026-01-09
LPDDR5 存儲器芯片測試,LPDDR5 眼圖測試,LPDDR5 時(shí)序抖動測試,JEDEC JESD209-5 合規(guī)測試,高速存儲器信號完整性測試
ats-msi 4000是阿儀網(wǎng)針對lpddr4及高速存儲器芯片推出的專業(yè)級信號完整性測試平臺。系統(tǒng)深度融合高精度眼圖分析、皮秒級時(shí)序測量與深度抖動分解功能,提供從研發(fā)調(diào)試、預(yù)合規(guī)驗(yàn)證到失效分析的完整解決方案。其應(yīng)對低電壓、高速度的優(yōu)化設(shè)計(jì),特別適合移動設(shè)備、汽車電子等領(lǐng)域?qū)Υ鎯ζ鹘涌诘膰?yán)苛驗(yàn)證需求。
更新時(shí)間:2026-01-09
LPDDR4替代驗(yàn)證系統(tǒng) LPDVT-4000
lpdvt-4000是阿儀網(wǎng)專為lpddr4國產(chǎn)化替代設(shè)計(jì)的性能驗(yàn)證平臺,支持4266mbps高速測試,提供從基礎(chǔ)功能到可靠性的全流程驗(yàn)證方案,重點(diǎn)解決低電壓、高速度帶來的測試挑戰(zhàn)。
更新時(shí)間:2026-01-09
遙測雨量計(jì)生產(chǎn)廠家
遙測雨量計(jì)生產(chǎn)廠家td-gf-y型遙測雨量計(jì),是集雨量傳感、智能數(shù)據(jù)采集、無線數(shù)據(jù)傳輸于一體的新一代電子遙測設(shè)備,廣泛用于防汛雨情實(shí)時(shí)監(jiān)測、人工增雨作業(yè)評估、氣象水文業(yè)務(wù)研究、農(nóng)業(yè)生產(chǎn)指導(dǎo)、城市環(huán)境監(jiān)測等域。
更新時(shí)間:2026-01-09
300V高壓源表微電流源
p系列300v高壓源表微電流源標(biāo)準(zhǔn)的scpi指令集,上位機(jī)軟件功能豐富、支持二次開發(fā)集成,可用于大電流脈沖測試、微弱電流信號測試場景,z大脈沖輸出電流達(dá)30a
更新時(shí)間:2026-01-08
源測同步國產(chǎn)數(shù)字源表電性能分析
p300b型源測同步國產(chǎn)數(shù)字源表電性能分析標(biāo)準(zhǔn)的scpi指令集,上位機(jī)軟件功能豐富、支持二次開發(fā)集成,可用于大電流脈沖測試、微弱電流信號測試場景,z大脈沖輸出電流達(dá)30a
更新時(shí)間:2026-01-08
脈沖激勵(lì)電流源us級恒流脈沖源
plt2302型脈沖激勵(lì)電流源us級恒流脈沖源適用于可見光、大功率bar、vcsel 陣列等大功率激光器的測試,支持脈沖、直流piv特性曲線掃描測試和特性參數(shù)計(jì)算,支持光譜特性測試(需要外接光譜儀)。儀表集脈沖電流源、電流表、電壓表和光功率計(jì)等功能于一體,具有體積小、測試速度快、使用簡單的特點(diǎn)
更新時(shí)間:2026-01-08
OHAUS CAV先進(jìn)型分析天平
品牌:ohaus.cav64c(外校)價(jià)格:8800元.最大量程:65g到260g.可讀性:0.0001g.自動內(nèi)部/外部校正,標(biāo)配rs232接口,性能出眾,應(yīng)用豐富.
更新時(shí)間:2026-01-08
OHAUS DV專業(yè)型分析天平
品牌:ohaus.dv114價(jià)格:21500元.最大量程:81g到310g.可讀性:0.00001g到0.0001g.溫度觸發(fā)全自動內(nèi)校,標(biāo)配rs232接口,專業(yè)稱量,完美演繹.
更新時(shí)間:2026-01-08
OHAUS EP專業(yè)型分析天平
品牌:ohausep64c價(jià)格:14900元.最大量程:62g到210g.可讀性:0.0001g.溫度觸發(fā)全自動內(nèi)校,標(biāo)配rs232接口,性能優(yōu)異,追求卓越.
更新時(shí)間:2026-01-08
OHAUS AR通用型分析天平
品牌:ohausar224cn價(jià)格:8800元.最大量程:65g到220g.可讀性:0.0001g.自動外校,標(biāo)配rs232接口,經(jīng)典系列,全新呈現(xiàn).
更新時(shí)間:2026-01-08
OHAUS CP基礎(chǔ)型分析天平
品牌:ohauscp64價(jià)格:6500元.最大量程:65g到220g.可讀性:0.0001g.自動內(nèi)部/外部校正,標(biāo)配rs232接口,全新設(shè)計(jì),優(yōu)異性價(jià)比.
更新時(shí)間:2026-01-08
OHAUS EP專業(yè)型精密天平
品牌:ohausep213c價(jià)格:13900元.最大量程:210g到8100g.可讀性:0.1g到0.001g.溫度觸發(fā)全自動內(nèi)校,標(biāo)配rs232接口,性能優(yōu)異,追求卓越.
更新時(shí)間:2026-01-08
OHAUS CAV先進(jìn)型精密天平
品牌:ohaus.cav212(外校)價(jià)格:4600元.最大量程:51g到8100g.可讀性:0.1g到0.001g.自動內(nèi)部/外部校正,標(biāo)配rs232接口,性能出眾,應(yīng)用豐富.
更新時(shí)間:2026-01-08
OHAUS CP基礎(chǔ)型精密天平
品牌:ohauscp512價(jià)格:4300元.最大量程:151g到4200g.可讀性:0.01g到0.001g.自動內(nèi)部/外部校正,標(biāo)配rs232接口,全新設(shè)計(jì),優(yōu)異性價(jià)比.
更新時(shí)間:2026-01-08
OHAUS AR通用型精密天平
品牌:ohausar522cn價(jià)格:4800元.最大量程:151g到4200g.可讀性:0.1g到0.001g.自動外校,標(biāo)配rs232接口,經(jīng)典系列,全新呈現(xiàn).
更新時(shí)間:2026-01-08
OHAUS SPS通用型便攜式天平
品牌:ohaussps401f價(jià)格:1300元.最大量程:200g到6000g.可讀性:1g到0.01g.自動外部校正,標(biāo)配rs232接口,精巧耐用,性能優(yōu)越.
更新時(shí)間:2026-01-08
OHAUS SE基礎(chǔ)型便攜式天平
品牌:ohausse6000f價(jià)格:680元.最大量程:200g到6000g.可讀性:1g到0.01g.自動外部校正,標(biāo)配rs232接口,便攜可靠,靈活選擇.
更新時(shí)間:2026-01-08
OHAUS CL/CS便攜秤
品牌:ohauscl201t價(jià)格:180元.最大量程:200g到5000g.可讀性:1g到0.1g.機(jī)械結(jié)構(gòu),軟件程序雙重過載保護(hù)設(shè)計(jì),可靠,便攜.
更新時(shí)間:2026-01-08
OHAUS V31X工業(yè)便攜式天平
品牌:ohausv31x6cn價(jià)格:1500元.最大量程:200g到6000g.可讀性:0.01g到1g.獲得nsf認(rèn)證和usda認(rèn)證,符合haccp認(rèn)證.
更新時(shí)間:2026-01-08
多路電阻測試儀 奮樂廠家直銷
1、flh5000多路電阻測試儀是新型多路電阻測試儀應(yīng)用于電子器件、電機(jī)繞組、接插件、開關(guān)、導(dǎo)體、點(diǎn)火器等元器件的測量。2、多路數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)軟件采集溫度數(shù)據(jù),記錄測試數(shù)據(jù),繪制電阻曲線
更新時(shí)間:2026-01-08
電阻測試儀 智能電阻測量儀   奮樂廠家直銷
1、智能化、寬范圍、高精密的直流電阻測試儀器2、電熱材料,變壓器及電感線圈銅阻、繼電器接觸電阻、開關(guān)、接插件接觸電阻、導(dǎo)線電阻、元件焊點(diǎn)接觸電阻、印制板線條及焊孔電阻、金屬探傷3、用于生產(chǎn)線,可使用handler接口輸出良品/不良品信號,以提高生產(chǎn)線自動化測試能力
更新時(shí)間:2026-01-08
JUKI飛達(dá)校正儀貼片機(jī)飛達(dá)校正儀 氣動飛達(dá)校正儀/SMT飛達(dá)顯示器
商品名稱:juki feeder校正儀商品品牌:鑫鴻基/xhj商品產(chǎn)地:深圳商品尺寸(mm):l500*w350*h500商品重量:約35kg適用機(jī)型:juki系列機(jī)型
更新時(shí)間:2026-01-08
德國Minro米諾高度計(jì)特價(jià)批發(fā)
米諾高度計(jì)非常順滑的柱塞運(yùn)動。米諾高度計(jì)周期可靠性優(yōu)于2,000,000hz,保證高速位移時(shí)不丟失數(shù)據(jù)。米諾高度計(jì)靈活選擇的探針。米諾高度計(jì)0-50mm或0-100mm的測量范圍可選。
更新時(shí)間:2026-01-08
日本NIKON高度計(jì)
日本 nikon高度計(jì):加高型精密高度計(jì),量程小于等于100mm的產(chǎn)品高度、厚度與深度測量。日本nikon高度計(jì):流水生產(chǎn)線可以每線一臺,高精度高效測量,是高精度產(chǎn)品生產(chǎn)企業(yè)最佳選擇。日本nikon高度計(jì):選配特殊測針,可完成小深孔,盲孔測量,這是三坐標(biāo),影像儀,投影儀與顯微鏡無法代替的特點(diǎn),特制測頭還可測
更新時(shí)間:2026-01-08
寧波CNC高速電火花細(xì)孔穿孔機(jī)
余姚高速電火花穿孔機(jī)采用電極管(黃銅管,紫銅管)作為工具電極利用電火花放電蝕除原理,在電極與工作之間施加高頻脈沖電源形成小脈寬,電流的放電加工,輔以高壓水冷卻排渣,使工件的蝕除速度加快,特別適用于不銹鋼,淬火鋼,銅,鋁,硬質(zhì)合金等各種導(dǎo)電材料上加工直徑0.15-2.0之間的深小孔,深度100mm,可直接在工件的斜面,曲加工,用于電火花線切割加工的穿絲孔,化纖噴絲頭,噴絲板的噴絲孔,濾板,篩板的群孔
更新時(shí)間:2026-01-08
慢走絲過濾器,慢走絲離子交換樹脂
本公司長期有:三菱線切割原廠配件,沙迪克線切機(jī)原廠配件,西部線切割機(jī)原廠配件,日立線切割機(jī)原廠配件,慶鴻線切割機(jī)原廠配件,亞特/茗亞線切割機(jī)原廠配件,富士通線切割機(jī)原廠配件,夏米爾線切割機(jī)原廠配件,臺灣三貴火花機(jī)用配件等。多種線切割與打孔機(jī)配件,耗材批發(fā)出售。
更新時(shí)間:2026-01-08

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)(PH計(jì)) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑