熱流儀適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊(如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等)、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗,試驗機(jī)輸出氣流罩將被測試品罩住,形成一個較密閉空間的測試腔,試驗機(jī)輸出的高溫或低溫氣流,使被測試品表面溫度發(fā)生劇烈變化,從而完成相應(yīng)的高低溫沖擊試驗
更新時間:2025-10-05