掃描電子顯微鏡（SEM）產(chǎn)品及廠家
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2025-08-19
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2025-08-19
本公司為您提供：sema域4（sema4d）抗體，公司主營菌種，細胞，抗體，試劑，耗材，實驗室常用設(shè)備等，更多信息請咨詢在線客服：13817240771
更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
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更新時間:2025-08-19
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550
更新時間:2025-08-19
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學者易懂的樣品交換導航，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結(jié)果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報告等。
更新時間:2025-08-19
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設(shè)定視野到生成報告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時間:2025-08-19
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時間:2025-08-19
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:2025-08-19
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-08-19
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-08-19
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機構(gòu)，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2025-08-19
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機，實現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測，并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準)的高能量分辨率進行分析，超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2025-08-19
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:2025-08-19
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時間:2025-08-19
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-08-19
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
更新時間:2025-08-19
德neaspec真空太赫茲波段近場光學顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計優(yōu)勢，采用專利保護的雙光路設(shè)計，完全可以實現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時，由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源（thz-tds），也可以實現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2025-08-19
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)，在ksi i-wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進行檢測
更新時間:2025-08-19
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測，有了它，晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測，晶錠的尺寸可達450mm，檢測時間短，也不需要做其它設(shè)定。
更新時間:2025-08-19
ksi－nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學顯微成像系統(tǒng)和光學顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
更新時間:2025-08-19
jsm-it800shl 是日本電子株式會社（jeol） 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時將分辨率提高到新的限，全新設(shè)計的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成，而且標配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時間:2025-08-19
賽可掃描電鏡sne-3200m最大放大倍率6萬倍；采用二次電子和背散射電子雙重探測器；加速電壓選擇范圍廣，圖像分辨率高；非導電性樣品不經(jīng)過前處理即可直接觀察分析；圖像景深高，立體感強，分辨率高；支持eds等成分分析設(shè)備。q -6154
更新時間:2025-08-18
日本電子掃描電子顯微鏡jsm-6010系列觸控式電子顯微鏡jsm-6010是一款高效能、操作容易、高效率的電子顯微鏡,全新設(shè)計的intouchscope操作界面，即便是初次使用儀器的人員也能輕松上手。面對越來越多元化的操作環(huán)境需求，jsm-6010的操作設(shè)計，能讓您更輕松、有效率的使用儀器。 q -6154
更新時間:2025-08-18
臺式掃描電鏡sne-3200最大放大倍率6萬倍；采用二次電子和背散射電子雙重探測器；加速電壓選擇范圍廣，圖像分辨率高；非導電性樣品不經(jīng)過前處理即可直接觀察分析；圖像景深高，立體感強，分辨率高；支持eds等成分分析設(shè)備。 q -6154
更新時間:2025-08-18
日本電子jsm-7001f具有大型、5軸、全對中馬達驅(qū)動自動化樣品臺,還有單動作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑，即使在大電流和低電壓時，也具有適用于eds、wds、ebsp和cl的理想結(jié)構(gòu)的擴充性。樣品室可處理直徑最大為200mm的樣品。
更新時間:2025-08-18
jsm-6610分析型掃描電子顯微鏡與日本電子公司的元素分析儀（eds）組合于一體。結(jié)構(gòu)緊湊的eds由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制，操作員只用一只鼠標，就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。
更新時間:2025-08-18
掃描電鏡jsm-7610f是日本電子兼顧冷場的高分辨率和熱場大束流為一體的熱場發(fā)射掃描電鏡，集成了當今掃描電鏡的全部前沿技術(shù)，最大200na的大電流在保證高分辨率的同時，得到高速樣品分析結(jié)果，空間分辨率極高，對導電性差的樣品也有很多解決辦法。jsm-7600f自動化程度高，操作直觀方便。了解更多咨詢：q -6154
更新時間:2025-08-18
lmu/lmh是一款基于鎢燈絲掃描電子顯微鏡設(shè)計的集成式礦物分析專家，適用于采礦和礦物處理行業(yè)的應(yīng)用。tescan的獨特技術(shù)是基于一個完全集成的edx系統(tǒng)，能以非？斓乃俣葓(zhí)行全譜掃描，可用于礦石特性檢測、工藝優(yōu)化、修復技術(shù)和貴金屬與稀土的尋找。sem和edx硬件的集成水平實現(xiàn)了以前所未有的采集速度完全自動化的數(shù)據(jù)采集，并得到快速、準確和可靠的結(jié)果。
更新時間:2025-08-18
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調(diào)節(jié)放大倍數(shù)，直觀的操作界面的設(shè)計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-08-18
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調(diào)節(jié)放大倍數(shù)，直觀的操作界面的設(shè)計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-08-18
日本電子掃描電子顯微鏡sem采用電光束進行觀察，可隨意調(diào)節(jié)放大倍數(shù)，直觀的操作界面的設(shè)計，簡明易懂便的操作方式易于迅速掌握儀器的使用方法。
更新時間:2025-08-18
韓國進口掃描電鏡mini-sem最大放大倍率10萬倍 、采用二次電子和背散射電子雙重探測器 、加速電壓選擇范圍廣，圖像分辨率高 、非導電性樣品不經(jīng)過前處理即可直接觀察分析 、圖像景深高，立體感強，分辨率高 、支持eds等成分分析設(shè)備。 q -6154
更新時間:2025-08-18
臺式掃描電鏡sne-3000mb最大放大倍率3萬倍；采用二次電子和背散射電子雙重探測器；加速電壓選擇范圍廣，圖像分辨率高；非導電性樣品不經(jīng)過前處理即可直接觀察分析；圖像景深高，立體感強，分辨率高；支持eds等成分分析設(shè)備。 q -6154
更新時間:2025-08-18
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