掃描電子顯微鏡（SEM）產(chǎn)品及廠家
jsm-it800shl 是日本電子株式會社（jeol） 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時將分辨率提高到新的限，全新設(shè)計的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成，而且標配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時間:2025-09-29
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)，在ksi i-wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進行檢測
更新時間:2025-09-29
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測，有了它，晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測，晶錠的尺寸可達450mm，檢測時間短，也不需要做其它設(shè)定。
更新時間:2025-09-29
ksi－nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學顯微成像系統(tǒng)和光學顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
更新時間:2025-09-29
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550
更新時間:2025-09-29
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學者易懂的樣品交換導航，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結(jié)果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報告等。
更新時間:2025-09-29
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設(shè)定視野到生成報告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時間:2025-09-29
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時間:2025-09-29
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:2025-09-29
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-09-29
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-09-29
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機構(gòu)，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2025-09-29
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機，實現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測，并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準)的高能量分辨率進行分析，超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2025-09-29
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:2025-09-29
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時間:2025-09-29
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-09-29
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數(shù)據(jù)存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時間:2025-09-29
tescan 聚焦離子束掃描電鏡是一款集成了電子束和離子束的電子顯微鏡系統(tǒng)。sem 鏡筒提供高分辨成像能力，fib 鏡筒能在成像的同時對樣品進行加工處理。雙束電鏡系統(tǒng)開創(chuàng)了一種新的應(yīng)用方式。
更新時間:2025-09-29
tescan sem掃描電鏡使用電子束分析樣品表面，分析尺度可至納米級。掃描電子顯微鏡可獲得高分辨的高倍圖像，廣泛應(yīng)用于各個科學和工業(yè)領(lǐng)域。
更新時間:2025-09-29
tescan amber 鎵離子雙束掃描電鏡是一款集成了電子束和離子束的電子顯微鏡系統(tǒng)。sem 鏡筒提供高分辨成像能力，fib 鏡筒能在成像的同時對樣品進行加工處理。
更新時間:2025-09-29
蔡司電腦斷層掃描測量機-多探頭測量機設(shè)備;工業(yè)計算機斷層掃描（ct）為您提供了quanxin的洞見，讓您可以快速采集所有內(nèi)部結(jié)構(gòu)的體積。蔡司是快速ct的先驅(qū)，并且能夠在生產(chǎn)周期中對組件進行完整的以體積為基礎(chǔ)的檢查。
更新時間:2025-09-29
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-09-29
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時間:2025-09-29
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-09-29
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進行能譜分析 ● 樣品室設(shè)置多種接口，可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達臺可以傾
更新時間:2025-09-29
s-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學系統(tǒng)，強大的自動化功能，操作更簡易。 特點: 1. s-3400n具有強大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設(shè)定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時
更新時間:2025-09-29
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡，達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進的真空系統(tǒng)和電子光學系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點： 1. 新型
更新時間:2025-09-29
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時間:2025-09-29
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-09-29
su7000采用全新設(shè)計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。su7000通過新研發(fā)的樣品倉以及檢測器系統(tǒng)，可在不改變wd的條件下更高效地接收各種信號，縮短了樣品觀察和分析的時間，提高了測試效率。它還標配超大樣品倉，增設(shè)了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析。
更新時間:2025-09-28
mi4050是高效率的聚焦離子束設(shè)備，它使用了全新的電子光學系統(tǒng)，具有世界領(lǐng)先的sim圖像分辨率，并且tem樣品制備效果優(yōu)異。mi4050廣泛用于截面觀察、微電路修復、納米圖像制備和納米沉積等。
更新時間:2025-09-28
nx2000新型雙束系統(tǒng)（超高精密聚焦離子束fib和高分辨場發(fā)射電鏡fe-sem），具有高效率的樣品制備能力、高精度納米微加工能力和高分辨圖像觀察能力。新的低損傷加工技術(shù)可以很好的滿足感光材料和電子束曝光應(yīng)用的需求；而新開發(fā)的微樣品取樣、樣品裝載和樣品導航功能則進一步提高了分析效果。
更新時間:2025-09-28
nx9000可以自動重復進行fib制備截面和掃描電鏡觀察，能夠獲得一系列的截面圖像，從而實現(xiàn)特定顯微切片的三維結(jié)構(gòu)分析。nx9000中的sem鏡筒和fib鏡筒呈正交結(jié)構(gòu)，而不是常見的對角構(gòu)造。這種形式是進行三維結(jié)構(gòu)分析最理想的結(jié)構(gòu)，能夠穩(wěn)定收集準確反映樣品的真實結(jié)構(gòu)的圖像。
更新時間:2025-09-28
場發(fā)射掃描電子顯微鏡regulus8200 被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)，半導體?電子行業(yè)，生命科學，材料科學等領(lǐng)域的材料結(jié)構(gòu)觀察。近年來，新一代的電子器件應(yīng)用中受到廣泛期待的新型碳材料，高分子材料，復合材料等的研究作為先進科學技術(shù)的中堅技術(shù)，在全世界范圍內(nèi)受到熱捧。
更新時間:2025-09-28
瑞士萬通nova軟件選用瑞士進口柱塞桿，通過自主研發(fā)的冷壓柱塞桿裝配工藝，達到同軸度小于0.01mm國際水平，填補了國內(nèi)冷壓裝配柱塞桿空白，保障輸液泵長期穩(wěn)定工作。
更新時間:2025-09-28
日立全新一代熱場發(fā)射掃描電鏡su5000繼承了日立半導體行業(yè)掃描電鏡cd-sem高穩(wěn)定性和易操作的特點，不僅具有強大的觀察分析能力，同時具有全新的操作體驗。su5000既滿足了專業(yè)電鏡操作者對高分辨觀察和分析的需求，也滿足了電鏡初學者對高質(zhì)量圖片的需求，是一臺操作簡便且功能強大的掃描電鏡。
更新時間:2025-09-28
su8200 系列冷場掃描是日立高新經(jīng)過多年潛心鉆研，巨額投入而研發(fā)出來的新一代革新性冷場電鏡，此系列掃描電鏡在完全秉承以往冷場發(fā)射掃描電鏡全部優(yōu)點
更新時間:2025-09-28
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡，達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進的真空系統(tǒng)和電子光學系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。
更新時間:2025-09-28
日立2011年新推出了它的后續(xù)機型----su8010，它繼承了s-4800的優(yōu)點，性能有進一步提高，1kv使用減速功能后，分辨率提升到1.3nm，相對于s-4800可以在更低的加速電壓下呈高分辨像，明顯提升了以往很難觀測的低原子序數(shù)樣品的觀測效果。
更新時間:2025-09-28
日立臺式電鏡tm3030標配4分割背散射探測器,可采集來自四個不同方向的圖像信息,可以有四種成像模式。放大倍數(shù)可達6萬倍，數(shù)字放大可達24萬倍.標配大樣品艙，可容納最大樣品直徑70mm,厚度50mm。
更新時間:2025-09-28
可遵照客戶服務(wù)指南任意移動sem設(shè)備，提供5軸共心樣品臺（電動或手動）的臺式sem，中心傾斜對于3d重構(gòu)功能至關(guān)重要。高分辨率，與傳統(tǒng)sem一樣優(yōu)異；高空間利用率和便攜性，易于移動，可安裝在任何地方；無需等待：抽氣90/排氣10；高度可靠的高壓組件；無需對準電子槍。
更新時間:2025-09-28
全新的易于學習的界面可幫助您快速掌握新信息，是各種應(yīng)用的理想選擇。phenom xl g2 升為全面屏成像，平均成像時間僅為 40 ，比市場上其他臺式電鏡的速度快 5 倍之多。系統(tǒng)可對大 100 x 100mm 的樣品進行分析，8nm 的分辨率為分析提供更多的細節(jié)。利設(shè)計的放氣/樣品裝載系統(tǒng)可以實現(xiàn)全快的放氣/裝載速度，并獲得大的樣品吞吐效率。
更新時間:2025-09-27
加快材料研究的突破性進展，您的實驗室需要一臺具備快速準確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 phenom prox 飛納臺式掃描電鏡能譜一體機引入了全新一代操作系統(tǒng)，通過改進光路設(shè)計，將分辨率提升到新高度。能譜操作界面與能譜算法進一步升，易于操作，元素分析更快速。
更新時間:2025-09-27
飛納高分辨率業(yè)版 phenom pro 是飛納電鏡系列中先進的產(chǎn)品，第五代 phenom pro 放大倍數(shù)提升為 150,000 倍，分辨率優(yōu)于 8 nm，30 快速得到表面細節(jié)豐富的高質(zhì)量圖像
更新時間:2025-09-27
最新產(chǎn)品
- 智能型砂石堿活性快速測定儀生產(chǎn)廠家 2025/10/5 20:21:35
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- ICU病房醫(yī)用降溫毯 2025/10/5 9:45:34
- 腦損傷發(fā)熱醫(yī)用降溫毯 2025/10/5 9:42:16
- 術(shù)后持續(xù)發(fā)熱使用的降溫毯 2025/10/5 9:28:50
- 術(shù)后發(fā)熱醫(yī)用降溫毯 2025/10/5 9:28:31
- 發(fā)熱病人醫(yī)用降溫設(shè)備 2025/10/5 9:28:02
- 重癥病人用的降溫毯 2025/10/5 9:21:00
- 重癥病房醫(yī)用降溫毯 2025/10/5 9:18:41
- 醫(yī)用降溫毯和亞低溫治療儀 2025/10/5 9:16:02
- 醫(yī)用降溫毯和降溫帽 2025/10/5 9:11:52
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- ?日本Magnescale測量探規(guī)_位移傳感器 2025/10/5 4:18:40
- 日本Magnescale測量探規(guī)_位移傳感器 2025/10/5 4:05:49
- 日本Magnescale測量探規(guī)_位移傳感器 2025/10/5 4:02:45
- 日本Magnescale測量探規(guī)_位移傳感器 2025/10/5 3:56:57
- 日本Magnescale測量探規(guī)_位移傳感器 2025/10/5 3:53:58
- 日本Magnescale測量探規(guī)_位移傳感器 2025/10/5 3:50:50
- 日本Magnescale測量探規(guī)_位移傳感器 2025/10/5 3:46:23
- 日本Magnescale測量探規(guī)_位移傳感器 2025/10/5 3:45:43
- 日本Magnescale測量探規(guī)_位移傳感器 2025/10/5 3:44:56
- 日本Magnescale測量探規(guī)_位移傳感器 2025/10/5 3:43:31
- 日本Magnescale測量探規(guī)_位移傳感器 2025/10/5 3:42:06
- 日本Magnescale測量探規(guī)_位移傳感器 2025/10/5 3:41:26
- 日本Magnescale測量探規(guī)_位移傳感器 2025/10/5 3:40:36
- 日本Magnescale測量探規(guī)_位移傳感器 2025/10/5 3:39:55
- 日本Magnescale測量探規(guī)_位移傳感器 2025/10/5 3:38:45