掃描電子顯微鏡（SEM）產(chǎn)品及廠家
“tm4000”和“tm4000plus”可簡化從樣品觀察、圖像確認(rèn)到生成報告等一系列操作過程，大幅提高了工作效率。還標(biāo)配了報告生成功能，觀察結(jié)束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成microsoft®word®、excel®、powerpoint®格式的報告。此外，選配項還可實(shí)現(xiàn)更多功能?？稍跇悠穫}內(nèi)加裝光學(xué)相機(jī)來拍攝照片，以往通過經(jīng)驗(yàn)尋找目標(biāo)位置*1，現(xiàn)在可
更新時間:2025-12-30
“regulus系列“是日立高新技術(shù)的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續(xù)機(jī)型開發(fā)的 “regulus8100“ 以及su8200系列的升 “regulus8220“ “regulus8230“ “regulus8240“，共4個機(jī)型，均實(shí)現(xiàn)了分辨率和操作性的強(qiáng)化。
更新時間:2025-12-30
飛納電鏡能譜一體機(jī) phenom prox 是終的集成化成像分析系統(tǒng)。借助該系統(tǒng)，既可觀察樣品的表面形貌，又可分析其元素組分。
更新時間:2025-12-30
飛納電鏡推出的 chemisem 技術(shù)，將 sem 形貌觀察與 eds 成分分析相結(jié)合，讓工作流程更加流暢，簡化了許多材料（包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質(zhì)材料等）的分析流程：通過彩色元素分布圖與 sem 圖像的實(shí)時疊加，在成像同時提供高質(zhì)量的成分定性定量信息。
更新時間:2025-12-30
phenom maps 作為一款多模態(tài)多維度地圖式圖像自動采集及拼接軟件，可自動獲取大型圖像數(shù)據(jù)集，并直觀地組合和關(guān)聯(lián)多種成像、分析模式，從而提供多尺度和多模態(tài)的表征數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-12-30
的易于學(xué)習(xí)的界面可幫助您快速掌握信息，是各種應(yīng)用的理想選擇。phenom xl g3 平均成像時間僅為 40 秒，比市場上其他臺式電鏡的速度快 5 倍之多。系統(tǒng)可對最大 100 x 100mm 的樣品進(jìn)行分析，8nm 的分辨率為分析提供更多的細(xì)節(jié)。專利設(shè)計的放氣 / 樣品裝載系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)全世界相對較快的放氣 / 裝載速度，并獲得非常少有的比較高的樣品吞吐效率。
更新時間:2025-12-30
particlex battery 鋰電清潔度分析系統(tǒng)是一款面向鋰離子電池材料與制造環(huán)節(jié)的全自動清潔度檢測設(shè)備。系統(tǒng)基于 sem 與 eds 技術(shù)，可自動識別并定量分析正負(fù)極材料中多種金屬、磁性雜質(zhì)顆粒，幫助溯源，降低安全與一致性風(fēng)險。支持無人值守運(yùn)行，采用 3000 小時長壽命 ceb6 晶體燈絲與高通量設(shè)計，已與鋰電龍頭企業(yè)共建清潔度檢測方法與評價標(biāo)準(zhǔn)，支持上下游統(tǒng)一對標(biāo)與質(zhì)量控制。
更新時間:2025-12-30
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-12-29
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時間:2025-12-29
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡，達(dá)到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進(jìn)的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點(diǎn)： 1. 新型
更新時間:2025-12-29
s-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學(xué)系統(tǒng)，強(qiáng)大的自動化功能，操作更簡易。 特點(diǎn): 1. s-3400n具有強(qiáng)大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設(shè)定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時
更新時間:2025-12-29
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達(dá)300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達(dá)203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進(jìn)行能譜分析 ● 樣品室設(shè)置多種接口，可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達(dá)臺可以傾
更新時間:2025-12-29
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-12-29
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時間:2025-12-29
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-12-29
tomlov hdmi電源產(chǎn)品顯微鏡將傳統(tǒng)顯微鏡升級為數(shù)字可視化系統(tǒng)，讓觀察更輕松、記錄更便捷。三款產(chǎn)品以不同配置滿足從入門到專業(yè)的各類需求，是電子愛好者、收藏家和專業(yè)維修人員的實(shí)用工具。
更新時間:2025-12-29
jsm-it800shl 是日本電子株式會社（jeol） 2020 年新推出的場發(fā)射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩(wěn)定性的傳統(tǒng)，同時將分辨率提高到新的限，全新設(shè)計的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成，而且標(biāo)配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時間:2025-12-29
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統(tǒng)，在ksi i-wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進(jìn)行檢測
更新時間:2025-12-29
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統(tǒng),適用于對晶錠的無損檢測，有了它，晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測，晶錠的尺寸可達(dá)450mm，檢測時間短，也不需要做其它設(shè)定。
更新時間:2025-12-29
ksi－nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
更新時間:2025-12-29
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550
更新時間:2025-12-29
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實(shí)時獲取元素分析結(jié)果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報告等。
更新時間:2025-12-29
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設(shè)定視野到生成報告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時間:2025-12-29
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時間:2025-12-29
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:2025-12-29
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-12-29
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-12-29
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機(jī)構(gòu)，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2025-12-29
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測，并且能以0.3ev(費(fèi)米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析，超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2025-12-29
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:2025-12-29
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進(jìn)行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時間:2025-12-29
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實(shí)現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-12-29
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。
更新時間:2025-12-29
德neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計優(yōu)勢，采用專利保護(hù)的雙光路設(shè)計，完全可以實(shí)現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實(shí)現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時，由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源（thz-tds），也可以實(shí)現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2025-12-29
ss-60系列臺式掃描電鏡具有體型小巧,占用空間?。环糯蟊堵?0 ~60,000 x，15nm分辨率；采用二次電子和背散電子雙重探測器；ss-60掃描電鏡具有強(qiáng)大軟件功能,操作簡單,易于維護(hù)；國產(chǎn)掃描電鏡，良好售后服務(wù)系統(tǒng)。
更新時間:2025-12-27
ss-150系列臺式掃描電鏡具有體型小巧,占用空間??；放大倍率30~150,000 x ；5nm分辨率；采用二次電子和背散電子雙重探測器；通過選配eds可進(jìn)行元素成份分析；ss-150系列掃描電鏡具有強(qiáng)大軟件功能,操作簡單,易于維護(hù)；國產(chǎn)掃描電鏡，良好售后服務(wù)系統(tǒng)。
更新時間:2025-12-27
掃描電子顯微鏡 (sem) 不僅是開展科研工作所必不可少的工具，對于需要品控的制造工廠也是不可或缺的。 在這些場景中，用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作，因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。 jsm-it510 新增的“簡單 sem”功能，用戶可將 sem 觀察所需的“手動重復(fù)操作交給它”，從而更高效、更輕松地完成 sem 觀察。
更新時間:2025-12-27
2024年5月30日，日本電子株式會社（jeol)全球同步發(fā)布新型號的120kv透射電鏡。這款電鏡設(shè)計精煉，更換燈絲方便，自動化程度高，具有操作簡單方便，功能強(qiáng)大等特點(diǎn)。
更新時間:2025-12-27
日本電子熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡適用于納米材料、化學(xué)、新材料、半導(dǎo)體器件的觀察和分析。
更新時間:2025-12-27
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍，用于觀察亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。pure 具有全自動操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn)，適用于傳統(tǒng)大電鏡待測樣品的快速篩選，也適合于光學(xué)顯微鏡的分辨率無法滿足需求的客戶。
更新時間:2025-12-27
第六代 phenom pro 臺式掃描電鏡是一款功能強(qiáng)大，輕松易用的多功能設(shè)備。長壽命、高亮度 ceb6 燈絲擴(kuò)展了研究設(shè)備的功能，結(jié)合豐富的樣品杯選件和拓展的全自動軟件，phenom pro 可以適用于廣泛的研究域。
更新時間:2025-12-27
最新產(chǎn)品
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- MTSY-30型 炭黑含量測定儀 測量準(zhǔn)確，自動控溫 2026/1/2 16:26:31
- MTSY-29型 土工合成材料垂直滲透儀（水利標(biāo)準(zhǔn)）溶解氧分析儀：范圍0-20mg/L，0-200％，0-400hPa 2026/1/2 16:11:27
- 快速輸血輸液加壓技術(shù)系統(tǒng) 2026/1/2 15:58:35
- MTSY-28型 土工布多層測厚儀 上下平板有足夠的剛性，在規(guī)定的壓力下試驗(yàn)時，其變曲量不招過0.1mm 2026/1/2 15:55:31
- 高效輸血輸液加壓醫(yī)療設(shè)備 2026/1/2 15:55:15
- 雙通道輸血輸液高效助推系統(tǒng) 2026/1/2 15:51:44
- 醫(yī)院輸血輸液快速加壓解決方案 2026/1/2 15:50:38
- 醫(yī)用輸血輸液高效加壓系統(tǒng) 2026/1/2 15:50:17
- MTSY-27型 土工膜脹破強(qiáng)度測定儀 一機(jī)多用，可做水利標(biāo)準(zhǔn)土工膜耐靜水壓試驗(yàn) 2026/1/2 15:46:03
- 醫(yī)院專用快速輸血輸液加壓設(shè)備 2026/1/2 15:40:45
- 醫(yī)用高效輸血輸液加壓裝置 2026/1/2 15:40:09
- 雙通道快速輸血輸液助推儀 2026/1/2 15:34:54
- MTSY-26型 氙弧燈耐氣候試驗(yàn)箱 采用長軸風(fēng)扇電機(jī)，耐高低溫之不銹鋼多冀式葉輪 2026/1/2 15:34:36
- 麻醉用快速輸血輸液增壓器 2026/1/2 15:31:06
- MTSY-25型 紫外線耐氣候試驗(yàn)箱(UV) 含紫外線輻照度測量儀 符合GB/T14522 2026/1/2 15:18:58
- MTSY-24型 熱空氣老化箱 外型尺寸：820×620×1350mm 2026/1/2 15:00:13
- MTSY-23型 土工膜耐靜水壓測定儀 性能穩(wěn)定，方便使用 2026/1/2 14:44:19
- MTSY-22型 鈉基膨潤土耐靜水壓測定儀 安裝試樣便捷 符合JC/T2054 2026/1/2 14:36:53
- MTSY-21型 鈉基膨潤土防水毯滲透系數(shù)測定儀 符合DL/T5886 數(shù)顯自動計時 2026/1/2 14:21:16
- MTSY-20型 土工膜滲透系數(shù)測定儀 標(biāo)配水源水箱、選配：可控恒溫供水（需定制） 2026/1/2 14:08:09
- MTSY-19型 土工合成材料調(diào)溫調(diào)濕箱 外型尺寸：650×620×1250（mm） 2026/1/2 13:51:36
- MTSY-17型 土工合成材料蠕變試驗(yàn)系統(tǒng) 四工位每次可做4個試樣 符合DL/T5886 2026/1/2 13:41:02
- MTSY-16型 土工布厚度儀（新國標(biāo)四合一）采用杠桿原理，放大了加壓力臂長度 2026/1/2 13:25:49
- MTSY-15型 電動數(shù)顯土工合成材料厚度儀（新國標(biāo)四合一）主機(jī)尺寸：740×470×1120mm 2026/1/2 13:12:46
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- MTSY-13型 土工合成材料淤堵試驗(yàn)儀 試樣夾持器采用：304不銹鋼配件 2026/1/2 11:51:13
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