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掃描電子顯微鏡(SEM)產(chǎn)品及廠家
S600和伍水浸超聲掃描顯微鏡半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)儀
超聲掃描顯微鏡(sat)是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測(cè)成像設(shè)備,主要利用高頻超聲波,對(duì)各類半導(dǎo)體器件、材料進(jìn)行檢測(cè),能夠檢測(cè)出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷,并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中,不會(huì)對(duì)樣品造成損傷,不會(huì)影響樣品性能,可有效滿足新能源、半導(dǎo)體、電力電子、熱管理材料、金剛石復(fù)合材料、碳纖維復(fù)合材料等行業(yè)需求。
更新時(shí)間:
2025-12-31
該公司產(chǎn)品分類:
惠州市華高儀器設(shè)備有限公司
1標(biāo)準(zhǔn)操作SH/T 0059潤滑油燕發(fā)損失的測(cè)定諾亞克法
標(biāo)準(zhǔn)操作sh/t 0059潤滑油燕發(fā)損失的測(cè)定諾亞克法
更新時(shí)間:
2025-12-31
該公司產(chǎn)品分類:
大連分析儀器廠
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)操作SH/T 0221液化石油氣密度或相對(duì)密度測(cè)定法(壓力密度計(jì)法)
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)操作sh/t 0221液化石油氣密度或相對(duì)密度測(cè)定法(壓力密度計(jì)法)
更新時(shí)間:
2025-12-31
該公司產(chǎn)品分類:
大連分析儀器廠
SEM掃描電鏡,臺(tái)式掃描電子顯微鏡#2023已更新
sem掃描電鏡,臺(tái)式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中,掃描電鏡主要可以用來觀測(cè)及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時(shí)間:
2025-12-31
該公司產(chǎn)品分類:
上海雋思實(shí)驗(yàn)儀器有限公司
SEM掃描電鏡,臺(tái)式掃描電子顯微鏡
sem掃描電鏡,臺(tái)式掃描電子顯微鏡在電子學(xué)研究中,掃描電鏡主要可以用來觀測(cè)及分析半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態(tài)或缺陷 。
更新時(shí)間:
2025-12-31
該公司產(chǎn)品分類:
上海雋思實(shí)驗(yàn)儀器有限公司
SU8700日立肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
fe-sem獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對(duì)簡(jiǎn)單,并且它可以觀察、測(cè)量并分析樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu),因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學(xué)、材料等域。
更新時(shí)間:
2025-12-30
該公司產(chǎn)品分類:
上海斯邁歐分析儀器有限公司
SU8600日立冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
fe-sem獲得的圖像分辨率高,信息豐富,樣品處理相對(duì)簡(jiǎn)單,并且它可以觀察、測(cè)量并分析樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu),因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學(xué)、材料等域。近年來,以materials integration為代表,其應(yīng)用域及用途在不斷擴(kuò)展,短時(shí)間內(nèi)獲取大量數(shù)據(jù),減輕作業(yè)負(fù)荷成為市場(chǎng)的一大需求。
更新時(shí)間:
2025-12-30
該公司產(chǎn)品分類:
上海斯邁歐分析儀器有限公司
SU9000日立高新超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
日立高新超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000是門為電子束敏感樣品和需大300萬倍穩(wěn)定觀察的先進(jìn)半導(dǎo)體器件,高分辨成像所設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:
2025-12-30
該公司產(chǎn)品分類:
上海斯邁歐分析儀器有限公司
SU3900日立大型掃描電鏡
在以納米技術(shù)和生物技術(shù)為主的產(chǎn)業(yè)域里,從物質(zhì)的微細(xì)結(jié)構(gòu)到組成成分,sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應(yīng)用。sem用途日益擴(kuò)大,但對(duì)于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車零配件等超大/超重樣品,由于電鏡樣品臺(tái)能對(duì)應(yīng)的樣品尺寸和重量受到限制,所以觀察時(shí)需要進(jìn)行切割等加工。因此,對(duì)超大樣品不施以加工處理,便可直接觀察表面微細(xì)形貌和進(jìn)行各種分析則成為重要的課題。
更新時(shí)間:
2025-12-30
該公司產(chǎn)品分類:
上海斯邁歐分析儀器有限公司
SU3800日立大型掃描電鏡
對(duì)超大樣品不施以加工處理,便可直接觀察表面微細(xì)形貌和進(jìn)行各種分析則成為重要的課題。
更新時(shí)間:
2025-12-30
該公司產(chǎn)品分類:
上海斯邁歐分析儀器有限公司
SU7000日立熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
此次推出的su7000采用全新設(shè)計(jì)的探測(cè)器,使得對(duì)二次電子信號(hào)、背散射電子信號(hào)的檢測(cè)以及分離能力大大提升。
更新時(shí)間:
2025-12-30
該公司產(chǎn)品分類:
上海斯邁歐分析儀器有限公司
TM4000日立新型臺(tái)式掃描電鏡
“tm4000”和“tm4000plus”可簡(jiǎn)化從樣品觀察、圖像確認(rèn)到生成報(bào)告等一系列操作過程,大幅提高了工作效率。還標(biāo)配了報(bào)告生成功能,觀察結(jié)束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成microsoft®word®、excel®、powerpoint®格式的報(bào)告。此外,選配項(xiàng)還可實(shí)現(xiàn)更多功能。可在樣品倉內(nèi)加裝光學(xué)相機(jī)來拍攝照片,以往通過經(jīng)驗(yàn)尋找目標(biāo)位置*1,現(xiàn)在可
更新時(shí)間:
2025-12-30
該公司產(chǎn)品分類:
上海斯邁歐分析儀器有限公司
Regulus8200日立新型臺(tái)式掃描電鏡
“regulus系列“是日立高新技術(shù)的fe-sem的全新品牌,包括作為su8010的后續(xù)機(jī)型開發(fā)的 “regulus8100“ 以及su8200系列的升 “regulus8220“ “regulus8230“ “regulus8240“,共4個(gè)機(jī)型,均實(shí)現(xiàn)了分辨率和操作性的強(qiáng)化。
更新時(shí)間:
2025-12-30
該公司產(chǎn)品分類:
上海斯邁歐分析儀器有限公司
電鏡能譜一體機(jī) Phenom ProX G7飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī) Phenom ProX G7
飛納電鏡能譜一體機(jī) phenom prox 是終的集成化成像分析系統(tǒng)。借助該系統(tǒng),既可觀察樣品的表面形貌,又可分析其元素組分。
更新時(shí)間:
2025-12-30
該公司產(chǎn)品分類:
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
ChemiPhase適用金屬和礦物研究—飛納電鏡物相分析軟件
適用金屬和礦物研究—飛納電鏡chemiphase物相分析軟件更容易,更全面,更準(zhǔn)確的物相分析
更新時(shí)間:
2025-12-30
該公司產(chǎn)品分類:
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
Automated Image Mapping飛納電鏡全景拼圖【新品】
全新界面,一鍵掃描更便捷掃描“形狀”自定義大樣品全景觀測(cè)高清圖像無錯(cuò)位
更新時(shí)間:
2025-12-30
該公司產(chǎn)品分類:
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
ChemiSEMChemiSEM 彩色成像技術(shù)
飛納電鏡推出的 chemisem 技術(shù),將 sem 形貌觀察與 eds 成分分析相結(jié)合,讓工作流程更加流暢,簡(jiǎn)化了許多材料(包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質(zhì)材料等)的分析流程:通過彩色元素分布圖與 sem 圖像的實(shí)時(shí)疊加,在成像同時(shí)提供高質(zhì)量的成分定性定量信息。
更新時(shí)間:
2025-12-30
該公司產(chǎn)品分類:
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
Phenom MAPSPhenom MAPS 大面積圖像拼接
phenom maps 作為一款多模態(tài)多維度地圖式圖像自動(dòng)采集及拼接軟件,可自動(dòng)獲取大型圖像數(shù)據(jù)集,并直觀地組合和關(guān)聯(lián)多種成像、分析模式,從而提供多尺度和多模態(tài)的表征數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:
2025-12-30
該公司產(chǎn)品分類:
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
Phenom XL G3自動(dòng)掃描電鏡飛納臺(tái)式掃描電鏡 | 工業(yè) 4.0 自動(dòng)化與高通量質(zhì)控解決方案
的易于學(xué)習(xí)的界面可幫助您快速掌握信息,是各種應(yīng)用的理想選擇。phenom xl g3 平均成像時(shí)間僅為 40 秒,比市場(chǎng)上其他臺(tái)式電鏡的速度快 5 倍之多。系統(tǒng)可對(duì)最大 100 x 100mm 的樣品進(jìn)行分析,8nm 的分辨率為分析提供更多的細(xì)節(jié)。專利設(shè)計(jì)的放氣 / 樣品裝載系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)全世界相對(duì)較快的放氣 / 裝載速度,并獲得非常少有的比較高的樣品吞吐效率。
更新時(shí)間:
2025-12-30
該公司產(chǎn)品分類:
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
ParticleX Battery鋰電清潔度鋰電清潔度行業(yè)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)|ParticleX Battery 全自動(dòng)鋰電清潔度分析整體方案
particlex battery 鋰電清潔度分析系統(tǒng)是一款面向鋰離子電池材料與制造環(huán)節(jié)的全自動(dòng)清潔度檢測(cè)設(shè)備。系統(tǒng)基于 sem 與 eds 技術(shù),可自動(dòng)識(shí)別并定量分析正負(fù)極材料中多種金屬、磁性雜質(zhì)顆粒,幫助溯源,降低安全與一致性風(fēng)險(xiǎn)。支持無人值守運(yùn)行,采用 3000 小時(shí)長(zhǎng)壽命 ceb6 晶體燈絲與高通量設(shè)計(jì),已與鋰電龍頭企業(yè)共建清潔度檢測(cè)方法與評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn),支持上下游統(tǒng)一對(duì)標(biāo)與質(zhì)量控制。
更新時(shí)間:
2025-12-30
該公司產(chǎn)品分類:
復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
TM4000Ⅱ供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測(cè)器,可采集四個(gè)不同方向的圖像信息,對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能,同時(shí),電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時(shí)間:
2025-12-29
該公司產(chǎn)品分類:
蘇州佐藤精密儀器有限公司
FlexSEM1000 II供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡,具有體積小、操作簡(jiǎn)單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測(cè)器和背散射電子探測(cè)器,可以觀察樣品的形貌和成分;同時(shí)具有低真空功能,可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品;配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺(tái)可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時(shí)間:
2025-12-29
該公司產(chǎn)品分類:
蘇州佐藤精密儀器有限公司
SU9000供應(yīng)日立SU9000新型超高分辨冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡,達(dá)到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進(jìn)的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng),不僅分辨率性能明顯提升,而且作為一款冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作,可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點(diǎn): 1. 新型
更新時(shí)間:
2025-12-29
該公司產(chǎn)品分類:
蘇州佐藤精密儀器有限公司
S-3400N供應(yīng)蘇州日立S-3400N掃描電子顯微鏡
s-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學(xué)系統(tǒng),強(qiáng)大的自動(dòng)化功能,操作更簡(jiǎn)易。 特點(diǎn): 1. s-3400n具有強(qiáng)大的自動(dòng)功能,包括自動(dòng)燈絲飽和、4偏壓、自動(dòng)槍對(duì)中、自動(dòng)束流設(shè)定、 自動(dòng)合軸自動(dòng)聚焦和消像散、自動(dòng)亮度對(duì)比度等。 2. 在3kv低加速電壓時(shí)
更新時(shí)間:
2025-12-29
該公司產(chǎn)品分類:
蘇州佐藤精密儀器有限公司
S-3700N供應(yīng)蘇州日立S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電鏡
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大,超重,超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達(dá)300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達(dá)203mm ● 在觀察110mm高樣品時(shí)可進(jìn)行能譜分析 ● 樣品室設(shè)置多種接口,可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達(dá)臺(tái)可以傾
更新時(shí)間:
2025-12-29
該公司產(chǎn)品分類:
蘇州佐藤精密儀器有限公司
TM4000Ⅱ供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測(cè)器,可采集四個(gè)不同方向的圖像信息,對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能,同時(shí),電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時(shí)間:
2025-12-29
該公司產(chǎn)品分類:
蘇州科帝斯懷特工業(yè)設(shè)備有限公司
FlexSEM1000 II供應(yīng)蘇州日立FlexSEM1000 II鎢燈絲掃描電鏡
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡,具有體積小、操作簡(jiǎn)單、性能強(qiáng)、擴(kuò)展功能豐富等特點(diǎn)。flexsem1000 ii配備了二次電子探測(cè)器和背散射電子探測(cè)器,可以觀察樣品的形貌和成分;同時(shí)具有低真空功能,可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品;配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺(tái)可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時(shí)間:
2025-12-29
該公司產(chǎn)品分類:
蘇州科帝斯懷特工業(yè)設(shè)備有限公司
TM4000Ⅱ供應(yīng)蘇州日立TM4000Ⅱ掃描電鏡
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調(diào),并配備4分割背散射探測(cè)器,可采集四個(gè)不同方向的圖像信息,對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能,同時(shí),電鏡圖片可以報(bào)告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉,可容納大樣品直徑80mm,厚度50mm。
更新時(shí)間:
2025-12-29
該公司產(chǎn)品分類:
蘇州科帝斯懷特工業(yè)設(shè)備有限公司吳江銷售中心
DM401/DM401 Pro/DM402 ProTOMLOV HDMI 顯微鏡 DM401/DM401 Pro/DM402 Pro 2K/4K 高清 1200X 放大 7 寸 IPS 屏 雙 LED 光源 自動(dòng)對(duì)焦 電子維修 PCB 焊接珠寶鑒定
tomlov hdmi電源產(chǎn)品顯微鏡將傳統(tǒng)顯微鏡升級(jí)為數(shù)字可視化系統(tǒng),讓觀察更輕松、記錄更便捷。三款產(chǎn)品以不同配置滿足從入門到專業(yè)的各類需求,是電子愛好者、收藏家和專業(yè)維修人員的實(shí)用工具。
更新時(shí)間:
2025-12-29
該公司產(chǎn)品分類:
深圳奧德賽創(chuàng)精密儀器有限公司
EVO 10ZEISS 高分辨電子掃描顯微鏡
zeiss 高分辨電子掃描顯微鏡-evo 10,具備自動(dòng)化工作流程的高清晰掃描電鏡
更新時(shí)間:
2025-12-29
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JSM-IT800SHL日本電子JEOL場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
jsm-it800shl 是日本電子株式會(huì)社(jeol) 2020 年新推出的場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡,它秉承 jeol 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流,高穩(wěn)定性的傳統(tǒng),同時(shí)將分辨率提高到新的限,全新設(shè)計(jì)的超混合型物鏡,高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時(shí)完成,而且標(biāo)配 jeol 新開發(fā)的 neo
更新時(shí)間:
2025-12-29
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
i-Wafer德國KSI 型 全自動(dòng)晶圓超聲波缺陷檢測(cè)系統(tǒng)
德國ksi i-wafer型全自動(dòng)晶圓超聲波缺陷檢測(cè)系統(tǒng),在ksi i-wafer的探測(cè)下,晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進(jìn)行檢測(cè)
更新時(shí)間:
2025-12-29
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
i-IngotKSI 型全自動(dòng)晶錠分析檢測(cè)系統(tǒng)
ksi i-ingot型全自動(dòng)晶錠分析檢測(cè)系統(tǒng),適用于對(duì)晶錠的無損檢測(cè),有了它,晶錠內(nèi)部的裂縫或雜質(zhì)就能得到快速檢測(cè),晶錠的尺寸可達(dá)450mm,檢測(cè)時(shí)間短,也不需要做其它設(shè)定。
更新時(shí)間:
2025-12-29
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Nano型KSI高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi-nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)聲學(xué)顯微成像系統(tǒng)和光學(xué)顯微成像系統(tǒng)的完美結(jié)合
更新時(shí)間:
2025-12-29
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
V-duo德國KSI 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng)
ksi v-duo 雙探頭超聲波掃描顯微鏡系統(tǒng),同時(shí)使用2只換能器
更新時(shí)間:
2025-12-29
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Crossbeam 350,Crossbeam 550德國ZEISS蔡司聚焦離子束掃描電鏡FIB/SEM
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350,crossbeam 550
更新時(shí)間:
2025-12-29
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JSM-IT200 InTouchScope日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ,是一款更簡(jiǎn)潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。使用初學(xué)者易懂的樣品交換導(dǎo)航,可以輕松地從樣品臺(tái)搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野,live analysis*2可以不用特意分析就能實(shí)時(shí)獲取元素分析結(jié)果,smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報(bào)告等。
更新時(shí)間:
2025-12-29
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JSM-IT500HR日本JEOL掃描電子顯微鏡
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr,采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng),可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率;從設(shè)定視野到生成報(bào)告,利用完全集成的軟件大大地提高了作業(yè)速度。
更新時(shí)間:
2025-12-29
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JSM-7900F日本JEOL熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
日本jeol熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 jsm-7900f
更新時(shí)間:
2025-12-29
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
IB-09060CIS日本JEOL低溫冷凍離子切片儀
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis,冷卻保持時(shí)間長(zhǎng),有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品,也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時(shí)間:
2025-12-29
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
EM-09100IS日本JEOL 離子切片儀
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ,用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡(jiǎn)單。低能量、低角度(0°到6°)的氬離子束通過遮光帶照射樣品,大大降低了離子束對(duì)樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好,對(duì)不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
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2025-12-29
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IB-19530CP日本JEOL截面樣品拋光儀
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp,采用多用途樣品臺(tái),通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
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2025-12-29
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IB-19530CP日本JEOL截面樣品制備裝置
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp,采用多用途樣品臺(tái),通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座,不僅能截面刻蝕,還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
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IB-19520CCP日本JEOL 截面樣品拋光儀
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp,在加工過程中利用液氮冷卻,能減輕離子束對(duì)樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長(zhǎng)、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下,也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫,并且可以拆卸。配有傳送機(jī)構(gòu),在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
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2025-12-29
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日本JEOL 軟X射線分析譜儀
日本jeol 軟x射線分析譜儀,通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度x射線ccd相機(jī),實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測(cè),并且能以0.3ev(費(fèi)米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析,超過了wds的能量分辨率。
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JXA-iHP100日本JEOL 電子探針顯微分析儀
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100,可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀x射線探測(cè)器,組合使用wds和eds,能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
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2025-12-29
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JIB-4000日本JEOL 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000,配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后,就能對(duì)樣品表面進(jìn)行sim觀察 、研磨,沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品,為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較,sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異,這些都非常適合于評(píng)估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
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JIB-4700F日本JEOL 雙束加工觀察系統(tǒng)
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f,該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級(jí)混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測(cè)器系統(tǒng),在1kv低加速電壓下,實(shí)現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合,可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。
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2025-12-29
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JSX-1000S日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s,采用觸控屏操作、提供更加簡(jiǎn)便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析(fp法・檢量線法)、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。
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HV-THz-neaSNOM德Neaspec真空太赫茲波段近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡
德neaspec真空太赫茲波段近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom,該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計(jì)優(yōu)勢(shì),采用專利保護(hù)的雙光路設(shè)計(jì),完全可以實(shí)現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測(cè)量。hv-thz-neasnom在實(shí)現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時(shí),由于采用0.1-3thz波段的時(shí)域太赫茲光源(thz-tds),也可以實(shí)現(xiàn)近場(chǎng)太赫茲成像和圖譜的同時(shí)測(cè)量。
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2025-12-29
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