場發(fā)射掃描電鏡產(chǎn)品及廠家
zeiss σigma 電鏡為肖特基（schottky）熱場發(fā)射掃描電鏡。目前歐美地區(qū)比較推崇熱場發(fā)射電鏡，而日本較熱衷于冷場發(fā)射電鏡。該場發(fā)射掃描電鏡主要有如下特點(diǎn)：
更新時(shí)間:2025-10-03
德國zeiss場發(fā)射電子顯微鏡sigma 300 ，專利gemini鏡筒，超高的束流穩(wěn)定性， 卓越的低電壓性能，in lens 探測器，磁性材料高分辨觀察。
更新時(shí)間:2025-09-29
thermo scientific helios 5 d ualbeam 產(chǎn)品系列憑借其最先進(jìn)的聚焦離子束和電子束性能、專有軟件、自動(dòng)化和易用性特征，重新定義了樣品制備和三維表征的標(biāo)準(zhǔn)。
更新時(shí)間:2025-09-29
jem-3200fs場發(fā)射電子顯微鏡配備了高加速電壓為300kv的場發(fā)射電子槍（feg）和鏡筒內(nèi)置式ω型能量過濾器，能為廣泛的研究域提供各種全新的解決方案。
更新時(shí)間:2025-09-29
jem-f200 場發(fā)射透射電子顯微鏡，以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的jem-f200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑，易用性強(qiáng)，外觀設(shè)計(jì)精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗(yàn)。
更新時(shí)間:2025-09-29
tescan 高分辨率場發(fā)射掃描電鏡使用電子束分析樣品表面，分析尺度可至納米級(jí)。掃描電子顯微鏡可獲得高分辨的高倍圖像，廣泛應(yīng)用于各個(gè)科學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域。
更新時(shí)間:2025-09-29
tescan mira 場發(fā)射掃描電鏡是新推出的第四代高性能掃描電子顯微鏡，配置有高亮度肖特基場發(fā)射電子槍，在tescan 的 essence 操作軟件的同一個(gè)窗口中實(shí)現(xiàn)了 sem 成像和實(shí)時(shí)元素分析。
更新時(shí)間:2025-09-29
tescan clara 超高分辨率場發(fā)射掃描電鏡是一款應(yīng)用廣泛的多功能掃描電子顯微鏡，是基于成功的s8000 基礎(chǔ)上進(jìn)一步研發(fā)的，其設(shè)計(jì)更能滿足材料科學(xué)的需求，適用于對(duì)各種不同類型材料的分析和表征。
更新時(shí)間:2025-09-29
"regulus系列"是日立高新技術(shù)的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續(xù)機(jī)型開發(fā)的 "regulus8100" 以及su8200系列的升級(jí) "regulus8220" "regulus8230" "regulus8240"，共4個(gè)機(jī)型，均實(shí)現(xiàn)了分辨率和操作性的強(qiáng)化。
更新時(shí)間:2025-09-28
【hitachi】日立新型臺(tái)式掃描電鏡tm4000plus可在樣品倉內(nèi)加裝光學(xué)相機(jī)來拍攝照片，以往通過經(jīng)驗(yàn)尋找目標(biāo)位置*1，現(xiàn)在可在顯示屏上直接操作。在拍攝sem圖像時(shí)，由于“tm4000”和“tm4000plus”配置雙軸馬達(dá)臺(tái)*2，原來需手動(dòng)調(diào)整的操作，現(xiàn)在只需在顯示器上選擇要觀察的位置即可。
更新時(shí)間:2025-09-28
【hitachi】日立120kv透射電鏡ht7800 很好地繼承了日立120kv-tem的基本理念，兼顧低倍率與寬視野觀察、高襯度與高分辨率觀察，可在同一儀器上一鍵切換等。集高襯度和高分辨兩種模式于一體，可同時(shí)滿足軟材料/納米材料類和生命科學(xué)類客戶對(duì)電鏡的需求。
更新時(shí)間:2025-09-28
【hitachi】su9000新型超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡采取了全新改進(jìn)的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。
更新時(shí)間:2025-09-28
【hitachi】冷場發(fā)射掃描電鏡regulus8100易維護(hù)、易操作等優(yōu)點(diǎn)，進(jìn)一步提高性能，1kv減速模式下最高分辨率達(dá)到了0.8nm，15kv達(dá)到0.7nm，高低電壓均可滿足高分辨的觀察。
更新時(shí)間:2025-09-28
【hitachi】日立高性能鎢燈絲掃描電鏡su3500通過高畫質(zhì)提升掃描電鏡的分析能力和操作性, 凝聚日立最先進(jìn)科技“獨(dú)具匠心”。
更新時(shí)間:2025-09-28
【hitachi】日立新型熱場發(fā)射掃描電鏡su5000高穩(wěn)定性熱場發(fā)射電子槍， 全新的em wizard軟件，無需設(shè)置參數(shù)即可獲得高質(zhì)量圖片，高分辨率和強(qiáng)大的分析能力，樣品適用性強(qiáng)：不導(dǎo)電樣品直接觀察（低真空功能，10-300pa）
更新時(shí)間:2025-09-28
日立新型鎢燈絲掃描電鏡flexsem1000 ii 體積小、操作簡單、性能強(qiáng)（4nm@20kv）、擴(kuò)展功能豐富2. 擁有多個(gè)探測器（se、bse）3. 擁有低真空功能，不導(dǎo)電和含水樣品直接觀察
更新時(shí)間:2025-09-28
aerosurf1500可在大氣壓（105pa）下得到sem圖像；2、臺(tái)式掃描電鏡設(shè)計(jì)；3、低真空下成分分析；4、優(yōu)質(zhì)的圖像處理控制；
更新時(shí)間:2025-09-28
日立l型fib-sem-ar三束系統(tǒng)nx9000能夠獲得一系列的截面圖像，從而實(shí)現(xiàn)特定顯微切片的三維結(jié)構(gòu)分析。nx9000中的sem鏡筒和fib鏡筒呈正交結(jié)構(gòu)，而不是常見的對(duì)角構(gòu)造。
更新時(shí)間:2025-09-28
日立高分辨型雙束系統(tǒng)nx5000可以避免樣品損傷，為超薄樣品和復(fù)雜的制備提供了新的解決方案，可以滿足納米材料、半導(dǎo)體材料、生物材料等多種樣品的快速、無損、精細(xì)加工。
更新時(shí)間:2025-09-28
電子束閘為日立臺(tái)式電鏡和大型掃描電鏡提供了多種附件，包括馬達(dá)臺(tái)、加熱臺(tái)、冷臺(tái)、傾斜旋轉(zhuǎn)臺(tái)、電子束閘、cl探測器、stem探測器等。
更新時(shí)間:2025-09-28
日立全新大型鎢燈絲掃描電鏡su3900采用超大的樣品倉和多接口設(shè)計(jì)，適合超大樣品的觀察（直徑300mm）以及多種分析功能的拓展。同
更新時(shí)間:2025-09-28
日立高分辨鎢燈絲掃描電鏡su3800采用全新的hexbias偏壓技術(shù)，使其低電壓性能大大提升，同時(shí)升級(jí)的高靈敏度背散射探測器和可變壓力探測器使得su3800的觀察能力進(jìn)一步提升。
更新時(shí)間:2025-09-28
日立透射電鏡ht7820 繼承了標(biāo)準(zhǔn)版ht7800高速cmos熒光屏相機(jī)設(shè)計(jì)、全數(shù)字化、大集成等優(yōu)點(diǎn)和創(chuàng)新點(diǎn)，仍然采用第二代雙隙物鏡的設(shè)計(jì)，設(shè)計(jì)使用高分辨物鏡，標(biāo)配lab6燈絲，性能實(shí)現(xiàn)突破性提升。
更新時(shí)間:2025-09-28
秉承飛納臺(tái)式掃描電鏡系列全自動(dòng)操作、快速成像、不噴金觀看不導(dǎo)電樣品、完全防震、性能穩(wěn)定的特點(diǎn)，荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場發(fā)射電子源臺(tái)式掃描電鏡 phenom pharos g2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場發(fā)射電子源，使用戶可以輕松獲得高分辨率圖像，分辨率優(yōu)于 1.5nm
更新時(shí)間:2025-09-27
超大樣品臺(tái)（標(biāo)配，僅適用于 phenom xl）phenom xl 電鏡腔室由原來的 32 mm 擴(kuò)容為 100 mm x 100 mm，一次可容納至多 36 個(gè) 1/2 英寸樣品臺(tái)樣品最大尺寸：長 100 mm；寬 100 mm；高度 65 mm用這個(gè)樣品臺(tái)可以對(duì)各種各樣的樣品成像
更新時(shí)間:2025-09-27
設(shè)計(jì)用于冶金/金相樣品的觀察（鑲嵌在樹脂里）最大尺寸：直徑32mm；高度30mm
更新時(shí)間:2025-09-27
微型電子元器件插件是設(shè)計(jì)用來最小化制樣時(shí)間的。插件配合金相樣品杯使用。
更新時(shí)間:2025-09-27
微型電子元器件插件是設(shè)計(jì)用來最小化制樣時(shí)間的。插件配合金相樣品杯使用。
更新時(shí)間:2025-09-27
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺(tái)式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍，用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。基于高亮度 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng)，phenom pure 的分辨率輕松達(dá)到 10 nm，同時(shí)具有全自動(dòng)操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-09-27
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺(tái)式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍，用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)；诟吡炼 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng)，phenom pure 的分辨率輕松達(dá)到 10 nm，同時(shí)具有全自動(dòng)操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-09-27
日立高新技術(shù)公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發(fā)售的肖特基式場發(fā)射掃描電子顯微鏡“su5000“，搭載了全新的用戶界面和“em wizard“，無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。
更新時(shí)間:2025-09-27
日立tm4000掃描電鏡獨(dú)特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。tm4000優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv三種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個(gè)不同方向的圖像信息，對(duì)樣品進(jìn)行多種模式成像。
更新時(shí)間:2025-09-26
1.節(jié)能環(huán)保的設(shè)計(jì)2.率的自動(dòng)功能3.簡捷的操作界面4.高分辨低真空觀察
更新時(shí)間:2025-09-26
· hexbias偏壓鎢燈絲電子槍； · 的高、低電壓性能； · 高靈敏度五分割背散射電子探測器； · 可變壓力二次電子探測器（高、低真空可用）； · 的操作界面和光鏡導(dǎo)航功能；
更新時(shí)間:2025-09-26
現(xiàn)有機(jī)型su8240,su8230,su8220及su8010重新整合，衍生而成regulus8240、regulus8230、regulus8220、regulus8100。"regulus系列"繼承了現(xiàn)有機(jī)型的觀察和分析性能，配備su8200系列的低噪音冷場發(fā)射電子槍*1，可以獲得高穩(wěn)定的束流。
更新時(shí)間:2025-09-26
上海到濮陽托運(yùn)公司-快速直達(dá)承接全國各地的長、短途整車139-1645-8442、滿意物流，誠信專線，快捷貨運(yùn)，零擔(dān)、公路、鐵路運(yùn)輸業(yè)務(wù)，集運(yùn)輸、倉儲(chǔ)、配送、包裝、裝卸。信譽(yù)至上，互惠互利、優(yōu)質(zhì)高效、信譽(yù)優(yōu)秀的宗旨。
更新時(shí)間:2025-09-26
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更新時(shí)間:2025-09-26
--搭載全新用戶界面，向所有用戶提供高畫質(zhì)圖像-- 日立高新技術(shù)公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發(fā)售的肖特基式場發(fā)射掃描電子顯微鏡"su5000"，搭載了全新的用戶界面和"em wizard"，無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片
更新時(shí)間:2025-09-26
、微電腦液晶顯示屏，可在線實(shí)時(shí)監(jiān)測ro水和up水水質(zhì)2、采用一柱雙芯一體式純化柱，更換簡單，使用壽命長3、監(jiān)控濾芯更換周期，中文顯示濾芯更換信息4、采用原裝進(jìn)口陶氏反滲透膜和陶氏樹脂，保證產(chǎn)水水質(zhì)進(jìn)水要求
更新時(shí)間:2025-09-26
日立發(fā)布的200kv球差校正透射電鏡hf5000，具有高穩(wěn)定冷場發(fā)射電子槍，自動(dòng)球差校正器，可一鍵操作實(shí)現(xiàn)自動(dòng)球差校正，haadf-stem分辨率可以達(dá)到0.78埃；可配置eds雙探頭，固體角最大可達(dá)2.0sr；具備tem、stem，sem和電子衍射等多種圖像觀測模式；鏡筒和樣品臺(tái)經(jīng)過了重新設(shè)計(jì)，顯著提升了儀器的性能和穩(wěn)定性......hf5000將是材料學(xué)、生命科學(xué)、半導(dǎo)體制造、石油煤炭等研究領(lǐng)域的可靠助手。
更新時(shí)間:2025-09-26
日立新一代全數(shù)字化120kv透射電子顯微鏡ht7800，屬于日立瑠璃系列產(chǎn)品ruli tem，操作的一體化和自動(dòng)化程度都有明顯提高。ht7800系列產(chǎn)品有兩個(gè)型號(hào)ht7800和ht7830。
更新時(shí)間:2025-09-26
“tm4000”和“tm4000plus”可簡化從樣品觀察、圖像確認(rèn)到生成報(bào)告等一系列操作過程，大幅提高了工作效率。還標(biāo)配了報(bào)告生成功能，觀察結(jié)束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成microsoft®word®、excel®、powerpoint®格式的報(bào)告。此外，選配項(xiàng)還可實(shí)現(xiàn)更多功能。可在樣品倉內(nèi)加裝光學(xué)相機(jī)來拍攝照片，以往通過經(jīng)驗(yàn)尋找目標(biāo)位置*1，現(xiàn)在可在顯示屏上直接操作。在拍攝sem圖像時(shí)，由于“tm4000”和“tm4000plus”配置雙軸馬達(dá)臺(tái)*2，原來需手動(dòng)調(diào)整的操作，現(xiàn)在只需在顯示器上選擇要觀察的位置即可。
更新時(shí)間:2025-09-26
此次推出的su7000采用全新設(shè)計(jì)的探測器，使得對(duì)二次電子信號(hào)、背散射電子信號(hào)的檢測以及分離能力大大提升。以前我們要根據(jù)不同的觀察信號(hào)來調(diào)整樣品與透鏡之間的距離（工作距離／以下簡稱wd），以獲得最佳的觀察與分析條件，而su7000通過新研發(fā)的樣品倉以及檢測器系統(tǒng)，可在同樣的wd的條件下更高效地接收各種信號(hào)，縮短了樣品觀察和分析的時(shí)間，提高了測試效率！《遥瑂u7000還配置了可同時(shí)6通道顯示界面（前代機(jī)型只能同時(shí)顯示4通道），進(jìn)一步升級(jí)電鏡控制系統(tǒng)，大幅提高了信號(hào)獲取速度，由此實(shí)現(xiàn)了樣品的高效率觀察。它還標(biāo)配超大樣品倉，增設(shè)了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析
更新時(shí)間:2025-09-26
可搭載的最 大樣品尺寸：“su3800” 標(biāo)配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉，可應(yīng)對(duì)最 大高度為80mm、重量為2kg的樣品。 “su3900”作為日立高新技術(shù)的大型掃描電鏡，標(biāo)配可搭載最 大直徑300mm樣品的樣品倉，可應(yīng)對(duì)最 大高度為130mm、重量為5kg(比前代機(jī)型提高2.5倍*2)的樣品
更新時(shí)間:2025-09-26
在以納米技術(shù)和生物技術(shù)為主的產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域里，從物質(zhì)的微細(xì)結(jié)構(gòu)到組成成分，sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應(yīng)用。sem用途日益擴(kuò)大，但對(duì)于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車零配件等超大/超重樣品，由于電鏡樣品臺(tái)能對(duì)應(yīng)的樣品尺寸和重量受到限制，所以觀察時(shí)需要進(jìn)行切割等加工。因此，對(duì)超大樣品不施以加工處理，便可直接觀察表面微細(xì)形貌和進(jìn)行各種分析則成為重要的課題。
更新時(shí)間:2025-09-26
"regulus系列"是日立高新技術(shù)的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續(xù)機(jī)型開發(fā)的 "regulus8100" 以及su8200系列的升級(jí) "regulus8220" "regulus8230" "regulus8240"，共4個(gè)機(jī)型，均實(shí)現(xiàn)了分辨率和操作性的強(qiáng)化。
更新時(shí)間:2025-09-26
日立高新技術(shù)公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發(fā)售的肖特基式場發(fā)射掃描電子顯微鏡"su5000"，搭載了全新的用戶界面和"em wizard"，無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。
更新時(shí)間:2025-09-26
最新產(chǎn)品
- 日本Magnescale（原SONY）直線標(biāo)尺器_磁柵尺 2025/10/5 2:26:11
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- 日本Magnescale（原SONY）直線標(biāo)尺器_磁柵尺 2025/10/5 2:22:19
- 日本Magnescale（原SONY）直線標(biāo)尺器_磁柵尺 2025/10/5 2:21:47
- 日本Magnescale（原SONY）直線標(biāo)尺器_磁柵尺 2025/10/5 2:21:15
- 日本Magnescale（原SONY）直線標(biāo)尺器_磁柵尺 2025/10/5 2:20:06
- 日本Magnescale（原SONY）直線標(biāo)尺器_磁柵尺 2025/10/5 2:19:26
- 日本Magnescale（原SONY）直線標(biāo)尺器_磁柵尺 2025/10/5 2:18:44
- 日本Magnescale（原SONY）直線標(biāo)尺器_磁柵尺 2025/10/5 2:17:41
- 日本Magnescale（原SONY）直線標(biāo)尺器_磁柵尺 2025/10/5 2:13:49
- 日本Magnescale（原SONY）直線標(biāo)尺器_磁柵尺 2025/10/5 2:03:24
- 日本Magnescale（原SONY）直線標(biāo)尺器_磁柵尺 2025/10/5 2:02:25
- 日本Magnescale（原SONY）直線標(biāo)尺器_磁柵尺 2025/10/5 2:01:37
- 日本Magnescale（原SONY）直線標(biāo)尺器_磁柵尺 2025/10/5 2:00:33
- 日本Magnescale（原SONY）直線標(biāo)尺器_磁柵尺 2025/10/5 1:59:42
- 日本Magnescale（原SONY）直線標(biāo)尺器_磁柵尺 2025/10/5 1:58:56
- 日本Magnescale（原SONY）直線標(biāo)尺器_磁柵尺 2025/10/5 1:58:10
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- 日本Magnescale（原SONY）直線標(biāo)尺器_磁柵尺 2025/10/5 1:56:17
- 日本Magnescale（原SONY）直線標(biāo)尺器_磁柵尺 2025/10/5 1:55:41
- 日本Magnescale（原SONY）直線標(biāo)尺器_磁柵尺 2025/10/5 1:54:22
- 日本Magnescale（原SONY）直線標(biāo)尺器_磁柵尺 2025/10/5 1:53:33
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- 日本Magnescale（原SONY）直線標(biāo)尺器_磁柵尺 2025/10/5 1:51:52
- 日本Magnescale（原SONY）直線標(biāo)尺器_磁柵尺 2025/10/5 1:50:59
- 日本Magnescale（原SONY）直線標(biāo)尺器_磁柵尺 2025/10/5 1:50:11