場發(fā)射掃描電鏡產(chǎn)品及廠家
德國zeiss場發(fā)射電子顯微鏡sigma 300 ，專利gemini鏡筒，超高的束流穩(wěn)定性， 卓越的低電壓性能，in lens 探測器，磁性材料高分辨觀察。
更新時(shí)間:2025-08-19
thermo scientific helios 5 d ualbeam 產(chǎn)品系列憑借其最先進(jìn)的聚焦離子束和電子束性能、專有軟件、自動(dòng)化和易用性特征，重新定義了樣品制備和三維表征的標(biāo)準(zhǔn)。
更新時(shí)間:2025-08-19
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更新時(shí)間:2025-08-19
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更新時(shí)間:2025-08-19
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更新時(shí)間:2025-08-19
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更新時(shí)間:2025-08-19
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更新時(shí)間:2025-08-19
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更新時(shí)間:2025-08-19
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更新時(shí)間:2025-08-19
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更新時(shí)間:2025-08-19
tima3 lmu/lmh feg是一款基于場發(fā)射掃描電子顯微鏡設(shè)計(jì)的集成式礦物分析專家，適用于采礦和礦物處理行業(yè)的應(yīng)用。tescan的獨(dú)特技術(shù)是基于一個(gè)完全集成的edx系統(tǒng)，能以非？斓乃俣葓(zhí)行全譜掃描，可用于礦石特性檢測、工藝優(yōu)化、修復(fù)技術(shù)和貴金屬與稀土的尋找。sem和edx硬件的集成水平實(shí)現(xiàn)了以前所未有的采集速度完全自動(dòng)化的數(shù)據(jù)采集，并得到快速、準(zhǔn)確和可靠的結(jié)果
更新時(shí)間:2025-08-18
日本電子jsm-7100f獨(dú)特的高強(qiáng)力電子光學(xué)系統(tǒng)能保證1.2nm 的超高分辨率，能很容易地進(jìn)行納米結(jié)構(gòu)的研究。
更新時(shí)間:2025-08-18
日本電子jsm-7001f熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡（thermal field emission sem），是能夠滿足與高分辨率和易用性同樣的分析應(yīng)用需求的理想平臺(tái)。具有大型、5軸、全對中馬達(dá)驅(qū)動(dòng)自動(dòng)化樣品臺(tái),還有單動(dòng)作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑，即使在大電流和低電壓時(shí)，也具有適用于eds、wds、ebsp和cl的理想結(jié)構(gòu)的擴(kuò)充性。樣品室可處理直徑最大為 200mm的樣品。0755-3150
更新時(shí)間:2025-08-18
shnti的x-射線薄膜窗能夠?qū)崿F(xiàn)軟x-射線(如真空紫外線)的最大透射率。主要用于同步輻射x射線透射顯微成像時(shí)承載樣品。 x-射線越軟(能量越低)，穿透能力越差，所需氮化硅薄膜窗越薄。特別在“離軸”狀態(tài)工作（即薄膜與光束成一定角度）時(shí)，也需要較薄的薄膜窗口，便于x射線更好地穿透。
更新時(shí)間:2025-08-15
安捷倫8500fe-sem為研究者提供場發(fā)射掃描電鏡。這個(gè)緊湊、創(chuàng)新的系統(tǒng)優(yōu)化了低電壓成像，特別是表面高對比度，可以得到一般在更大，更昂貴的場發(fā)射顯微鏡才能得到的分辨率。8500安裝使用很方便，不需特別的場地要求，只需一個(gè)接線板。設(shè)計(jì)緊湊，為實(shí)驗(yàn)室中的研究者提供了以前只有傳統(tǒng)場發(fā)射電鏡才能得到的性能。8500經(jīng)過精心設(shè)計(jì)，可以提供持續(xù)，可重復(fù)的性能，成本是業(yè)界最低的
更新時(shí)間:2025-08-15
cube臺(tái)式掃描電鏡，適用于科研院所和高校的研究小組或企業(yè)研發(fā)中心，可對各種材料和器件表面微結(jié)構(gòu)或組織形態(tài)進(jìn)行精細(xì)觀測，接配簡易eds可快速鑒定微區(qū)化學(xué)成分。電子光學(xué)系統(tǒng)：業(yè)配置；l 鎢絲槍、放大20-200kxl 加速電壓1-30kvl 三電磁透鏡，圓錐形分析物鏡l 四孔徑可變物鏡光闌樣品臺(tái)：大行程馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)，大
更新時(shí)間:2025-08-15
cube臺(tái)式掃描電鏡，適用于科研院所和高校的研究小組或企業(yè)研發(fā)中心，可對各種材料和器件表面微結(jié)構(gòu)或組織形態(tài)進(jìn)行精細(xì)觀測，接配簡易eds可快速鑒定微區(qū)化學(xué)成分。電子光學(xué)系統(tǒng)：專業(yè)級配置；l 鎢絲槍、放大20-200kxl 加速電壓1-30kvl 三級電磁透鏡，圓錐形分析物鏡l 四孔徑可變物鏡光闌樣品臺(tái)：大行程馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)，最大
更新時(shí)間:2025-08-15
em科特（emcrafts）cube-ⅱ plus電鏡能譜一體機(jī)，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。擁有集成能譜（eds）設(shè)備的同時(shí)確保高分辨成像功能的應(yīng)用，簡便化的操作使得cube-ⅱ plus可在任何微小區(qū)域，同時(shí)實(shí)現(xiàn)納米分析與元素分析。多種顯示模式為sem-eds材料表征需求的提供人性化的幫助。測量軟件豐富多樣，可滿足您日常檢驗(yàn)研究的所有需求。
更新時(shí)間:2025-08-15
em科特（emcrafts）cube-ⅱ smart是入門微尺度分析掃描電鏡，區(qū)別于落地式掃描電鏡的笨重機(jī)身，cube-ⅱ smart占地面積小機(jī)身緊湊，僅需放在平穩(wěn)的桌面上即可操作測量，無需特殊的安裝環(huán)境。用戶還可遵照客戶服務(wù)指南來任意移動(dòng)自己的臺(tái)式sem設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-08-15
em科特（emcrafts）cube金屬夾雜物系列掃描電鏡，可根據(jù)不同的檢測需求，靈活定制自動(dòng)分析流程，保證高通量快速運(yùn)行。同時(shí)可將您所需要的樣品信息，如顆粒尺寸、形狀、長寬比等同時(shí)顯示在界面。即使是初學(xué)者也可以方便快速地獲得整個(gè)樣品中幾千甚至幾萬顆粒的信息。
更新時(shí)間:2025-08-15
genesis系列是一種高性能高分辨率的鎢燈絲掃描電鏡。新穎的設(shè)計(jì)中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內(nèi)），大大提升檢測效率。
更新時(shí)間:2025-08-15
genesis系列是一種高性能高分辨率w-sem。新穎的設(shè)計(jì)中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內(nèi)）。
更新時(shí)間:2025-08-15
genesis系列是一種高性能高分辨率w-sem。新穎的設(shè)計(jì)中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內(nèi)）。
更新時(shí)間:2025-08-15
genesis系列是一種高性能高分辨率的鎢燈絲掃描電鏡。新穎的設(shè)計(jì)中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內(nèi)），大大提升檢測效率。
更新時(shí)間:2025-08-15
veritas系列掃描電鏡擁有大樣品倉室，內(nèi)含5軸多功能電動(dòng)樣品臺(tái)，可輕松測量大尺寸的樣品。并且veritas系列的樣品倉可同時(shí)安裝了多個(gè)樣本，減少樣品來回放置時(shí)因抽真空所使用的時(shí)間，從而達(dá)到快速分析測樣的目的，有.效地提高檢測速度。
更新時(shí)間:2025-08-15
em科特（emcrafts）cube-ⅱ smart是入門微尺度分析掃描電鏡，區(qū)別于落地式掃描電鏡的笨重機(jī)身，cube-ⅱ smart占地面積小機(jī)身緊湊，僅需放在平穩(wěn)的桌面上即可操作測量，無需特殊的安裝環(huán)境。用戶還可遵照客戶服務(wù)指南來任意移動(dòng)自己的臺(tái)式sem設(shè)備。
更新時(shí)間:2025-08-15
em科特（emcrafts）cube-ⅱ桌面掃描電鏡是一款緊湊型桌面掃描電子顯微鏡。區(qū)別于傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機(jī)身，cube系列占地面積小，便攜性能好，無需特殊安裝環(huán)境，用戶可遵照客戶服務(wù)指南任意移動(dòng)sem設(shè)備，節(jié)約空間成本。
更新時(shí)間:2025-08-15
em科特（emcrafts）cube金屬夾雜物系列掃描電鏡，可根據(jù)不同的檢測需求，靈活定制自動(dòng)分析流程，保證高通量快速運(yùn)行。同時(shí)可將您所需要的樣品信息，如顆粒尺寸、形狀、長寬比等同時(shí)顯示在界面。即使是初學(xué)者也可以方便快速地獲得整個(gè)樣品中幾千甚至幾萬顆粒的信息。
更新時(shí)間:2025-08-15
cube臺(tái)式掃描電鏡，適用于科研院所和高校的研究小組或企業(yè)研發(fā)中心，可對各種材料和器件表面微結(jié)構(gòu)或組織形態(tài)進(jìn)行精細(xì)觀測，接配簡易eds可快速鑒定微區(qū)化學(xué)成分。電子光學(xué)系統(tǒng)：業(yè)配置；l 鎢絲槍、放大20-200kxl 加速電壓1-30kvl 三電磁透鏡，圓錐形分析物鏡l 四孔徑可變物鏡光闌樣品臺(tái)：大行程馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)，大
更新時(shí)間:2025-08-15
特點(diǎn)：1. 優(yōu)秀的低加速電壓成像能力，1kv分辨率可達(dá)1.3nm2. 日立專利的exb設(shè)計(jì)，不需噴鍍，可以直接觀測不導(dǎo)電樣品3. upper探頭可選擇接受二次電子像或背散射電子像4. 可以根據(jù)樣品類型和觀測要求選擇打開或關(guān)閉減速功能5. 標(biāo)配有冷指、電子槍內(nèi)置加熱器，物鏡光闌具有自清潔功能6. 儀器的烘烤維護(hù)及烘烤后的透鏡機(jī)械對中均可由用戶自行完成
更新時(shí)間:2025-08-15
臺(tái)式掃描電鏡 2013年5月7日，日立高新技術(shù)公司推出臺(tái)式掃描電鏡tm3030。 日立高新生產(chǎn)和銷售的電子顯微鏡廣泛用于各行業(yè)的研究和開發(fā)、質(zhì)量管理等，包括納米技術(shù)和生物技術(shù)領(lǐng)域。臺(tái)式顯微鏡目前在全世界范圍內(nèi)廣泛使用，主要應(yīng)用領(lǐng)域包括私營企業(yè)、政府機(jī)關(guān)、科學(xué)博物館、以及教育機(jī)構(gòu)如大學(xué)、學(xué)院、小學(xué)和初中學(xué)校。臺(tái)式
更新時(shí)間:2025-08-15
超大樣品臺(tái)（標(biāo)配，僅適用于 phenom xl）phenom xl 電鏡腔室由原來的 32 mm 擴(kuò)容為 100 mm x 100 mm，一次可容納至多 36 個(gè) 1/2 英寸樣品臺(tái)樣品最大尺寸：長 100 mm；寬 100 mm；高度 65 mm用這個(gè)樣品臺(tái)可以對各種各樣的樣品成像
更新時(shí)間:2025-08-13
設(shè)計(jì)用于冶金/金相樣品的觀察（鑲嵌在樹脂里）最大尺寸：直徑32mm；高度30mm
更新時(shí)間:2025-08-13
微型電子元器件插件是設(shè)計(jì)用來最小化制樣時(shí)間的。插件配合金相樣品杯使用。
更新時(shí)間:2025-08-13
微型電子元器件插件是設(shè)計(jì)用來最小化制樣時(shí)間的。插件配合金相樣品杯使用。
更新時(shí)間:2025-08-13
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺(tái)式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍，用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)；诟吡炼 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng)，phenom pure 的分辨率輕松達(dá)到 10 nm，同時(shí)具有全自動(dòng)操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-08-13
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺(tái)式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍，用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)；诟吡炼 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng)，phenom pure 的分辨率輕松達(dá)到 10 nm，同時(shí)具有全自動(dòng)操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-08-13
秉承飛納臺(tái)式掃描電鏡系列全自動(dòng)操作、快速成像、不噴金觀看不導(dǎo)電樣品、完全防震、性能穩(wěn)定的特點(diǎn)，荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場發(fā)射電子源臺(tái)式掃描電鏡 phenom pharos g2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場發(fā)射電子源，使用戶可以輕松獲得高分辨率圖像，分辨率優(yōu)于 1.5nm
更新時(shí)間:2025-08-13
teracube thz近場顯微鏡利用高性能太赫茲探針，結(jié)合時(shí)域泵浦探測系統(tǒng)成為thz近場系統(tǒng)可以進(jìn)行高分辨率的成像研究。teracube scientific和新的teracube scientific m2是全自動(dòng)太赫茲近場掃描系統(tǒng)，可以在光學(xué)實(shí)驗(yàn)室中運(yùn)行。
更新時(shí)間:2025-08-13
sigma是一款具有 gemini 鏡筒設(shè)計(jì)，用于成像及分析應(yīng)用的高性能熱場發(fā)射掃描電鏡。gemini 鏡筒的特點(diǎn)是高亮度肖特基場發(fā)射電子源、電子束加速器和 in-lens 二次電子探測器。在獲得高成像質(zhì)量的基礎(chǔ)上還具有良好的易用性。
更新時(shí)間:2025-08-13
日立高新技術(shù)公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發(fā)售的肖特基式場發(fā)射掃描電子顯微鏡“su5000“，搭載了全新的用戶界面和“em wizard“，無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。
更新時(shí)間:2025-08-13
日立肖特基場發(fā)射掃描電鏡此外，為一次性獲取大量信息，單次掃描像素?cái)U(kuò)展到了40,960 x 30,720（選配），是之型號的64倍。利用這一功能，可憑借一張數(shù)據(jù)圖像有效評估多處局部的細(xì)微結(jié)構(gòu)。在fe-sem的觀察和分析中，需要根據(jù)測量樣品與需求調(diào)整觀察條件。調(diào)整所需時(shí)間的長短取決于用戶的操作熟練度，這是造成數(shù)據(jù)質(zhì)量與效率差異的因素之一。此系列產(chǎn)品標(biāo)配自動(dòng)調(diào)整功能，可避免人為操作導(dǎo)
更新時(shí)間:2025-08-09
日立大型掃描電鏡近年來為了實(shí)現(xiàn)各種材料的高功能化和高性能化，需要觀察并優(yōu)化材料的微細(xì)結(jié)構(gòu)。目sem的應(yīng)用除了以往的研究開發(fā)以外，已擴(kuò)展到質(zhì)量和生產(chǎn)管理方面，使用頻率日益高漲。同時(shí)市場也對儀器的操作性能提出了更高的要求，以進(jìn)一步減輕操作人員的負(fù)擔(dān) 此次發(fā)
更新時(shí)間:2025-08-09
可根據(jù)不同樣品設(shè)置不同的觀察條件 樣品倉內(nèi)的真空度及加速電壓有多種選擇，可根據(jù)需求自行設(shè)置。簡化尋找視野、圖像拍攝、圖像確認(rèn)等一系列操作過程（選配） 在樣品倉上可選配光學(xué)相機(jī)，樣品開始觀察先拍攝樣品的整體照片，雙擊照片上的樣品，即可實(shí)現(xiàn)照片導(dǎo)航功能。
更新時(shí)間:2025-08-09
日立高新熱場式場發(fā)射掃描電鏡這次新開發(fā)的"su5000"對用戶沒有任何操作技巧上的要求，通過”em wizard“只要選擇好觀察目的就可以得到好照片。"em wizard"以人為本的設(shè)計(jì)理念使電鏡的操作性大幅上升，對于用戶來說，再也不用去討論該用什么條件進(jìn)行觀察，只要按照觀察目的選擇”表面細(xì)節(jié)觀察“或是”成分分布“等就可以自動(dòng)將適合的觀察條件設(shè)置好。除此之外，使用經(jīng)驗(yàn)豐富的操作人員也可以像往常一樣
更新時(shí)間:2025-08-09
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