光學(xué)測量儀產(chǎn)品及廠家

YY0068.1-2008檢測設(shè)備-醫(yī)用內(nèi)窺鏡光學(xué)性能檢測儀
ecr900醫(yī)用內(nèi)窺鏡光學(xué)性能檢測儀依據(jù)“yy 0068.1-2008 “醫(yī)用內(nèi)窺鏡 硬性內(nèi)窺鏡 第1部分：光學(xué)性能及測試方法”標(biāo)準(zhǔn)的測試要求，用于腹腔鏡、氣管鏡等多種常用內(nèi)窺鏡的光學(xué)性能測試。適用于內(nèi)窺鏡生產(chǎn)制造廠商對于產(chǎn)品的品控與設(shè)計驗證，檢測機(jī)構(gòu)對于內(nèi)窺鏡產(chǎn)品的質(zhì)檢和監(jiān)督，科研院所對于內(nèi)窺鏡的科學(xué)研究。
更新時間:2025-09-30
不分光紅外CO分析儀
不分光紅外co分析儀是我公司針對公共場所、工作場所的空氣中的有毒有害物質(zhì)進(jìn)行檢查的高精度儀器，儀器采用不分光紅外分析法/非分散紅外法（ndir）測量空氣中的壹氧化碳、二氧化碳濃等的濃度，具有測量精度高，使用壽命長，交叉干擾小等優(yōu)點(diǎn)，是環(huán)境監(jiān)測域，職業(yè)衛(wèi)生監(jiān)測域的必備儀器
更新時間:2025-09-30
絕緣護(hù)套測量投影儀，電纜外被測量投影儀，300測量投影儀
絕緣護(hù)套測量投影儀，電纜外被測量投影儀，300測量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計量檢定部門的計量室、試驗室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時間:2025-09-30
電線電纜測量投影儀，絕緣護(hù)套測量儀
電線電纜測量投影儀，絕緣護(hù)套測量儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計量儀器，適用于以二坐標(biāo)測量為目的的一切應(yīng)用領(lǐng)域,機(jī)械、電子、儀表、塑膠等行業(yè)廣泛使用，符合gb/t2951.1《電纜絕緣和護(hù)套材料通用方法》標(biāo)準(zhǔn)要求。
更新時間:2025-09-30
最新線纜絕緣層測量投影儀價格，電纜外被厚度測量投影儀性能介紹，絕緣護(hù)套輪廓測試投影儀哪家好
絕緣護(hù)套測量投影儀，電纜外被測量投影儀，300測量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計量檢定部門的計量室、試驗室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時間:2025-09-30
測量數(shù)顯投影儀
電線電纜測量數(shù)顯投影儀的詳細(xì)描述： 電線電纜測量數(shù)顯投影儀主要技術(shù)參數(shù)： 1）電線電纜測量數(shù)顯投影儀投影屏面徑：￠300mm，內(nèi)刻式米字線，永不磨損。 2）電線電纜測量數(shù)顯投影儀旋轉(zhuǎn)角度數(shù)顯顯示值：0.01°或者1′
更新時間:2025-09-30
低倍測量投影儀，線纜光學(xué)投影儀，數(shù)字式電纜測量投影儀
低倍測量投影儀，線纜光學(xué)投影儀，數(shù)字式電纜測量投影儀被測工件y置于工作臺上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實(shí)像y′(倒像)并經(jīng)光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。
更新時間:2025-09-30
線纜檢測測量投影儀，工件輪廓測量投影儀，線纜投影儀的參數(shù)
線纜檢測用投影儀，輪廓檢測投影儀，絕緣護(hù)套檢測投影儀被測工件y置于工作臺上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實(shí)像y′(倒像)并經(jīng)光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。
更新時間:2025-09-30
輪廓測量投影儀批發(fā)，電線電纜廠用投影儀，低價電纜外被測量投影儀
輪廓測量投影儀批發(fā)，電線電纜廠用投影儀，低價電纜外被測量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計量檢定部門的計量室、試驗室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時間:2025-09-30
輪廓測量投影儀參數(shù)，哪里有測量線纜絕緣層投影儀，優(yōu)惠的測量投影儀
輪廓測量投影儀參數(shù)，哪里有測量線纜絕緣層投影儀，優(yōu)惠的測量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計量檢定部門的計量室、試驗室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時間:2025-09-30
內(nèi)窺鏡供給裝置 冷光源YY 1081—2011標(biāo)準(zhǔn)檢測儀
1、滿足標(biāo)準(zhǔn)：《yy 1081—2011醫(yī)用內(nèi)窺鏡 內(nèi)窺鏡供給裝置 冷光源》；2、設(shè)備用途：內(nèi)窺鏡供給裝置冷光源檢測。
更新時間:2025-09-30
供應(yīng)陜西氣腹機(jī)綜合性能檢測裝置YY0843-2011標(biāo)準(zhǔn)檢測設(shè)備
滿足標(biāo)準(zhǔn)：這是一款根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)yy0843-2011研發(fā)生產(chǎn)的一款用于測試氣腹機(jī)氣壓、流量、顯示耗氣量準(zhǔn)確性等性能的標(biāo)準(zhǔn)檢測設(shè)備。
更新時間:2025-09-30
牙科復(fù)合樹脂材料磨耗性能檢測裝置YY/T 0113標(biāo)準(zhǔn)測試儀
滿足標(biāo)準(zhǔn)：該設(shè)備是根據(jù)yy/t 0113《牙科學(xué) 復(fù)合樹脂耐磨耗性能測試方法》標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計的。設(shè)備用途：用于檢測牙科復(fù)合樹脂材料的磨耗性能。
更新時間:2025-09-30
YY0068.1-2008標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)內(nèi)窺鏡視場角 視向角測試儀
該設(shè)備是對醫(yī)用內(nèi)窺鏡光學(xué)性能進(jìn)行檢測的設(shè)備，是西安信捷依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)《yy 0068.1—2008》研發(fā)設(shè)計生產(chǎn)的。
更新時間:2025-09-30
YY 0068.1標(biāo)準(zhǔn)硬性醫(yī)用內(nèi)窺鏡光學(xué)性能測試方法
該設(shè)備是依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)yy 0068.1—2008研發(fā)設(shè)計的。主要是用于檢測醫(yī)用內(nèi)窺鏡光學(xué)性能。
更新時間:2025-09-30
YY0763-2009標(biāo)準(zhǔn)醫(yī)用內(nèi)窺鏡檢測裝置供應(yīng)商
yy0763標(biāo)準(zhǔn)醫(yī)用內(nèi)窺鏡檢測裝置的檢測功能：1.內(nèi)窺鏡光纜出光角測試2.光譜透過率測定3.光能傳遞效率測定4.扭轉(zhuǎn)試驗5.短暫壓扁試驗6.拉伸試驗
更新時間:2025-09-30
GB/T 20145標(biāo)準(zhǔn)燈和燈系統(tǒng)光生物安全檢測設(shè)備
燈和燈系統(tǒng)光生物安全檢測設(shè)備是西安信捷智能檢測科技有限公司依據(jù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)《iec 62471:2006 燈和燈系統(tǒng)的光生物安全性》和《gb/t 20145-2006 燈和燈系統(tǒng)的光生物安全性》研發(fā)設(shè)計的。
更新時間:2025-09-30
紫外差分煙氣分析儀
gr-3028型紫外煙氣綜合分析儀（以下簡稱分析儀）以紫外差分吸收光譜技術(shù)為核心的新型產(chǎn)品，主要用于排氣管道中有害氣體成分的測量，廣泛應(yīng)用于環(huán)境監(jiān)測以及熱工參數(shù)測量等部門。該分析儀性能指標(biāo)均符合國家環(huán)保局頒布的煙氣測試儀的有關(guān)規(guī)定。采用紫外差分吸收光譜技術(shù)和化學(xué)計量學(xué)算法測量so2/no/no2/o2/co/co2等氣體的濃度，不受煙氣中水蒸氣影響，具有較高
更新時間:2025-09-30
新到二手尼康Nikon投影機(jī) V-12B 8成新尼康光學(xué)投影儀
新到多臺尼康投影儀，成色新，精度高，穩(wěn)定性強(qiáng)，大小行程齊全，歡迎來電咨詢
更新時間:2025-09-29
東莞長安影像式刀具測量儀*刀具預(yù)調(diào)儀*光學(xué)刀具檢測儀 廠家直接供應(yīng)
東莞長安影像式刀具測量儀*刀具預(yù)調(diào)儀*光學(xué)刀具檢測儀 廠家直接供應(yīng)，負(fù)責(zé)安裝，調(diào)試，培訓(xùn)，質(zhì)保12個月，歡迎咨詢。
更新時間:2025-09-29
布魯克Bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 contour x, 滿足微納米表面測量需要
更新時間:2025-09-29
布魯克Bruker 三維光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker contourx-200 三維光學(xué)輪廓儀，靈活的臺式表面形貌測量設(shè)備
更新時間:2025-09-29
布魯克臺階儀-探針式表面輪廓儀
布魯克 dektakxt 臺階儀（探針式表面輪廓儀）設(shè)計創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性高達(dá) 5å。第十代 dektakxt臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)域。
更新時間:2025-09-29
德國Optosol 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀
德國optosol r1 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀，用于測量管狀或平面太陽能吸收涂層的定向熱發(fā)射度，其基礎(chǔ)是測量來自擴(kuò)展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
更新時間:2025-09-29
德Optosol太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀
德optosol-k3 太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀，k3型發(fā)射率檢測儀由一個被加熱到70℃的發(fā)光體（作為熱輻射源）和三個對波長在8-14μm范圍的光線敏感的探測器組成。 來自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內(nèi)。檢測器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測量的是由樣品反射回來的輻射。
更新時間:2025-09-29
德國Optosol 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀
optosol absorber control k1 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀，
更新時間:2025-09-29
美國OAI標(biāo)準(zhǔn)太陽能模擬器
trisol aaa美國oai標(biāo)準(zhǔn)太陽能模擬器，低成本，標(biāo)準(zhǔn)太陽模擬器提供高度準(zhǔn)直，均勻的光，幾乎任何材料或產(chǎn)品暴露在陽光下長時間或短時間的基本測試。根據(jù)配置，這些太陽能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
更新時間:2025-09-29
美國OAI太陽能模擬器
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國oai太陽能模擬器，這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽模擬器可以提供一個范圍的空氣質(zhì)量過濾器復(fù)制太陽能模擬太陽的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術(shù)可以使一個廣泛的接觸區(qū)域。
更新時間:2025-09-29
美國 D&S 發(fā)射率測量儀
美國 d&s 發(fā)射率測量儀 ae1/rd1，是專門針對測量物體的輻射率設(shè)計的，ae1測量樣品最小直徑為2.25英寸（5.7cm）。可選附件ae-ad1和ae-ad3探測頭能使測量樣品最小直徑為1.0英（2.54cm），可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對小直徑圓柱形面樣品測量，可以測量平行放置的多個樣品。
更新時間:2025-09-29
美國SONIX 晶圓檢測設(shè)備
美國sonix 晶圓檢測設(shè)備 autowafe pro.為全自動晶圓檢測設(shè)計的機(jī)型，主要應(yīng)用在bond wafer，mems 內(nèi)部空洞、離層檢測，tsv量測方面。
更新時間:2025-09-29
美國泰克TEK Keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
美國泰克tek keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀4200a-scs ，加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內(nèi)領(lǐng)先性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測量。
更新時間:2025-09-29
瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ，非常智能地聯(lián)合了原子力顯微鏡的核心部件來實(shí)現(xiàn)最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎(chǔ)的設(shè)計, coreafm非常合理的實(shí)現(xiàn)了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.
更新時間:2025-09-29
韓國Ecopia霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)
韓國ecopia霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)hms3000，hms5000，用于研究半導(dǎo)體材料/光電材料的電學(xué)特性，可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。
更新時間:2025-09-29
美國 MMR 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)
美國 mmr 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng) h5000，用于研究光電材料的電學(xué)特性，利用范德堡測量技術(shù)測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場三部分。
更新時間:2025-09-29
半導(dǎo)體測試探針臺
半導(dǎo)體測試探針臺kup007，emp100c，emp100b，emp50s
更新時間:2025-09-29
德國Mecwins 掃描式激光分析儀
德國mecwins 掃描式激光分析儀scala，它是用激光入射掃描樣品表面，收集反射信號得到樣品表面的三維形貌和特征。
更新時間:2025-09-29
美國NANOVEA三維表面形貌儀
美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型，是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達(dá)1m/s,采用國際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)，該儀器可用于測量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場使用。
更新時間:2025-09-29
德國YXLON 高分辨率Ｘ射線檢測設(shè)備
德國 yxlon 高分辨率ｘ射線檢測設(shè)備 y.cougar smt 平板探測器（標(biāo)配） y.cheetah 高速平板探測器（標(biāo)配）
更新時間:2025-09-29
美國Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)
美國royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動芯片分選系統(tǒng)
更新時間:2025-09-29
美國Royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)
美國royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面，側(cè)面檢測,可選配芯片轉(zhuǎn)向功能.
更新時間:2025-09-29
美國RTI自動特性圖示儀
美國rti自動特性圖示儀 mt century curve tracer，是一個性價比較高的曲線追蹤設(shè)備。最多到96個channel，提供4種型號可供客戶選擇，mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性，功率和軟件。像其他rti機(jī)型一樣，mt century系統(tǒng)的設(shè)計有與950系列的測試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時間:2025-09-29
德國Klocke Nanotech 3D納米級三維測量儀
德國klocke nanotech納米級三維測量儀3d nanofinger，是一種實(shí)用的納米精度坐標(biāo)和形貌綜合測量設(shè)備。由臺架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測量樣品外形尺寸，表面輪廓、粗糙度等，并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合，進(jìn)行在線檢測、質(zhì)量控制等。
更新時間:2025-09-29
日本A&D粒子計數(shù)器（粒度計）
日本a&d粒子計數(shù)器（粒度計）sv-1a,是使用點(diǎn)監(jiān)測的低成本替代設(shè)備,計數(shù)值高達(dá)2,000,000個粒子/ft.
更新時間:2025-09-29
美國Filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)
美國filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)f20，f30，f40，f50，f60，f3-xxt 系列，臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)
更新時間:2025-09-29
美國 SONIX 超聲波掃描顯微鏡
美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求，更復(fù)雜元器件設(shè)計的新一代設(shè)備。echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動判別缺陷,高產(chǎn)量,無需人員重復(fù)設(shè)置.
更新時間:2025-09-29
德國Bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀
德國bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀ftir -利用紅外線光譜經(jīng)傅利葉轉(zhuǎn)換進(jìn)而分析雜質(zhì)濃度的光譜分析儀器。
更新時間:2025-09-29
德國Bruker FT-NIR光譜儀
德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經(jīng)在包括制藥，食品，農(nóng)業(yè)和化學(xué)行業(yè)在內(nèi)的所有行業(yè)的質(zhì)量控制應(yīng)用中得到了很好的應(yīng)用。它為耗時的濕法化學(xué)方法和色譜技術(shù)提供了一種實(shí)用的替代方法。ft-nir無破壞性，不需要樣品制備或危險化學(xué)品，使其定量和定性分析快速可靠。
更新時間:2025-09-29
德Bruker光學(xué)輪廓儀
德bruker光學(xué)輪廓儀contorugt-表面量測系統(tǒng)-供生產(chǎn)qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學(xué)輪廓儀
更新時間:2025-09-29
德國Sentech 實(shí)時監(jiān)測儀
sentech ald實(shí)時監(jiān)測儀是一種新型的光學(xué)診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時間內(nèi)開發(fā)新工藝、實(shí)時研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時監(jiān)測儀的主要應(yīng)用。
更新時間:2025-09-29
美國OGP光學(xué)式坐標(biāo)測量儀
美國ogp光學(xué)式坐標(biāo)測量儀 zip 250 ，5:1 accucentric 電動變焦透鏡，在每次放大變倍時自動校準(zhǔn)，可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
更新時間:2025-09-29

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