光學測量儀產(chǎn)品及廠家
三豐cv-4500w4輪廓測量儀，它是在z1軸（檢出器）上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂的輪廓測量儀。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡，以實現(xiàn)高精度和高分辨力。與傳統(tǒng)型號相比，新測臂使z1軸測量范圍增大10mm同時減少工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性銜接件，單此接觸就能完成測臂的裝卸，提高了易用性。它為高精度輪廓測量儀，通用行業(yè)域中，它率先在z軸上安裝了數(shù)顯標，保證測量的高分辨率和高精度
更新時間:2025-12-15
三豐cv-4500s8輪廓測量儀，它是在z1軸（檢出器）上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂的輪廓測量儀。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡，以實現(xiàn)高精度和高分辨力。與傳統(tǒng)型號相比，新測臂使z1軸測量范圍增大10mm同時減少工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性銜接件，單此接觸就能完成測臂的裝卸，提高了易用性。它為高精度輪廓測量儀，通用行業(yè)域中，它率先在z軸上安裝了數(shù)顯標，保證測量的高分辨率和高精度
更新時間:2025-12-15
三豐cv-4500h8輪廓測量儀，它是在z1軸（檢出器）上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂的輪廓測量儀。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡，以實現(xiàn)高精度和高分辨力。與傳統(tǒng)型號相比，新測臂使z1軸測量范圍增大10mm同時減少工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性銜接件，單此接觸就能完成測臂的裝卸，提高了易用性。它為高精度輪廓測量儀，通用行業(yè)域中，它率先在z軸上安裝了數(shù)顯標，保證測量的高分辨率和高精度
更新時間:2025-12-15
三豐cv-4500w8輪廓測量儀，它是在z1軸（檢出器）上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂的輪廓測量儀。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡，以實現(xiàn)高精度和高分辨力。與傳統(tǒng)型號相比，新測臂使z1軸測量范圍增大10mm同時減少工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性銜接件，單此接觸就能完成測臂的裝卸，提高了易用性。它為高精度輪廓測量儀，通用行業(yè)域中，它率先在z軸上安裝了數(shù)顯標，保證測量的高分辨率和高精度
更新時間:2025-12-15
三豐sj-411/178-580-01表面粗糙度測量儀它配備有符合新iso,din,ansi,和jis標準的36種粗糙度評價參數(shù),個寬范圍、高分辨率的檢測器和個直接驅動元件,提供了在同類產(chǎn)中更優(yōu)越的高精度測量等。
更新時間:2025-12-15
三豐sj-411/178-580-02表面粗糙度測量儀它配備有符合新iso,din,ansi,和jis標準的36種粗糙度評價參數(shù),個寬范圍、高分辨率的檢測器和個直接驅動元件,提供了在同類產(chǎn)中更優(yōu)越的高精度測量。范圍/分辨率:800μm;0.000125μm(8μm 測量范圍)。
更新時間:2025-12-15
三豐sj-412/178-582-01表面粗糙度測量儀它配備有符合新iso,din,ansi,和jis標準的36種粗糙度評價參數(shù),個寬范圍、高分辨率的檢測器和個直接驅動元件,提供了在同類產(chǎn)中更優(yōu)越的高精度測量。范圍/分辨率:800μm;0.000125μm(8μm 測量范圍)。
更新時間:2025-12-15
三豐sj-412/178-582-02表面粗糙度測量儀它配備有符合新iso,din,ansi,和jis標準的36種粗糙度評價參數(shù),個寬范圍、高分辨率的檢測器和個直接驅動元件,提供了在同類產(chǎn)中更優(yōu)越的高精度測量等。
更新時間:2025-12-15
三豐sj-500p數(shù)據(jù)處理裝置（pc）表面粗糙度測量儀它配置高可見度7.5英寸tht lcd屏幕，彩色圖標顯示、觸控式面板，顯示目了然,操作簡單。
更新時間:2025-12-15
三豐sv-2100m4數(shù)據(jù)處理裝置（pc）表面粗糙度測量儀它顯示目了然,操作簡單。配置高可見度7.5英寸tht lcd屏幕，彩色圖標顯示、觸控式面板，顯示更清晰，操作更簡單。
更新時間:2025-12-15
三豐sv-3000cnc超表面粗糙度測量儀它能夠出色適用在檢測室、加工車間、生產(chǎn)現(xiàn)場等場合。超表面粗糙度測量儀sv-3000cnc（帶可移動y軸立柱裝置的cnc表面粗糙度測量儀）可測量發(fā)動機組、機軸等大型/重型工件。它通過可選的外部控制功能（外部i/o），可以實現(xiàn)plc（可編程控制器）雙向通訊（rs-232c）。
更新時間:2025-12-15
三豐sv-m3000cnc超表面粗糙度測量儀它能夠出色適用在檢測室、加工車間、生產(chǎn)現(xiàn)場等場合。其所有連接電纜均納入測量儀器，以消除測量過程中的不便之處，它通過可選的外部控制功能（外部i/o），可以實現(xiàn)plc（可編程控制器）雙向通訊（rs-232c）。
更新時間:2025-12-15
三豐cv-3200s4輪廓測量儀，它是在z1軸（檢出器）上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂的輪廓測量儀。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡，以實現(xiàn)高精度和高分辨力。與傳統(tǒng)型號相比，新測臂使z1軸測量范圍增大了10mm同時減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性銜接件，單此接觸就能完成測臂的裝卸，提高了易用性。
更新時間:2025-12-15
三豐cv-3200h4輪廓測量儀，它是在z1軸（檢出器）上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂的輪廓測量儀。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡，以實現(xiàn)高精度和高分辨力。與傳統(tǒng)型號相比，新測臂使z1軸測量范圍增大了10mm同時減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性銜接件，單此接觸就能完成測臂的裝卸，提高了易用性。
更新時間:2025-12-15
三豐cv-3200w4輪廓測量儀，它是在z1軸（檢出器）上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂的輪廓測量儀。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡，以實現(xiàn)高精度和高分辨力。與傳統(tǒng)型號相比，新測臂使z1軸測量范圍增大了10mm同時減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性銜接件，單此接觸就能完成測臂的裝卸，提高了易用性。
更新時間:2025-12-15
oms2材料物理光學屬性brdf測量儀，用于測量光學材料表面brdf光學屬性以及材料體光學屬性，測量出的數(shù)據(jù)經(jīng)過oms2數(shù)據(jù)處理軟件的擬合，得出.brdf格式的文件，這些文件都攜帶了材料的表面光學屬性和體光學屬性。這些數(shù)據(jù)文件可在oms2支
更新時間:2025-12-15
供應天然花崗石平板，1000*750mm ，測高儀專用測量平臺具有精度高、不生銹、耐酸堿、不磁化、不變型、耐磨性好等優(yōu)點。能在重負荷及般溫度下保持穩(wěn)定。我公司生產(chǎn)的大理石平板精密量具，采用優(yōu)質天然大理石平板料經(jīng)機械加工，手工精研而成。
更新時間:2025-12-15
beamwatch integrated自動激光測量儀用于自動化制造的光束表征系統(tǒng) 實時自動測量激光功率、焦散和焦點偏移支持單模激光器全自動操作帶有好/壞信號的趨勢分析帶有時間戳的詳細報告無需更改測量系統(tǒng)即可使用不同類型的焊頭堅固耐用，適用于工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境輪班操作中頻繁測量的短測量時間
更新時間:2025-12-15
公司于高速智能制造，從事光學精密測量儀器及視覺檢測領域的技術研發(fā)、設備制造和工程實施。業(yè)務涵蓋新能源，電動汽車、半導體/led、智能家居、電子產(chǎn)品、精密五金模具等領域，提供精密制造測量儀器及視覺檢測設備、機器人等智能裝備整體解決方案提供商
更新時間:2025-12-15
nir100近紅外光譜儀nir100紅外光譜儀具有高靈敏度和緊湊型設計 ，可在780-1700 nm光譜范圍內(nèi)與多種光源配合使用。其精密工程設計、無移 動部件以及非制冷線性ingaas傳感器的特點 ，使其成為各種光譜應用的理想選擇 ，且無需長期信號存儲。
更新時間:2025-12-15
cobra-s 800 超高速光譜儀產(chǎn)品應用皮膚科眼前節(jié)成像亞表面材料檢查血管造影測振實時3d成像
更新時間:2025-12-15
fs70l-th 用于半導體檢測顯微鏡 (1x管鏡頭 tv接口激光)應用：切割、修整、校正、 給半導體電路做標記薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(校正錯誤)。還可用作光學觀察剖面圖以便探針分析半導體故障。? 可用于紅外光學系統(tǒng)*。
更新時間:2025-12-15
int10-m邁克爾遜 plx 單片干涉儀(中紅外 ftir 光譜儀組件)產(chǎn)品應用中紅外光譜分析儀
更新時間:2025-12-15
bladecam2-hr-1310 cmos基礎型光斑分析儀相機 355-1350nm 產(chǎn)品應用連續(xù)激光的光束分析激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試光學組裝和儀器校準光束漂移和記錄使用 m2du 平臺測量 m?
更新時間:2025-12-15
snake 是新一代的vga格式的ingaas近紅外相機，具有即插即用能力。工作在900-1700nm的swir光譜范圍，該紅外相機具有出色的性能，在靈敏度，噪聲，暗電流和操作方便性都具有非常高的優(yōu)勢。該相機提供了oem版本，集成模塊化接口設計，易于集成于用戶的系統(tǒng)中，同時可提供數(shù)據(jù)處理能力？蓱糜诟吖庾V儀器，激光束分析，半導體檢測，生物醫(yī)學研究和國防等。
更新時間:2025-12-15
asp-75微型高精度光譜儀占地面積小，重量為300克。該設計的簡單性允許將寬光譜范圍和高分辨率與超過緊湊尺寸相結合。asp-75微型高精度光譜儀可用于各種空間要求苛刻的應用，也可用于任何設備的oem集成。該裝置具有特殊的光纖輸入和光譜狹縫，光纖狹縫的大小由探測器調節(jié)。它允許測量自由空間或光纖信號而無需任何重新對準。但是，由于光纖中信號調制和隨后的頻譜失真，不建議使用光纖測量飛秒激光的頻譜。
更新時間:2025-12-15
thz，太赫茲，近場探針，太赫探測，thz near-field optical probe，太赫茲近場探測，太赫茲近場探針，thz近場探測，thz探針，thz近場探針
更新時間:2025-12-15
從當下主流的機械硬盤，到未來的磁性存儲單元，磁滯回線測量都是評估薄膜性質的重要手段。 相較于電學霍爾測量和震動磁強計，光磁克爾效應具有測量速度快，精度高，非侵入，且不需要對樣品進行加工或切
更新時間:2025-12-15
半球發(fā)射率測量儀ae1 rd1是用于測量發(fā)射率的用儀器。低溫加熱被測樣品，儀器通過探測器接受樣品材料表面輻射出來的紅外能量后換算出發(fā)射率，根據(jù)設定的標準體發(fā)射率準參數(shù)，計算并讀出被測樣品發(fā)射率。
更新時間:2025-12-15
半球發(fā)射率測量儀ae1 rd1是用于測量發(fā)射率的用儀器。低溫加熱被測樣品，儀器通過探測器接受樣品材料表面輻射出來的紅外能量后換算出發(fā)射率，根據(jù)設定的標準體發(fā)射率準參數(shù)，計算并讀出被測樣品發(fā)射率。
更新時間:2025-12-15
半球發(fā)射率測量儀ae1 rd1是用于測量發(fā)射率的用儀器。低溫加熱被測樣品，儀器通過探測器接受樣品材料表面輻射出來的紅外能量后換算出發(fā)射率，根據(jù)設定的標準體發(fā)射率準參數(shù)，計算并讀出被測樣品發(fā)射率。
更新時間:2025-12-15
半球發(fā)射率測量儀 ae1/ rd1 是用于測量發(fā)射率的專用儀器。符合《astm c1371》、《jg_t 235-2014 建筑反射隔熱涂料》、《gbt 25261-2010 建筑用反射隔熱涂料》等國家標準，是建筑涂料行業(yè)，新能源材料研究，航空航天材料研發(fā)檢測的必需品。
更新時間:2025-12-15
qf 系列高溫黑體校準源覆蓋 100℃ 至 1500℃ 溫度范圍，采用 25.4mm 孔徑封閉管腔設計。qf-1500 黑體校準源硅鉬棒便于更換，維護便捷的特點使其適用于實驗室及工業(yè)領域的高溫校準需求。
更新時間:2025-12-15
t-r系列專為低溫至105攝氏度的市場設計，其溫度范圍甚至可低于零下70攝氏度。該系列的高精度和易用性使其成為實驗室和工業(yè)應用中理想的溫度校準工具。
更新時間:2025-12-15
sw-dt-r 系列低溫黑體校準源覆蓋-30°c至150°c寬廣溫區(qū)，為低溫至中溫校準場景提供支持。
更新時間:2025-12-15
hy-ms系列超精密面源黑體可輸出標準紅外輻射，為紅外成像器的地面輻射定標試驗與性能測試提供穩(wěn)定基準。該系列采用tec溫度驅動方式，搭配自主研發(fā)的溫度控制系統(tǒng)，實現(xiàn)寬溫范圍內(nèi)的精確調控。憑借高發(fā)射率、高均勻性與高控溫精度的特性，hy-ms 系列超精密面源黑體能夠滿足實驗室、外場等多種場景下，紅外成像器輻射定標與非均勻性校正的應用需求。
更新時間:2025-12-15
hy-mq系列高溫面源黑體作為一直高輻射強度的參考源，設備支持環(huán)境溫度+5℃~550℃的絕對溫度調節(jié)，輻射面具備高均勻度與高發(fā)射率特點，溫度分辨率達0.01k，且能在20℃~70℃的環(huán)境下穩(wěn)定運行，廣泛應用于紅外傳感器如輻射溫度計、紅外熱像儀的校準以及樣品輻射率或透過率的測量。
更新時間:2025-12-15
hy-mh系列中溫面源黑體采用薄膜型加熱器件驅動溫度，搭配自主研發(fā)的溫度控制系統(tǒng)，實現(xiàn)寬溫范圍的精確調控。該設備兼具高均勻性、高發(fā)射率、高集成度與標準化程度，采購成本更具優(yōu)勢，適用于實驗室與外場等多種場景下的紅外成像器輻射定標及非均勻性校正工作。
更新時間:2025-12-15
hy-ml系列超低溫面源黑體為真空環(huán)境適用的面源黑體產(chǎn)品，其溫度控制采用薄膜型加熱器件，主動降溫則通過液氮或低溫循環(huán)氦氣實現(xiàn)。搭配自主研發(fā)的溫度控制系統(tǒng)后，能夠在較寬的溫度區(qū)間內(nèi)(150k~450k,低溫均可擴展至40k)實現(xiàn)調控。該面源黑體具有溫度均勻性好、發(fā)射率高的特點，同時集成化與標準化程度較高，可應用于實驗室及真空低溫環(huán)境下紅外成像器的輻射定標和非均勻性校正工作。
更新時間:2025-12-15
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